---

п sv-so

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

МЕХАНИЧЕСКИЕ И КЛИМАТИЧЕСКИЕ ИСПЫТАНИЯ

ГОСТ 28578-90
(СТ МЭК 749-84)

Издание официальное

45 коп.

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО УПРАВЛЕНИЮ

КАЧЕСТВОМ ПРОДУКЦИИ И СТАНДАРТАМ

Москв

а

ґ

ПРЕДИСЛОВИЕ

*

1. Официальные решения или соглашения МЭК по техническим вопросам, подготовленные техническими комитетами, в которых представлены все заинтересованные национальные комитеты, вы­ражают с возможной точностью международную согласованную точку зрения по рассматриваемым вопросам.

2. Эти решения представляют собой рекомендации для между­народного пользования и в этом виде принимаются национальны­ми комитетами.

3. В целях содействия международной унификации МЭК вы­ражает пожелание, чтобы все национальные комитеты приняли настоящий стандарт МЭК в качестве своего национального стан­дарта, насколько это позволяют условия каждой страны. Любое расхождение со стандартом МЭК должно быть четко указано в соответствующих национальных стандартах.

ВВЕДЕНИЕ

Стандарт МЭК 749—84 подготовлен Техническим комитетом МЭК 47 «Полупроводниковые приборы».

Публикация МЭК 749 представляет собой общий стандарт на механические и климатические испытания, применяемые к дис­кретным приборам и интегральным схемам.

На совещании в Лондоне в сентябре 1982 г. Технический ко­митет МЭК 47 одобрил переиздание Публикаций МЭК 147 и МЭК 148 на основе нового принципа в зависимости от вида рас­сматриваемого прибора. Поскольку все части, составляющие на­стоящую публикацию, были в свое время утверждены по Правилу шести или двух месяцев, дополнительное голосование было при­знано нецелесообразным.

Сведения относительно дискретных приборов и интегральных схем, содержащиеся в Публикациях ААЭК 147 и МЭК 148, вклю­чены в Публикацию МЭК 747 и МЭК 748.

Сведения относительно механических и климатических испы­таний ранее содержащиеся в Публикациях МЭК 147—5 и МЭК 147—5А, включены в Публикацию МЭК 749.

Соответствие данного стандарта современному уровню техни­ки будет обеспечиваться путем пересмотра и дополнения его, по мере дальнейшей работы технического комитета МЭК 47, с уче­том последних достижений в области полупроводниковых прибо­ров.

Примечание. Публикации МЭК 747 и МЭК 748 аннулируют и заме­няют, по мере издания их отдельных частей, Публикации МЭК 147 и МЭК 148.

9—2044 1Настоящая публикация заменяет Публикацию МЭК Н7—5 и МЭК 14-7—5 А.

Таблица соответствия новых и прежних пунктов

І Іовая
публикация
МЭК 749

Прежние публикации

Новая
публикация
МЭК 749

Прежние публикация

Номер
главы

Номер раз­дела, пункта **

Номер главы

Номер
раз-
дела,
пункта

Номер
публикации
МЭК

Номер
гл а в ы

Номер раз­дела, пункта

Номер главы

Номер
раз-
дела,
пункта

Номер
публикации
МЭК

I I

I I т 1

I I

II II II II II II II II II II II II

II

1

1.4

2

3

4

5

6

1

1.1

1.2

1.3

2

2.1

2.2

3

4

5

6

147—5 147—5

147—5 147—5

147—5
147—5

147—5 147—5

147—5
147—5
147—5

147—5 147—5

147—5
147—5
147—5

147—5

147—5 147—5

147—5А

III III III III III III III III III III III III III III III IV IV IV

IV

147—5

147—5

147—5 А 147—5

147—5

147—5

147—5Л 147— 5Л 147—5 147—5 147—5 147—5

147—5

147—5 А 147—5 147—5 147—5 147—5

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

П

ГОСТ
28578—90

(СТ МЭК 749—S4)

РИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

Механические и климатические испытания

Semiconductor devices.

