ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ
СОЮЗА ССР
МАТЕРИАЛЫ ОПТИЧЕСКИЕ
МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПУЗЫРНОСТИ
Издание официальное
БЗ 12-97
ИПК ИЗДАТЕЛЬСТВО СТАНДАРТОВ
Москва
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
М
ГОСТ
3522-81
Метод определения пузырности
Optical glass. Method for determination of bubbles
ОКСТУ 4409
Дата введения 01.01.82
Настоящий стандарт распространяется на оптические неорганические материалы: бесцветные, цветные и кварцевые стекла, стекла с особыми свойствами, кристаллы и оптическую керамику в заготовках, деталях и в виде сырьевого материала
ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ
Метод определения пузырности заключается в просмотре оптических материалов при направленном освещении на темном фоне и определении размеров и числа имеющихся в них пузырей.
Пузырность оптического материала оценивается категорией (диаметром наибольшего пузыря в заготовке), классом (средним числом пузырей в единице массы или объема сырьевого материала), средним числом пузырей определенного размера по ГОСТ 23136 или суммарной площадью сечений пузырей, содержащихся в единице объема материала.
Диаметр пузыря определяют визуально путем сравнения с пузырями в контрольных образцах либо с помощью микроскопа, лупы или измерительной трубки.
ІтЗ.І. За диаметр пузыря неправильной формы принимают размер, полученный как среднее арифметическое результатов измерений наибольшей и наименьшей осей.
Определение размеров и числа включений (камни, кристаллы, головки свилей, платина и др.), если они приравниваются к пузырям в соответствии с техническими условиями на материал, производят по настоящему стандарту.
ТРЕБОВАНИЯ К ОБРАЗЦАМ
Образцы — заготовки, детали, полуфабрикаты (куски, пластины, прессовки, нарезки, листы и т. п.), предназначенные для определения категории пузырности, в зависимости от диаметра допускаемого наибольшего пузыря, и материала должны соответствовать требованиям, указанным в табл.1.
П
Издание официальное
ерепечатка воспрещена©Издательство стандартов, 1981 ©ИПК Издательство стандартов, 1998 Переиздание с Изменениями
2-1109Т а б л и ц а 1
|
Диаметр пузыря, мм |
Материал |
Размер образца, мм |
Качество поверхности, через которую ведут просмотр или подсветку |
|
До 0,1 включ. Св. 0,1 до 10,0 |
Стекло |
До 50 включ. Св. 50 Не ограничен |
Поверхность раскола или полированная поверхность Полированная поверхность Поверхность после литья, вытягивания, проката. Шлифованная или прессованная поверхность, смоченная иммерсионной жидкостью. Поверхность, полированная при показателе преломления п>1,65 или поверхность раскола |
|
От 0,05 до 0,2 включ. |
Кристаллы, кро- ме стержневых |
До 50 включ. |
Поверхность раскола |
|
Св. 50 |
Полированная поверхность |
||
|
Стержневые кристаллы |
До 100 включ. |
Боковые поверхности — шлифованные, торцевые — полированные поверхности |
|
|
Св. 100 |
Все поверхности полированные |
||
|
Св. 0,2 до 4,0 включ. |
Кристаллы |
До 300 включ. |
Поверхность раскола или шлифованная поверхность |
|
Св. 300 |
Полированная поверхность |
||
|
От 1,0 до 3,0 включ. |
Оптическая керамика |
Не ограничен |
Полированная или шлифованная поверхность, смоченная иммерсионной жидкостью |
Образцы (проба, заготовки, детали), предназначенные для определения класса пузырнос- ти, должны быть отобраны от сырьевого оптического материала перед его разделкой на заготовки или от партии заготовок (деталей) техническим контролем предприятия-изготовителя в количестве и по схеме, установленной технической документацией на материал.
Образцы, предназначенные для определения числа пузырей диаметром не менее 0,5 мм, должны соответствовать требованиям, указанным в табл. 2.
