Используется методика 1 п. 4.3 ГОСТ 128608.

  1. Перегрузка (в смонтированном состоянии)

См. п. 4.13 ГОСТ 28608 с учетом следующего: подаваемое нап­ряжение в 2,5 раза больше номинального напряжения или удвоен­ное предельное рабочее напряжение (выбирается меньшая вели­чина) ;

продолжительность: 2 с;

материал подложки: слоистый материал на основе стеклотка­ни, пропитанный эпоксидным связующим (например, стеклотек­столит), или окись алюминия, как указано в ТУ на изделия кон­кретных типов.

Расстояние между отдельными чип-резисторами не должно быть меньше наибольшего размера чип-резистора.

РАЗДЕЛ III. ПОРЯДОК СЕРТИФИКАЦИИ ИЗДЕЛИЙ

  1. ПОРЯДОК СЕРТИФИКАЦИИ ИЗДЕЛИЙ

    1. Конструктивно-подобные изделия

Чип-резисторы считаются конструктивно-подобными, если они изготовлены по аналогичной технологии из аналогичных материи- лов, имеют одинаковые номинальные размеры, но разные значе­ния сопротивления и температурные характеристики.

  1. Утверждение соответствия

Методики испытаний на утверждение соответствия приведены в п. 3.4 ГОСТ 28608. Программа испытаний на утверждение соот­ветствия, составленная на основе испытаний по партиям и перио­дических испытаний, приведена.в п. 3.3 настоящих ТУ. Методика испытаний на выборке заданного объема приведена в пп. 3.2.1 и 3.2.2.

  1. Утверждение соответствия на основе испытаний на вы­борке заданного объема

Формирование выборки

Порядок проведения испытаний на выборке заданного объема приведен в ГОСТ 28608, п. 3.4.2. Выборка должна представлять диапазон значений величины, для которых требуется утвер^ ждение соответствия. Она может представлять полный или непол­ный диапазон сопротивлений, на которые распространяются ТУ на чип-резисторы конкретных типов.

Выборка должна содержать образцы, имеющие наибольшее и наименьшее значения сопротивлений, для которых требуется ут­верждение соответствия. Она также должна содержать образцы с критическим значением сопротивления, если это значение нахо­дится в пределах рассматриваемого диапазона. Если требуется утверждение соответствия чип-резистора с различными темпера­турными коэффициентами сопротивления, то выборка должна со­держать образцы с разными температурными коэффициентами. В этом случае выборка должна содержать образцы с разными зна­чениями сопротивления и с наименьшим допускаемым отклоне­нием, для которых требуется утверждение соответствия. Соответ­ствие образцов, имеющих разные температурные характеристики, должно быть утверждено в установленном порядке.

Разрешаются дополнительные образцы:

  1. один на значение сопротивления и один на каждый темпе­ратурный коэффициент или каждой температурной характеристи­ки, которые можно использовать для замены допускаемых дефект­ных изделий в группе 0;

  2. один на значение сопротивления и один на каждый темпе­ратурный коэффициент или каждую температурную характерис­тику, которые можно использовать для замены образцов, ставших дефектными по причинам, не зависящим от изготовителя. Если в программу испытаний на утверждение соответствия включены дополнительные группы испытаний, число образцов для группы 0 должно быть увеличено на такое количество, которое требуется для дополнительных групп.

ИспытанияДля утверждения соответствия резисторов, на которые рас­пространяются одни ТУ на чип-резисторы конкретных типов, тре­буются полные серии испытаний, указанных в табл. 3. Испыта­ния каждой группы следует проводить в указанном порядке.

Таблица 3

Программа испытаний на утверждение соответствия



Номер пункта испытания (см. примечание 1)


Группа 0А

4.4.1. Внешний осмотр

Группа ОВ

4.4.2. Размеры (габаритные)


4.5. Сопротив­ление


Группа 1А

4.18 Теплостой­кость при пайке (не применимо к резисторам-чи­пам, не пригод­ным для полного погружения)

4.29. Стойкость изделия к воздей­ствию раствори­теля (если при­менимо)


в Группа 1В

4.17. Паяемость (не применимо к резисторам-чи-


ND


ND


Условия испытания (см. примечание 1)


Внешний осмотр

Сопротивление

Растворитель:

Температура раство­рителя:

Метод 2

Восстановление:


Старение, если при­менимо


Объем
выборки
и критерий
приемки
(см. при-
мечание 2)


165 1


165 1


20


20


Требования
(см. примечание 1)


Как указано в п. 4.4.1


Как указано в ТУ на чип-резисторы конкретных ти- пбв

Как указано в

п. 4.5.2


Как указано в п, 4.18.3.4

ДЯ<±(.Ло /?+... Ом)


См. ТУ на издС" лия конкретных типов


Как указано в п. 4.17.4.5.


































































































Номер пункта
испытания (см.
примечание 1)


Условия испытания (см. примечание 1)


Объем
выборки
и критерий
приемки
(см. приме-
чание 2)


Требования
(см. примечание 1)


пам, не пригод­ным для полно­го погружения)

4.7. Электричес­кая прочность изоляции (только изолированные резисторы)

(«4,31) Крепление

4.13. Перегрузка (во вмонтиро­ванном состоя­нии)


4.30. Стойкость маркировки к воздействию раст­ворителя (если применимо)


Метод: ...

