Допускается применение других измерительных приборов с аналогичными характеристиками, обеспечивающих:
измерение относительного и абсолютного значений изменения сопротивления тензометра до 0,01 % при времени одного измерения не более 10 мс;
наибольший рабочий ток через тензометр в процессе измерения в соответствии с требованиями технических условий на тензометр.
Материалы,применяемые при измерении растягивающих усилий
в выводах микросхем,указаны в таблице 2.
Таблица 2
|
Наименование материала |
Нормативный документ |
|
I Калька бумажная
|
ГОСТ 892 ГОСТ 18300 ГОСТ I9II3 ГОСТ 2I93I ТУ I6.K7I-083 |
Вместо лака электроизоляционного ВЛ-931 допускается применять клей БФ-2 или БФ-4 по ГОСТ 12172.Изготовление образцов
Обезжирить корпуса микросхем окунанием в спирт и выдержать их на воздухе не менее 15 мин.
На середину монтажных площадок микросхем нанести первый подслой лака ВЛ-931 и произвести его сушку по режиму,указанному в приложении Д.
Нарезать полоски кальки длиной 20-30 мм и шириной,соответствующей ширине крышки корпуса микросхемы.
Приклеить полоски кальки, тензометры и их выводы лаком ВЛ-931.
Наклеить полоски кальки вдоль корпусов микросхем (на места крышек) до середины корпуса (рисунок 4) и сушить на воздухе не менее 15 мин.
I - корпус микросхемы; 2 - калька.
рисунок 4 - Образец микросхемы с приклеенной полоской кальки
Поместить тензометр под окуляр микроскопа МБС-2 и с помощью пинцета и иглы отогнуть его выводы у места сварки с корпусом перпендикулярно плоскости тензометра (рисунок 5 ).
тензометр; 2- выводы тензометра
Рисунок 5 - Тензометр с отогнутыми выводами
Тензометр следует брать только пинцетом за выводы.
Поместить тензометр на корпус микросхемы так, чтобы выводы тензометра были направлены вдоль края полоски кальки, а кристал тензометра находился над корпусом микросхемы на расстоянии 2,5 - 3 мм от края кальки. Приклеить выводы тензометра к полоске кальки,придерживая их иглой (рисунок 6), и сушить на воздухе не менее 15 мин.
I - лак
Рисунок 6 - Образец микросхемы с предварительной приклейкой тензометра за вывод
ыПоместить образец микросхемы под окуляр микроскопа НБС-2. Нанести на середину монтажной площадки микросхемы второй подслой лака в виде капли. Отогнуть выводы тензометра так, чтобы его поверхность, на которой нет выводов, была направлена к поверхности дна корпуса микросхемы и, сориентировав тензометр в направлении оси средних выводов, погрузить его в лак, придерживая иглой, затем выдержать на воздухе не менее 15 мин.
Направление продольной оси тензометра должно совпадать с направлением исследуемого усилия. Тензометр должен плотно прилегать к дну корпуса микросхемы.
Наклеить полоску кальки шириной (5±0,5) мм, длиной (13±1,3) мм сверху на образец, закрыв корпус микросхемы и выводы тензометра (рисунок 7).
1-тензометр; 2-выводы тензометра; 3-полоски кальки..
Рисунок 7 - Готовый образец микросхемы
Произвести сушку второго подслоя лака по режиму, указанному в приложении Д.
Режим склеивания клеем БФ-2 или БФ-4 указан в приложении Д.-Подготовка к измерению
Образец микросхемы с двух сторон закрепить за выводы в захваты приспособления для тарирования.
Собрать схему измерения согласно рисунку 8.
Rf, Rz -тензометры, установленные на рабочий и компенсационный образцы соответственно (2шт.);
R5- резистор С2-ЗЗН-0,5-100 Ом ±5 % -А-Д-8;
Rz,- магазин сопротивления;
ОС- осциллограф светолучевой;
ВК- тумблер;
УЇ- тензометрический усилитель
Рисунок 8- Электрическая схема измерения пикового значения динамического растягивающего усилия в выводе микросхемы
Произвести балансировку нуля измерительной системы.