Таблица 2
|
Материал |
Форма образца |
Объем, СМ3 |
Диаметр или сторона, мм |
Качество поверхности, через которую ведут просмотр или подсветку |
|
Стекло |
Куски по форме, близкой к кубу |
160-180 |
Не ограничен |
Поверхность раскола |
|
Куски с двумя противоположно- обработанными сторонами |
Не менее 120 |
Не ограничен |
Полированная поверхность |
|
|
Пластины, отрезанные от листа, плитки, бруса |
— |
100x100; толщина, равная толщине пластины |
Поверхность после литья, проката, вытягивания или полированная поверхность |
Продолжение табл. 2
|
Материал |
Форма образца |
Объем, см3 |
Диаметр или сторона, мм |
Качество поверхности, через которую ведут просмотр или подсветку |
|
|
Кристаллы |
Заготовки, пластины, отрезанные от кристалла |
— |
До 100 |
Поверхность раскола. Полированные торцевые и шлифованные боковые поверхности Полированная поверхность |
|
|
От 100 до 300 включ. |
Поверхность раскола (распила) |
||||
|
Св. 300 |
Полированная поверхность |
||||
|
Оптическая керамика |
Заготовки |
По чертежу заказчика |
Полированная поверхность |
||
Образцы, предназначенные для определения числа пузырей диаметром менее 0,5 мм в оптических стеклах, должны соотвествовать требованиям, указанным в табл. 3
Таблица 3
|
Пузырность, шт/кг |
Форма образца |
Размер образца |
Качество поверхности, через которую ведут просмотр или подсветку |
|
|
Площадь, мм2 |
Толщина листа, блока, мм |
|||
|
Менее 100 |
По табл. 2 в части стекла |
|||
|
От 100 до 300 включ. Св. 300 |
Пластины |
1600 |
От 10 до 25 От 2 до 30 |
Полированная поверхность |
2.5. Среднее число пузырей диаметром менее 0,5 мм в оптических кристаллах определяют по
образцам, соответствующим требованиям табл. 2
Допускается определять среднее число пузырей в единичной массе или объеме оптического стекла непосредственно в заготовке или детали, если ее объем не менее 8000 см3:
с пузырностью до 100 шт/кг — по трем участкам, суммарный объем которых не менее 6000 см3;
с пузырностью более 100 шт/кг — по трем участкам, суммарный объем которых не менее 6000 см3;
с пузырностью более 100 шт/кг — по трем участкам, суммарный объем которых не менее 2500 см3.
Плоская поверхность большой заготовки, через которую ведут просмотр, должна быть полированной.
Толщину образцов окрашенного сырьевого оптического материала и материала, пропускающего ультрафиолетовое и инфракрасное излучение, устанавливают в зависимости от видимости пузыря в материале по ГОСТ 9411 или нормативно-технической документации, утвержденной в установленном порядке.
При определении пузырности дорогостоящих оптических материалов и материалов, варка или выращивание которых произведены в сосудах малой вместимости, допускается использование образцов уменьшенных размеров, при этом должно быть гарантировано выполнение требований заказа, для которого используют данный материал.
Качество поверхностей, указанных в табл. 2 и 3, должно соответствовать требованиям ГОСТ 2789;
полированных — Rz — не более 0,1 мкм при базовой длине 0,08 мм;
шлифованных — для оптического стекла Rz от 20 до 10 мкм при базовой длине 2,5 мм, для оптических кристаллов и оптической керамики Rz — от 80 до 40 мкм при базовой длине 8,0 мм, или требованиям, установленным на данный материал.
На каждом образце при определении класса или среднего числа пузырей определенного диаметра должны быть обозначены марка материала, номер варки, прессования, выращивания кристаллов и номер образца в соответствии со схемой отбора проб.
АППАРАТУРА, МАТЕРИАЛЫ, РЕАКТИВЫ
Определение пузырности оптических материалов проводят на установках типов, указанных в табл. 4.