Mechanical and climatic test methods

ОКСТУ 6000

Дата введения с 01.01.9!

ГЛАВА I. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

1. ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ

Настоящий стандарт устанавливает методы испытаний, приме­няемые к полупроводниковым приборам (дискретным приборам и интегральным схемам). Для приборов без внутренних полостей могут потребоваться дополнительные методы испытаний.

Примечание. Прибор без внутренней полости — это прибор, в котором герметизирующий материал непосредственно контактирует со всеми внешнитии поверхностями активного элемента и при изготовлении которого заполняется все внутреннее свободное пространство.

В настоящем стандарте, по возможности, учтены требования СТ МЭК 68 (ГОСТ 28198—ГОСТ 28236).

2. ЦЕЛЬ

Установление единых методов испытаний с предпочтительными значениями уровней нагрузки для оценки степени воздействия внешних факторов на полупроводниковые приборы.

В случае противоречия между настоящим стандартом и соот­ветствующей нормативно-технической документацией (НТД) пред­почтение отдается последней.

3. ТЕРМИНЫ, ОПРЕДЕЛЕНИЯ И БУКВЕННЫЕ ОБОЗНАЧЕНИЯ

4. С

   Издание официальное

   сылки делаются на СТ МЭК 68 (ГОСТ 28198—ГОСТ 28236), СТ МЭК 747¹ и СТ МЭК 748*.НОРМАЛЬНЫЕ АТМОСФЕРНЫЕ УСЛОВИЯ

Ссылка: СТ МЭК 68—1 (ГОСТ 28198).

Если не оговорено иное, все выдержки и восстановления про­водятся при нормальных атмосферных условиях испытания, как указано в СТ МЭК 68—1, п. 5.3 (ГОСТ 28198, п. 5.3):

температура от 15 до 35°С;

относительная влажность от 45 до 75%, в случае необходимости; атмосферное давление от 86 до 106 кПа (860—1060 мбар). При этом все электрические измерения, а также восстановле­ние с последующими измерениями выполняют при следующих ат­мосферных условиях:

температура (25±5)°С;

относительная влажность от 45 до 75%, в случае необходимо­сти;

атмосферное давление от 86 до 106 кПа (860—1060 мбар).

Арбитражные испытания проводят при следующих нормаль­ных атмосферных условиях:

температура (25±1)°С;

относительная влажность от 48 до 52%;

атмосферное давление от 86 до 106 кПа (860—1060 мбар).

Измерения следует проводить только после достижения образ­цами температурного равновесия. Температура окружающей сре­ды во время измерений должна быть указана в протоколе испы­тания.

При проведении измерений образцы не должны подвергаться воздействию сквозняков, освещения или другим воздействиям, ко­торые могут привести к погрешности измерения.

5. ВНЕШНИЙ ОСМОТР И ПРОВЕРКА РАЗМЕРОВ

   1. Внешний осмотр должен включать:

1. проверку правильности и стойкости маркировки (метод ис­пытания находится на рассмотрении); ¹

2. обнаружение повреждений корпуса и выводов;

3. проверку внешнего вида корпуса и выводов.

1. 1. Должны быть проверены размеры, указанные в соответст­вующей НТД.

   2. Если не оговорено иное, внешний осмотр проводят при 3- и 10-кратном увеличении в зависимости от размера прибора.

2. ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯ

При испытаниях на воздействие внешних факторов изме­ряемые характеристики следует выбирать из главы «Приемка и надежность» соответствующей части СТ МЭК 747 или СТМЭК 748. Эти характеристики указывают для каждой категории приборов.

Если в качестве критерия указывают только верхнее и (или) нижнее предельные значения, то первоначальные измерения про­водят по усмотрению изготовителя. Их проводят в том случае, если в качестве критерия используется первоначальное показание конкретного прибора.

Указываются при необходимости.

