---

ШМ1

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ

СТАНДАРТ

СОЮЗА ССР

ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ

ЧАСТЬ 4. ИНТЕРФЕЙСНЫЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ

ГОСТ 29109—91

(МЭК 748-4-87)

И

58 руб. БЗ 7—91/675

здание официальное

КОМИТЕТ СТАНДАРТИЗАЦИИ И МЕТРОЛОГИИ СССР
Москва

О С УДА Р С Т В Е Н Н Ы И СТАНДАР
СОЮЗА ССР

ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ

ЧАСТЬ 4. ИНТЕРФЕЙСНЫЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ

ГОСТ 29109—91

(МЭК 748—4—87)

Издание 'официальное

МОСКВА— 199

2© Издательство стандартов, 1992

ПРЕДИСЛОВИЕ

1. Официальные решения или соглашения МЭК по техническим вопросам, подготовленные техническими комитетами, в которых представлены все за­интересованные национальные комитеты, выражают с возможной точностью международную согласованную точку зрения по рассматриваемым вопросам.

2. Эти решения представляют собой рекомендации для международного пользования и в этом виде принимаются национальными комитетами.

3. В целях содействия международной унификации МЭК выражает по­желание, чтобы все национальные комитеты приняли настоящий стандарт в качестве своего национального стандарта, насколько это позволяют условия каждой страны. Любое расхождение со стандартом МЭК должно быть по возможности четко указано в соответствующих национальных стандартах.

ВВЕДЕНИЕ

Настоящий стандарт подготовлен Техническим комитетом МЭК № 47 «Полупроводниковые приборы».

Публикация МЭК 748—4 представляет собой четвертую часть общего стандарта на интегральные схемы (Публикация МЭК 748).

В дополнение к общим Публикациям МЭК 747—1 и МЭК 748—1 в настоящем стандарте содержатся сведения по интерфейс­ным интегральным схемам.

На совещании в Лондоне в сентябре 1982 г. Технический ко­митет № 47 одобрил переиздание Публикаций МЭК 147 и МЭК 148 на основе нового принципа в зависимости от вида рассматри­ваемого прибора. Поскольку все части, составляющие настоящую публикацию, были ранее утверждены для издания согласно Пра­вилу шести или двух месяцев, новое голосование было признано нецелесообразным.

Сведения по интегральным схемам, содержащиеся в Публи­кациях МЭК 147 и МЭК 148, включены в Публикации МЭК 747—1 и МЭК 748.

Сведения о механических и климатических испытаниях вклю­чены в Публикацию МЭК 749.

Соответствие данного стандарта современному уровню техни­ки будет обеспечиваться путем пересмотра и дополнения его по мере дальнейшей работы Технического комитета № 47 с учетом последних достижений в области интегральных схем.

Настоящий стандарт полностью аннулирует содержание Публи­кации МЭК 147—1Н.

Номер нового пункта

Номер прежнего пункта

Документ
или публикация

Глава II

1.1.1—11.1.6

1.2. 1А —1.2 А .7

Ц2.1.8

1.2.1.9-L2.il. 15

1.2.2.1

1.2,2.21

1.2.2.3

11.2.2.4

2,ЯЛ--2.4.3

3

Глава III Раздел I 1!

Раздел II 1—4.2.11 4.2.12 4.3.1—4Л.10 4.4 4.5

5 и 6

Глава IV

Раздел I

J 3

Раздел II 1—3 Раздел III На рассмотрении

1.1—1.6

2 ^і. 1 —2.7 4

2.8—2.14

3.1

3.2

3.5

3.6

3.3 3.4 4Л

4.2

Общие положения 1—7

1— 4,2.11

11.2

4.3,1'—4.3.10

2

4.4

5 и 6

Новые

1 -3

47 (ЦБ) 79®

47 (ЦБ) 79®

47 (ЦБ) 8801

47 (ЦБ) 7918’

47 (ЦБ) 7918

47 (ЦБ) 7918

47 (ЦБ) 7918

47 (ЦБ) 79®

47 (ЦБ) 7918

47 (ЦБ) 798

47 (ЦБ) 79®

47 (ЦБ) 798

47 (ЦБ) 880

47 (ЦБ) 976

47 (ЦБ) 798, 880, 976

147— 1Н, X, первый 147'—1Н, X, первый

47А (ЦБ) Г27

47А (ЦБ) 144

47А (ЦБ) 127

47А (ЦБ) 144

47А (ЦБ) Г27

47А (ЦБ) 127

47А (ЦБ) 95

АРСТ ВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

П

ГОСТ 29109—91
(МЭК 748—4—87)

