* дув<ик>11 Ml ЮМ.

Ih одмиикка 5601 К? *з«


1, ^0* f й * ф

(1>

где 1'

- сила света светоизмерительной лампы, кд;


hp

- расстояние от нити образцовой светоизмерительной лампы до ствитедъной поверхности фотоелемента, м.

светочу»-




} 1 - экраны концевые; 2 - лампа образцовая светоизмерительная; 3 - экран

с диафрагмой; 4 - экраны со сменными диафрагмами; 5 - светофильтр;

в - фотоэлемент; 7 - шунт; 6 - скамья фотометрическая

Черт. 4

  1. Освещенностьв люксах, создаваемая образцовой светоизмеритель­ной лампой, должна рассчитываться не менее чем для трех расстояний от нити втой лампы до светочувствительной поверхности фотоэлемента по формуле

  2. Образцовую светоизмерительную дампу следует устанавливать на фото­метрической скамье так, чтобы концы нити накала лампы размешались симметрич­но по отношению к оси скамьи, а сама нить была перпендикулярна ай,

  3. Перед образцовой светоизмерительной лампой следует устанавливать экран с диафрагмой для устранения бликов от колбы лампы.

Фотоэлемент должен устанавливаться в зажим подвижной каретки так, чтобы рабочая поверхность его была параллельна нити какала образцовой свето­измерительной лампы

.ОСТ 1 00669-87


С, 9


  1. Между образцовой светоизмерительной пампой и фотоэлементом на фотометрической скамье должны быть установлены экраны со сменными диафраг­мами для выделении узкого пучка света и устранения отражения от окружающих предметов,

Сеч си и выучка света, прошедшего через отверстие диафрагмы, должно быть больше в 1,5-2 раза диаметра фотоэлементе^

  1. Фотоэлемент при градуировке должен устанавливаться последовательно на те расстояния от нити накала образцовой светоизмерительной лампы» для кото­рых рассчитана освещенность. Можно передвигать образцовую светоизмерительную лампу, оставляя неподвижным фотоэлемент.


3.2.11. Фототок фотоэлемента следует фиксировать микроамперметром.


3.2.12, Градуировочный коэффициент фотоэлемента ) в люксах на


ление при измерении освещенности, создаваемой светильником белого света.


де—

сле-


дует рассчитывать по формуле


(2)


М> Д0ЛМН»! ft ИЗЫ

Kf ввдяияиика 560і їй из»


где - освещенность, создаваемая образцовой светоизмерительной лампой, лк;

- число делений по шкале микроамперметра для светильника белого света.

3.2.13, При градуировке фотоэлемента для измерения освещенности, создавае­мой источником света одноцветного излучения, на фотоэлементе должен быть укреплен соответствующего цвета светофильтр с известным коэффициентом про­пускания.

Цветность светофильтра должна лежать в середине эоны, для которой проводит­


ся градуировка.


Градуировочный коэффициент фотоэлеме1 этом случае рассчитывается по формуле


где


Пн.Ц

в люксах на деление в

(3) •


- коэффициент пропускания образцового цветного светофильтра;


- число делений по шкаля микроамперметра для светильника одноцвет­


ного излучения.


3.2.14. Градуировка фотоэлемента должна проводиться с использованием двух образцовых светоизмерительных памл,











































t дув man . Ki азы.

t подлммммка 5601 Mt из»


• ■ ..1

!

і


-



ОСТ 1 00669-87 с. 10 $!

  1. « Градуировочный коэффициент фотоэлемента следует рассчитывать хак среднее арифметическое значение всех полученных при измерениях значений граду­ировочного коэффициента.

  2. . Значения градуировочных коэффициентов фотоэлемента для каждого расстояния и каждой пампы должны отличаться от среднего арифметического зна­чения яе более чем на +10 %.

  3. » Если градуировочные коэффициенты фотоэлемента отличаются от сред­него арифметического значения более чем на +10 %, необходимо или повторить градуировку, взяв для этого третью образцовую светоизмерительную лампу, или заменить фотоэлемент, или разбить диапазон освещенности на поддиапазоны, и для каждого из них определить свой градуировочный коэффициент.

  4. . Градуировка фотоэлемента должна проводиться через каждые шесть месяцев работы или хранения.

3.3. Проведение измерений освещенности

  1. Измерение освещенности, создаваемой светильником белого света, должно проводиться люксметром или фотоэлементом, отградуированным в люксах.

Для люминесцентного источника белого света показания люксметра следует умножить на поправочный коэффициент 1,15.

  1. При измерении освещенности фотоэлементом показания микроампермет­ра умножаются на градуировочный коэффициент фотоэлемента по следующим фор-























мулам:

для светильника белого света освещенность ( £f j ) в люксах

? С 4)

для светильника одноцветного излучения освещенность ( ) в люксах

fс.ц * ЛМ< ц Ц' (5)

  1. При измерении освещенности, создаваемой светильником, должен уста­навливаться белый экран. На заданной площади в плоскости экрана камер анке осве­щенности должно проводиться не менее чем на пяти участках освещаемой поверх­ности, причем в их число должны входить участки с минимальной и максимальной освещенностью.

  2. Равномерность освещения определяется как отношения минимальной освещенности к максимальной.