Произвести тарирование образца.
Усилие тарирования следует определять по формуле (7): Рт = 1,2*Ррд*М ,• (7)
где Рт - усилие тарирования,N ;
Ррд- допустимое по техническим условиям на микросхему растягивающее усилие в одном выводе,N/вывод;
М - количество выводов микросхемы (образца) с одной стороны корпуса. 15Образец необходимо нагружать,последовательно увеличивая нагрузку на величину,равную 0,1 Рг. Затем следует разгрузить образец,последовательно уменьшая нагрузку на величину,равную 0,1 Рт* ?ля всех значений нагрузок (через промежутки,равные 0,1 Рт) при нагрузке и разгрузке образца записать значение выходного параметра измерительной системы.
Вынуть образец из захватов приспособления для тарирования.
Измерение растягивающего усилия
Вложить тарированный образец в штамп формовки выводов микросхем и проверить правильность его установки.
Проверить установку начала отсчета измерительной системы. При смещении начала отсчета на величину превышающую точность измерительной системы,произвести повторное тарирование образца или заменить образец.
Произвести формовку выводов образца и записать значение выходного параметра измерительной системы, Пн •
Вынуть образец и проверить наличие формовки и целостность выводов.
Измерение растягивающего усилия произвести на десяти образцах.
Обработка результатов
-1 Все значения нагрузок, прикладываемых к образцу при нагрузке и разгрузке, и соответствующие им измеренные выходные параметры еле - дует разделить на две примерно равные группы. Затем объединить первые группы меньших по значениям и вторые группы больших по значениям нагрузок и измерительных выходных параметров в две совокупности.
6-8.2 Зависимость изменения сопротивления тензометра, а также выходного параметра измерительной системы от нагрузки является линейной и её аналитическое выражение определяется по формулам (8) и (9)
ІІПгі = нН Рте +Lb, (8)
1*1 L*1
H UrL -aY_PrL +(n-L)b <9>
.-С+1 с-СЧ
где Пт и Пг - измеренное значение выходного параметра измерительной системы соответственно первой и второй совокупности;
-J тЛ К
рт и Рт - значение нагрузки соответственно первой и второй совокупности;
П - количество измерений,произведенных при нагрузке и разгрузке образца;
L, - количество измерений в первой совокупности.
По формулам (8) и (9) следует определить параметры CL к Ь.
Эмпирическое выражение тарировочной прямой определяется формулой (Ю)
Пэ=аРт+Ь, (10)
где Пэ - математическое ожидание выходного параметра.
рекомендуется начало отсчета измерительной системы устанавливать
на нуль. Тогда 6»0 и формула (10) принимает вид формулы (II):
Пэ =яР-г (П)
Погрешность тарирования (△ Т) определяется формулой (12)
д т = • юс % (12)
Пэ
6»8.5 По формулам (Ю или Ц и 12) для каждого, измерения следует определить математическое ожидание выходного параметра измерительной системы и погрешность тарирования.
Наибольшее значение растягивающего усилия в выводе микросхемы Ppg определяется по формуле (17)
ррв = Лстх (17)
м
6.9 Обнаружение на основе критерия Граббса грубых ошибок в расчете
Если в полученной группе величин растягивающих усилий имеются резко отличающиеся от остальных, а ошибка в снятии показаний исключена, необходимо произвести проверку на основе критерия Граббса на наличие грубой ошибки.
По результатам измерений необходимо определить отклонение результатов измерения от его среднего значения по формуле (18)
£ _ |ГР- Ppcpjmax (18)
<5
где t - оценка отклонения результатов измерения от его среднего значения.
При допустимой погрешности тарирования 5 % и 10 наблюдениях табулированное значение распределения - Граббса, tr- равно
= 2,414
Условие отсутствия грубой ошибки
Если t > tа , то в величину выходного параметра внесена грубая ошибка и её следует исключить из расчета и определить наличие грубой ошибки для девяти оставшихся значений растягивающих усилий в образцах.
