2.3.8. оптический толщиномер: Прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для измерения толщины объектов контроля и (или) глубины залегания дефектов.
2.4. Освещение объекта контроля
2.4.1. световое сечение: Освещение объекта контроля плоским пучком света для получения изображения его рельефа.
2.4.2. темное поле: Освещение объекта контроля, при котором яркость его дефектов больше яркости поверхности, на которой они расположены.
2.4.3. светлое поле: Освещение объекта контроля, при котором яркость его дефектов меньше яркости поверхности, на которой они расположены.
2.4.4. стробоскопическое облучение: Облучение объекта контроля модулизированным оптическим излучением, частота и фаза которого синхронизированы с движением объекта контроля.
2.4.5. когерентное облучение: Облучение объекта контроля когерентным излучением.
2.4.6. монохроматическое облучение: —
2.4.7. полихроматическое облучение: Облучение объекта контроля полихроматическим оптическим излучением.
2.4.8. сканирующее облучение: Облучение объекта контроля оптическим излучением с применением сканирования.
2.4.9. телецентрическое облучение: Облучение объекта контроля параллельным пучком оптического излучения.
2.4.10. стигматическое облучение: Облучение объекта контроля точечным источником оптического излучения.
Алфавитный указатель терминов
|
Видимость дефекта |
2.1.3 |
|
Дефектоскоп оптический |
2.3.5 |
|
Источник излучения |
2.3.2 |
|
Источник излучения прибора оптического неразрушающего контроля |
2.3.2 |
|
Контраст дефекта |
2.1.2 |
|
Контроль неразрушающий оптический |
2.1.1 |
|
Контроль оптический |
2.1.1 |
|
Метод абсорбционный |
2.2.16 |
|
Метод амплитудный |
2.2.8 |
|
Метод визуально-оптический |
2.2.17 |
|
Метод временной |
2.2.9 |
|
Метод геометрический |
2.2.10 |
|
Метод голографический |
2.2.32 |
|
Метод дифракционный |
2.2.14 |
|
Метод индуцированного излучения |
2.2.5 |
|
Метод индуцированного оптического излучения |
2.2.5 |
|
Метод интерференционный |
2.2.13 |
|
Метод когерентный |
2.2.7 |
|
Метод контроля геометрических размеров изделия фотоимпульсный |
2.2.29 |
|
Метод контроля геометрических размеров изделия фотокомпенсационный |
2.2.30 |
|
Метод контроля геометрических размеров изделия фотоследящий |
2.2.31 |
|
Метод магнитооптический |
2.2.22 |
|
Метод муаровых полос |
2.2.28 |
|
Метод оптико-акустический |
2.2.19 |
|
Метод оптического излучения абсорбционный |
2.2.16 |
|
Метод оптического излучения амплитудный |
2.2.8 |
|
Метод оптического излучения визуально-оптический |
2.2.17 |
|
Метод оптического излучения временной |
2.2.9 |
|
Метод оптического излучения геометрический |
2.2.10 |
|
Метод оптического излучения дифракционный |
2.2.14 |
|
Метод оптического излучения интерференционный |
2.2.13 |
|
Метод оптического излучения когерентный |
2.2.7 |
|
Метод оптического излучения магнитооптический |
2.2.22 |
|
Метод оптического излучения оптико-акустический |
2.2.19 |
|
Метод оптического излучения поляризационный |
2.2.11 |
|
Метод оптического излучения рефракционный |
2.2.15 |
|
Метод оптического излучения спектральный |
2.2.6 |
|
Метод оптического излучения фазовый |
2.2.12 |
|
Метод оптического излучения фотолюминесцентный |
2.2.20 |
|
Метод оптического излучения фотохимический |
2.2.18 |
|
Метод оптического излучения электрооптический |
2.2.21 |
|
Метод оптического неразрушающего контроля голографический |
2.2.32 |
|
Метод отраженного оптического излучения |
2.2.2 |
|
Метод поляризационный |
2.2.11 |
|
Метод прошедшего излучения |
2.2.1 |
|
Метод прошедшего оптического излучения |
2.2.1 |
|
Метод разностного изображения |
2.2.24 |
|
Метод разностного оптического изображения |
2.2.24 |
|
Метод рассеянного излучения |
2.2.3 |
|
Метод рассеянного оптического излучения |
2.2.3 |
|
Метод рефракционный |
2.2.15 |
|
Метод собственного излучения |
2.2.4 |
|
Метод собственного оптического излучения |
2.2.4 |
|
Метод согласованной фильтрации |
2.2.23 |
|
Метод согласованной фильтрации оптического излучения |
2.2.23 |
|
Метод спекл-интерферометрии |
2.2.26 |
|
Метод спекл-интерферометрии оптического излучения |
2.2.26 |
|
Метод спекл-структур |
2.2.27 |
|
Метод спекл-структур оптического излучения |
2.2.27 |
|
Метод спектральный |
2.2.6 |
|
Метод фазовый |
2.2.12 |
|
Метод фотоимпульсный |
2.2.29 |
|
Метод фотокомпенсационный |
2.2.30 |
|
Метод фотолюминесцентный |
2.2.20 |
|
Метод фотоследящий |
2.2.31 |
|
Метод фотохимический |
2.2.18 |
|
Метод фотоэлектрического излучения |
2.2.25 |
|
Метод фотоэлектрического оптического излучения |
2.2.25 |
|
Метод электрооптический |
2.2.21 |
|
Облучение когерентное |
2.4.5 |
|
Облучение монохроматическое |
2.4.6 |
|
Облучение полихроматическое |
2.4.7 |
|
Облучение сканирующее |
2.4.8 |
|
Облучение стигматическое |
2.4.10 |
|
Облучение стробоскопическое |
2.4.4 |
|
Облучение телецентрическое |
2.4.9 |
|
Поле светлое |
2.4.3 |
|
Поле темное |
2.4.2 |
|
Прибор неразрушающего контроля оптический |
2.3.1 |
|
Сечение световое |
2.4.1 |
|
Система оптическая |
2.3.3 |
|
Структуроскоп оптический |
2.3.7 |
|
Толщиномер оптический |
2.3.8 |
|
Устройство приемное |
2.3.4 |
|
Эллипсометр лазерный |
2.3.6 |
Приложение А
(справочное)
Термины общих физических понятий и технические термины, применяемые при оптическом неразрушающем контроле
А.1. спекл-структура: Случайное распределение интенсивности, характерное для диффузно-когерентного излучения.
А.2. сканирование: Анализ исследуемого пространства путем последовательного его просмотра при передвижении мгновенного поля зрения по полю обзора.
Приложение Б
(справочное)
Термины приборов, применяемых при оптическом неразрушающем контроле
Б.1. эндоскоп: Оптический прибор, имеющий осветительную систему и предназначенный для осмотра внутренних поверхностей объекта контроля.
Б.2. оптический компаратор: Оптический прибор, предназначенный для одновременного наблюдения объекта контроля и контрольного образца.
Б.3. субтрактивный видеоанализатор: Оптический прибор для формирования разностного изображения объекта контроля и контрольного образца.
Б.4. оптический дисдрометр: Оптический прибор для анализа объемного распределения микрочастиц в контролируемой среде.
Ключевые слова: оптический неразрушающий контроль, методы оптические, оптическое излучение, оптический дефектоскоп, контраст дефекта, оптическая система
Содержание
1. Область применения
2. Термины и определения
Алфавитный указатель терминов
Приложение А (справочное). Термины общих физических понятий и технические термины, применяемые при оптическом неразрушающем контроле
Приложение Б (справочное). Термины приборов, применяемых при оптическом неразрушающем контроле