  1. М

    OCT 1 00669-87


    c. її


    ЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ СИЛЫ СВЕТА ИСТОЧНИКОВ СВЕТА И СВЕТИЛЬНИКОВ, ПОСТРОЕНИЕ КРИВЫХ СВ ЕТОР АСЯ РЕДЕЛЕ НИЯ
    1. Приборы и оборудование. Погрешность измерения

      1. Для измерения необходимы приборы н оборудование, указанные в пп. 3.1.1, 3.1.2.

      2. Относительная погрешность измерения сипы света должка быть не более +10 %.

      3. Перечень приборов для проведения измерений приведен В приложении {пп. 3,7-11; 13-16),

    2. Проведение измерений силы света прямым методом

  1. Д, Измерение силы света прямым методом следует проводить на установ-, хе, схема которой приведена на черт. 5.

1 — лампа сравнения; 2 - головка фотометрическая; 3 - лампа изме­ряемая; 4 - лампа образцовая светоизмерительная; 5 - скамья фото­метрическая

Черт. 5OCT 1 00669-87

  1. .2. Измерение силы света прямым методом проводится в затемненном по- мешении, исключающем освещенность от источников света, не используемых при измерениях, на фотометрической скамье путем сравнения измеряемого источника света с образцовой светоизмерительной лампой посредством третьего источника света - лампы сравнения,

При атом способе с одной стороны фотометрической головки устанавливается лампа сравнения, а с другой - устанавливается сначала измеряемый источник све­та (см. черт. 5, а), а потом образцовая светоизмерительная лампа (см, черт, 5, 6). Лампа сравнения, измеряемый источник света и образцовая светоизмерительная лампа должны быть закреплены неподвижно. Наблюдая я окуляр, перемешают фото­метрическую головку и добиваются светового равновесия фотометрируемого поля.

Силу света (1 ) в канделах рассчитывают по формуле

где - расстояние от приемной пластинки фотометрической головки до измеряе­мого источника света, м;

L&- расстояние от нити образцовой светоизмерительной лампы до приемной пластинки фотометрической головки,.м;

Д? - расстояние от лампы сравнения до приемной пластинки фотометрической головки при установке измеряемого источник* света, м;

La - расстояние от лампы сравнения до приемной пластинки фотометрической головки при установке образцовой светоизмерительной лампы, м.

  1. Проведение измерений силы света косвенным методом

    1. Измерение силы света косвенным методом проводится в затемненном помещении, исключающем освещенность от источников света, не используемых при измерениях, ка фотометрической скамье путем измерений освещенности по метопу, приведенному в разд. 3.

    2. Силу света источника света или светильник* {Zj, ) в канделах рассчитывают по формулам:

  1. для источника или светильника белого света

<7)
где /_ - расстояние от измеряемого источника света или светильника до фотоале—
мента, м;

  1. дли источника или светильника одноцветного излучения

=J

OCT 1 00649-87 C. із jg

  1. Построение кривых силы света

    1. Построение кривых силы света проводится в полярных координатах для мериднанальной или сагиттальной плоскости источника света или светильника.

    1. Измеряемый источник света (светильник) должен устанавливаться на фотометрической скамье в держателе с лимбом тек, чтобы световой центр его совпадал с осью вращения держателя. Силу света следует измерять через каждые о 5-10 по лимбу.

    2. Полученные значения силы света следует откладывать через 5-10° а виде векторов из точки полюса полярной кривой. Для получения кривой силы света концы векторов соединяются плавной линией.

  1. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ СВЕТОВОГО ПОТОКА ИСТОЧНИКОВ СВЕТА

    1. Приборы, оборудование и их назначение. Погрешность измерения

  1. Для измерений необходимы следующие приборы и оборудование:

  1. светомерный шар, диаметр которого выбирается в зависимости от диамет­ра или длины измеряемой лампы в соответствии с табл, 1.

  2. с

    Диаметр лампы накаливания, не более

    Длина лампы накаливания, не более

    Длина люминес­центной лампы* не более

    Диаметр свето- мерного шара, не менее

    12

    24

    -

    250

    22

    40

    400

    46

    86

    150

    600

    -

    -

    250

    750



    fe дуймкагі Nt нам.

    It псдлмнммха 5601 Ni иэг

    Таблица 1

    мм

    еленовый фотоэлемент с корригирующим светофильтром;
  3. микроамперметры класса точности не менее 1,0 с пределами измерений от 0,1 до 1000 мА для контроля силы тока фотоэлемента;

  4. образцовые светоизмерительные лампы накаливания типа СИП со световым потоком, соизмеримым со световым потоком измеряемого источника света;

  5. регулируемый стабилизированный источник постоянного тока для питания образцовой светоизмерительной лампы и измеряемого источника света, обеспечи­вающий стабильность напряжения +1 %;

  6. образцовый нейтральный светофильтр с известным коэффициентом пропус­кания;

  7. белая контрольная пластинка диаметром от 50 до 70 мм, которая окраши­вается одновременно с внутренней поверхностью шара, для контроля состояния

охряски шара.

OCT 1 00669-87 с. 14

    1. Относительная погрешность измерения светового потока источника све­та должна быть нй более +10 %.

    2. Перечень приборов для проведения измерения светового потока источни­ка света приведен в приложении (пп. 4, 8-13, 14-16).

  1. Подготовка к измерениям

    1. Состояние окраски шара должно проверяться не реже одного раза в квартал путем визуального сравнения контрольной пластинки с нижней часть» внутренней поверхности шара.