При очередной аттестации штампов, за исключением аттестации после их разборки, ремонта или обнаружения недопустимых дефектов в микросхемах, возникающих в процессе формовки выводов, измерение растягивающих усилий производить на одном образце.Наибольшее значение погрешности тарирования не должно превышать 5 %. Если погрешность тарирования превышает 5 %, следует заменить образец.
Произвести соответствующие расчеты для всех десяти образцов.
На основе формулы (10) получим формулу для определения растягивающего усилия (13)
Рр = йн. - Ь t (ІЗ)
где Рр - значение растягивающего усилия в образце, ;
Пн - значение выходного параметра измерительной системы, полученное при формовке выводов образца (см. п.6.7.2).
В случае,когда при всех десяти измерениях значение растягивающего усилия не превышает установленного в ОСТ 11.073.063, в паспорте на штамп указывают наибольшее значение растягивающего усилия.
Во всех остальных случаях определяют среднее значение растягивающего усилия.
В соответствии с методическими указаниями МИ 1317'- среднее значение растягивающего усилия образца микросхемы Рр.ср. определяют по формуле (14) у л ;
Нр L
?р.ср= — , (14)
Г /77
где Рр для каждого образца определяется по формуле (13);
т - количество образцов.
6.8.10 С реднеквадратичное отклонение 6" формуле (15)
следует определять
(15)
по
Ppmqx
^ртах - ^р.ср.+Э.б'
(16)
Наибольшее значение растягивающего усилия в образце определяется по формуле (16)
При этом значение растягивающего усилия определяют по формуле (19) Рр, =-& (19)
Р6 М >
где Рр определяется по формуле (13).
Полученные значения растягивающего усилия в выводе микросхемы по формуле (17 или 19) не должны превышать установленных в ОСТ 11.073.063 . ......
Пример расчета растягивающего усилия в выводе микросхемы приведен в приложении Е.
7 Определение геометрических размеров формованных выводов
Установить образец в штамп формовки.
В качестве образца следует применять корпус микросхемы (или микросхему) или блоки БІ8, БІ9, обрабатываемые на данном штампе.
Формовать выводы образца. Извлечь образцы из штампа и провести визуальный контроль формовки и целостности выводов.
При формовке и обрезке выводов допускаются следы (отпечатки) от инструмента на выводах, не приводящие к нарушению покрытия (оголения основного материала).
Геометрические размеры формованных выводов микросхем или блоков следует измерять на двух образцах.
Геометрические размеры формованных выводов микросхем или блоков:
установочный размер, b , мм;
глубина формовки, Л , мм;
расстояние от корпуса элемента до центра окружности изгиба вывода "а" и длина отформованной части вывода, обеспечивающая установку микросхемы на контактную площадку.
Геометрические размеры формованных выводов микросхем или блоко
вдолжны соответствовать OCT 92-9388.
Измерение геометрических размеров следует производить инструментом, обеспечивающим точность измерения +0,05 мм.Приложение A
(обязательное)
Паспорт на штампы формовки выводов микросхем и блоков
A.I Общие положения
A.I.I Паспорт на штампы формовки выводов микросхем и блоков БІ8 и БІ9 является документом, удостоверяющим гарантированные цехом-изготовителем основные технические характеристики конкретного экземпляра штампа, и служит для систематического фиксирования в нем сведений технического состояния и учета результатов аттестации и переаттестации штампа.
А.1.2 Паспорт на каждый штамп следует вести в одном экземпляре в течение всего срока его службы.
А.1.3 При заполнении паспорта не допускаются записи карандашом, смывающимися чернилами. Подчистки и незаверенные исправления не допускаются.
А.1.4 Паспорт должен быть выполнен на формах 1-5 настоящего приложения на листах форматов А4 или А5 по ГОСТ 2.301.
А.1.5 Раздел I паспорта (форма 3) заполняется по конструкторской документации на штамп.
А.1.6 Раздел 2 паспорта (форма 4) заполняет представитель отдела технического контроля (далее - ОТК) по результатам аттестации и переаттестации штампов. Подпись представителя ОТК должна быть заверена печатью.
А.1.7 Указания на обложке (форма I) и раздел 3 паспорта (форма 5) заполняются при приемке штампа после его изготовления до проведения аттестации.