Если в соответствующей НТД указано, что испытание входит в последовательность (подгруппу) испытаний, то измерения про­водят только по окончании всех испытаний, составляющих данную последовательность. Для некоторых испытаний, таких как испы­тание на паяемость или на усталость выводов, можно использо­вать приборы с электрическими дефектами.

ГЛАВА II. МЕХАНИЧЕСКИЕ ИСПЫТАНИЯ

Выбор соответствующих испытаний зависит от типа приборов и корпуса. Необходимые испытания должны быть указаны в со­ответствующей НТД.

1. ПРОЧНОСТЬ выводов

Ссылка: СТ МЭК 68-2-21 (ГОСТ 28212).

Это испытание соответствует испытанию Ua! с учетом следую­щих требований.

После испытания проводят осмотр при 3— 10-кратном увели­чении.

Прибор бракуют, если обнаружена трещина (кроме трещин в области мениска), ослабление соединения или смещение вывода относительно корпуса приборов в месте его крепления.

Это испытание соответствует испытанию Ub с учетом следую­щих требований:

в п. 4.2 метод 2 рекомендуется использовать только для ДИП- корпусов и подобных им корпусов, конфигурация которых затруд­няет или делает невозможным использование метода 1.

Это испытание соответствует испытанию Uc с учетом следую­щих требований.

Методика

Используются либо метод А (степень жесткости 2) либо ме­тод В.

Критерии отказа

Прибор считают отказавшим, если после снятия нагрузки при 10—20-кратном увеличении обнаружена трещина (кроме тре­щин в области мениска), ослабление соединения или смещение вывода относительно корпуса прибора в месте его крепления.

Данное испытание соответствует испытанию Ud с учетом сле­дующих требований.

Прибор считают отказавшим в следующих случаях:

поломки или удлинения винта более чем ^на половину шага резьбы;

срыва резьбы или деформации установочной плоскости;

когда после испытания электрические параметры прибора не соответствуют требованиям соответствующей НТД, если такие из­мерения проводят.

Определение способности выводов выдерживать скручивание, которому они могут подвергаться в процессе проверки или экс­плуатации после установки в аппаратуру.

Образец жестко закрепляют, к испытываемому выводу мед­ленно прикладывают крутящий момент до тех пор, пока угол скручивания не будет равен (30±10)° или величина крутящего момента не достигнет заданного значения в зависимости от того, какое условие будет выполнено скорее.

Затем вывод возвращается в первоначальное положение. Кру* тящий момент, равный (1,4 Х'10~² ±1,4X4 0~³) Н- м, прикладыва­ют к выводу на расстоянии (3,0±0,5) мм от корпуса прибора или в пределах 1 мм от конца вывода, если он короче 3 мм.

Выводы подвергают воздействию крутящего момента в каж­дом направлении.

Если прибор имеет выводы, изогнутые близко к корпусу, то крутящий момент прикладывают на расстоянии (3,0±0,5) мм от точки изгиба вывода.

Заключительные измеренияПосле испытания следует провести осмотр при 3— 10-крат­ном увеличении. Прибор бракуется, если обнаружена трещина вывода, ослабление соединения или смещение вывода относитель­но корпуса в месте его крепления.

Принцип выбора и количество выводов, подвергаемых испы­танию.

2. ПАЙКА

Ссылка: СТ МЭК 68-2-20 (ГОСТ 28211).

Это испытание должно соответствовать испытанию Та с уче­том следующих требований.

При использовании метода 1.

Выводы подвергают испытанию методом паяльной ванны. Вы­воды погружают в ванну на 1,5 мм от установочной плоскости прибора или на другое расстояние, установленное в соответствую­щей НТД.

Примечание. Если глубина погружения от установочной плоскости менее 1,5 мм, то выбирают другие критерии отказа, которые должны быть ука­заны.

При использовании метода 2.

Выводы подвергают испытанию методом паяльника типа А. Расстояние от места пайки до корпуса прибора должно быть уста­новлено в соответствующей НТД, время соприкосновения паяль­ника с выводом должно составлять (3,5±0,5) с.

При использовании метода 3.