Сопротивление изо­ляции (только изо­лированные резисто- ры)

Материал подложки и расстояние см. в п.

2.3.2 данных ТУ Подаваемое на­пряжение должно быть в 2,5 раза больше номинально­го или в 2 раза больше предельного рабочего напряже­ния, выбирается меньшее значение. Продолжительность ■ 2 с.

Растворитель:... Температура раст­ворителя:...

Метод 1 Протирочный ма­териал: хлопковая вата Восстановление:

Внешний осмотр

Сопротивление


Как указано в п. 4.7.3 >1 ГОм


Четкая маркиров­ка


Не должно быть видимых повреж­дений

ДЯ<±(.Ло
Ом)

Группа 2

(4.33) Сила сцепления покры­тия торцевых по­верхностей*


Сопротивление


20


















































































































(4.33.6) Заклю­чительные изме­рения


Группа 3.

(4.31) Крепле­ние


Группа 3.1

(4.32) Адгезия

4.19. Быстрая
смена температур


4.23. Последо­вательность кли­матических испы­таний

Сухое тепло

Влажное тепло циклическое, ис­пытание Db, пер­вый цикл

Холод

Влажное тепло циклическое, ис­пытание Db, ос­тальные циклы


Номер пункта испытания (см. при­мечание 1)


Условия испытания (см. примечание 1)


Внешний осмотр


Материал под­ложки:...** Внешний осмотр


Сопротивление


Внешний осмотр

6А : нижняя темпе­ратура категории;

0В : верхняя темпе­ратура категории Внешний осмотр


Сопротивление


Объем
выборки
и критерий
приемки
(см. приме-
чание 2)


net


100


20


Требования
(см. примечание 1)


Не должно быть видимых повреж­дений


Не должно быть видимых пов­реждений

Ом)

Не должно быть видимых повреж­дений


Не должно быть видимых повреж­дений

Т?-)-... Ом)















































































































Номер пункта
испытания
(см. примечание 1)


Условия испытания (см. примечание 1)


Объем
выборки
и критерий
приемки
(см. приме-
чание 2)


Требования
(см. примечание 1)


Нагрузка пос­тоянным током


Внешний осмотр


Сопротивление


Не должно быть видимых повреж­дений

Д/?<±(...%
Ом)

Группа 3.2

4.24. Влажное тепло, постоянный режим


Без поляризован­ного напряжения Внешний осмотр


Сопротивление


20


Не должно быть видимых повреж­дений

Д7?<±(...%
Ом)

Группа 3.3.

4.25.1. Срок
службы при 70 °С


20


Группа 3.4

4.25.3. Срок службы при верхней темпера­туре категории


Материал печатной платы и располо­жение (см. п. 2.3.2 настоящих ТУ) Продолжительность: 1000 ч

Проверка после 48, 500 и ЮОО ч: внешний осмотр


сопротивление


Не должно быть видимых повреж­дений

дя<±(...%

Ом)


20


Расстояние (см. п. 2.3.2 настоящих ТУ) Продолжительность: ЮОО ч

Проверка после 48, 5000 и 1000 ч: внешний осмотр


Не должно быть видимых повреж­дений



















































































































Номер пункта
испытания
(см, примечание 1)


Условия испытания
(см. примечание 1)


Объем
выборки
и критерий
приемки
(см. приме-
чание 2)


Требования
(см. примечание 1)


























сопротивление


Л/?<±(.Ло
Ом

)




Группа 3.5

4.8. Температур­ная зависимость сопротивления


ND


Нижняя температу­ра категории/20 °С


2’0 °С/верхняя температура кате­гории


20


А/?

или

а: ... 10-VC

AR

с...% или

а: ... 40-6/°С























* Не применяют к резисторам-чипам, для которых в ТУ на изделия кон­кретных типов указано, что их следует крепить только на подложку из окиси алюминия.

** Если для отдельных подгрупп используются разные материалы подложки, то в ТУ на изделия конкретных типов должно быть указано, какой материал подложки используется в каждой подгруппе.

Примечания:

Г. Номера пунктов испытаний «и требований — по ГОСТ 28608, номера пун­ктов в скобках — по Поправке № 3 ГОСТ 28608, за исключением требований к изменению сопротивления, которые следует выбирать из табл. 1 и 2 настоящих ТУ.