риборы полупроводниковые
МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ
Часть 4. Интерфейсные интегральные схемы

Semiconductor devices.
Integrated circuits.
Part 4. Interface integrated circuits

окп (ОКСТУ) 623)0

ата введения 01.07.92

ГЛАВА I. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

1. Введение

Пользоваться настоящим государственным стандартом сле­дует, как правило, совместно с МЭК 747—1* и ГОСТ 29106 (МЭК 748—1), в которых приведены:

терминология;

буквенные обозначения;

основные предельно допустимые значения параметров и харак­теристики;

методы измерений.

Порядок следования глав данного стандарта соответствует требованиям МЭК 747—1, гл. III, п. 2.1.

2. Область применения

Данный государственный стандарт применяется для разра­ботки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации.

В настоящем стандарте приведены требования для следующих классов и подклассов интерфейсных интегральных схем.

Класс I:

подкласс А — линейные схемы (передатчики и приемники);

подкласс В — усилители считывания;

* До прямого применения стандарта МЭК в качестве государственного стандарта рассылку данного стандарта МЭК на русском языке осуществляет ВНИИ «Электронстандарт».

Издание официальное

Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован !и распространен без разрешения Госстандарта ССС

Р

подкласс С — периферийные.

формирователи (включая фор-

м

подкласс D
Класс II -

компараторы напряжения.

линейные и нелинейные аналого-цифровые и циф­

ирователи ЗУ) и схемы сдвига уровня;

ро-аналоговые преобразователи.

ГЛАВА II. ТЕРМИНОЛОГИЯ И БУКВЕННЫЕ ОБОЗНАЧЕНИЯ

1. Термины для класса I (линейные схемы, усилители считыва­

н

(включая формирователи ЗУ)

ия, периферийные формирователи и схемы сдвига уровня, компараторы напряжения)

щая в качестве передатчика, который соединен с приемником посредством линии передачи или другого подобного электриче­ского соединения. Передатчик работает при подаче на несиммет­ричный вход цифрового сигнала напряжения и обеспечивает на выходе либо несимметричные, либо дифференциальные сигналы напряжения или тока.

Передатчик может также иметь устройство стробирования.

Приемник может также иметь устройство стробирования.

Такая схема обычно имеет дифференциальный вход и несси- метричный выход. Усилители считывания могут иметь вход (ы), предназначенный (е) для регулирования диапазона входного напряжения.

Усилитель считывания может также иметь устройство стро­бирования.

Схема может иметь также управляющее устройство.

Такая схема может также иметь управляющее устройство;

1. несимметричного входа (Z/_s) — между каждым входом и электрической контрольной точкой;

2. дифференциальное (Zm) — между двумя входами;

с) синфазное (Zf_C) — между двумя параллельными входами и электрической контрольной точкой.

Примечание. Данный термин не применяют для схем, переходные ха­рактеристики которых имеют гистерезис. •

П

1.2.1.8. Диапазон

(Vid) — диапазон

римечание. Данный термин не применяют для схем, переходные ха­рактеристики которых имеют гистерезис.

ифференциальных входных напряжений

дифференциальных входных напряжений, в

пределах которого прибор функционирует в соответствии с тре­

бованиями технических условий.

1.2Л.9. Пороговое (дифференциальное входное) напряжение —

( Vidt)

— значение ди

НІП

еренциального входного напряжения пос­

тоянного тока, при котором выходная цифровая переменная схе-

¹ мы (например, напряжения, ток) достигает высокого уровня ..при переходе от низкого уровня или наоборот.

Примечание. Значения для двух направлений перехода обычно раз­личны.

ных напряжений.

1.2.1.12. Пусковое

синфазное

входное напряжение (Vict) —

значение синфазного

няется состояние на

входного напряжения, при котором изме-
выходе при постоянном дифференциальном

входном напряжении.

1.2.1.13. Коэффициент ослабления синфазного напряжения (£cmr) [ГОСТ 29108 (МЭК 748—3), гл. II, п. 2.1.3] — отноше­

ние усиления дифференциального напряжения к усилению

син-

азного напряжения в тех же заданных условиях.

Примечание. Для обозначения данной величины используют сокраще­ния CMR и CMRR.

1.2.2. Термины, относящиеся к выходным характеристикам