Таблица 4
|
Тип установки |
Характеристика основных частей установки |
Область применения |
|
Установка с осветительной лампой |
Осветитель с лампой накаливания 500 Вт по ГОСТ 2239; реостат; конденсор диаметром 10 см; щелевая диафрагма; экран, создающий темный фон |
Контроль образцов с пузырями диаметром до 0,05 мм включ. Допускается проводить контроль образцов с пузырями любого диаметра |
|
Установка с кинопроекционной лампой |
Осветитель с кинопроекционной лампой 300 Вт; реостат; конденсор диаметром 12—15 см; щелевая диафрагма; экран, создающий темный фон |
Контроль образцов с пузырями диаметром более 0,05 мм |
|
Установка с проекцией на экран или сетчатку глаза |
Осветитель с кинопроекционной лампой 500 Вт; реостат; конденсор диаметром 8—10 см; ирисовая диафрагма; матовый стеклянный экран; объектив диаметром 6 см с фокусным расстоянием 8 см |
Контроль окрашенных образцов, пропускающих видимое излучение, с пузырями диаметром не менее 0,05 мм. |
|
Установка с электронно-оптическим преобразователем |
Осветитель с лампой накаливания 12 В, 100 Вт для оптических приборов; реостат; конденсор диаметром 8—10 см; ирисовая диафрагма; светофильтр типа КС 19 по ГОСТ 9411; электронно-оптический преобразователь с блоком питания; лупа 2,5—4х по ГОСТ 25706 |
Контроль темных образцов, пропускающих инфракрасное излучение, с пузырями диаметром не менее 0,2 мм |
|
Установка с флюоресцирующим экраном |
Осветитель с ртутной лампой сверхвысокого давления 250 Вт по ГОСТ 27682; ирисовая диафрагма; флюоресцирующий экран; лупа 2,5—4х по ГОСТ 25706 |
Контроль темных образцов, пропускающих ультрафиолетовое излучение, с пузырями диаметром не менее 0,2 мм |
|
Установка с лампой накаливания |
Осветитель с лампой накаливания ЛБ 60 Вт; экран, создающий темный фон; лупа 4х по ГОСТ 25706; микроскоп типа МБС |
Контроль образцов с пузырями диаметром более 0,1 мм |
|
Установка с микроскопом |
Осветитель типа ОИ—19 м; микроскоп типа МБС |
Контроль образцов с пузырями диаметром менее 0,1 мм (для стержневых кристаллов) |
|
Лампа 100 Вт; зеленый матовый светофильтр, микроскоп с увеличением 17х; окуляр с сеткой; столик с отсчетом перемещения в трех направлениях |
Контроль образцов с пузырями и включениями любого размера |
Продолжение табл. 4
|
Тип установки |
Характеристика основных частей установки |
Область применения |
|
Переносная установка с подсветкой |
Осветитель с лампой накаливания 12 В, 100 Вт для оптических приборов; экран, создающий темный фон |
Контроль образцов большого объема с пузырями диаметром более 0,2 мм |
|
Установка с ртутной лампой |
Осветитель с ртутной лампой сверхвысокого давления 250 Вт; ирисовая диафрагма; экран, создающий темный фон |
Контроль образцов оптического материала с включениями размером не менее 0,001 мм |
Определение пузырности допускается производить на других установках, обеспечивающих просмотр образцов в соответствии с техническими условиями на материал.
Допускается в качестве осветителя использовать лазерный источник.
При определении пузырности, кроме перечисленных установок используют следующие приборы, приспособления, реактивы, материалы:
микроскопы;
универсальную измерительную трубку;
измерительные лупы по ГОСТ 25706;
телескопические монокулярные лупы типа ТЛА или ЛПШ—474;
объект-микрометр;
окуляр-микрометр с измерительной сеткой;
весы по ГОСТ 29329;
спирто-эфирную смесь СЭ-90;
салфетки из батиста или фланели по ГОСТ 29298;
кюветы;
иммерсионные жидкости;
карандаш-стеклограф.
Для определения размеров пузырей диаметром до 10 мм включительно применяют набор контрольных образцов с пузырями, указанными в табл. 5.
Таблица 5
|
Номер контрольного образца в наборе |
Диаметр пузыря, цм |
|
|
Номин. |
Пред. откл. |
|
|
1 |
0,03 |
-0,005 |
|
2 |
0,05 |
±0,005 |
|
3 |
0,10 |
±0,01 |
|
4 |
0,20 |
±0,02 |
|
5 |
0,30 |
±0,03 |
|
6 |
0,50 |
±0,05 |
|
7 |
0,70 |
±0,07 |
|
8 |
1,00 |
±0,10 |
|
9 |
2,00 |
±0,20 |
|
10 |
3,00 |
±0,30 |
|
11 |
5,00 |
±0,50 |
|
12 |
10,00 |
±1,00 |
