---

500 510 520 530 540'

550 560 570

0,0000* 0,0001 * 0,0004* 0,0012* 0,0040* 0,0116* 0,023

0,038

0,060

0,091

0,139

0,208

0,323

0,503 0,710

0,862

0,954 0.995

0,995

0,952

580

590

600

610

620

630

640

650

660

670

680

690

700

710

720

730

740

750

760

770

0.870

0,757

0,631

0,503

0,381

0,265

0,175

0,107

0,061

0,032*

0,017*

0,0082*

0,0041*

0,0021*

0,0011*

0,0005*

0,0003*

0.0002*

0,0001*

0,0000*

±10 ±10 ±15 ±15 ±20' ±20 +40 ±40

3. Метод определения освещенности и
   энергетической освещенности

электрический режим в соответствии с протоколом фотометрирования.

Оптическую систему, содержащую объектив, настраивают так, чтобы в плос­кости фотометрирования было спроецировано сфокусированное изображение испытательной таблицы, размеры которого должны соответствовать указанным в

ТУ на приборы конкретных типов.

вающей диафрагмой находилось в плоскости фотометрирования.

т

отометриро-

ельной поверхности фотоприемника.

вания осветителем с известной силой света, измеряют расстояние от центра по­верхности тела накала лампы осветителя по перпендикуляру до плоскости фото­

метрирования.

(27)

где /ф — фототок фотоприемника, А;

в — световая чувствительность фотоприемника, А/лк;

в_е — энергетическая освещенность фотоприемника, А (Вт*м~²).

(28)

где I — сила света осветителя, кд;

I — расстояние, м.

Закон распределения погрешности — нормальный.

Закон распределения погрешности — нормальный.

4. Методы определения относительной
неравномерности освещенности и
энергетической освещенности

Последовательно устанавливают входное окно фотоприемника с огра­ничивающей диафрагмой в плоскости фотометрирования в положения, указанные на черт. 8 (для линейных ФППЗ — с шагом, равным диаметру ограничивающей диафрагмы, при этом участки не должны перекрываться), и в каждом из них из­меряют фототок фотоприемника.

Для матричных ФППЗ

Для линейных ФППЗ

Черт. 8

Н_е=± -±±7^ ,₁₀0, (29)

^піах і ■* m in

где /max, /min— наибольшее и наименьшее значения фототока фотоприемника из значений, измеренных по п. 4.1.2, А (отн. ед.).

Погрешность определения относительной неравномерности освещенности и энергетической освещенности с установленной вероятностью Р = 0,95 находится в интервале ±10%.

Закон распределения погрешности — нормальный.ПРИЛОЖЕНИЕ 2

Справочное

МЕТОДЫ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ
ИЗЛУЧЕНИЯ ОСВЕТИТЕЛЯ И ОПТИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ

1. Принцип измерения

Определение спектральной характеристики излучения осветителя и оптичес­кой системы основано на сравнении монохроматического излучения образцового излучателя и поверяемого осветителя и оптической системы на различных длинах волн оптического излучения — метод образцового излучателя или на сравнении характеристики спектральной чувствительности опорного приемника, измеренной с помощью поверяемого осветителя и оптической системы с нормированной (паспортной) характеристикой спектральной чувствительности опорного приемни­ка (метод опорного приемника).

1. Метод образцового излучателя

   1. Аппаратура

      1. Определение спектральной характеристики излучения поверяемого ос­ветителя и оптической системы проводят на установке, структурная схема кото­рой приведена на черт. 9.

1 — осветитель и оптическая сис-
тема; 2 -- образцовый излучатель;

3 -- устройство выделения моно­хроматического излучения; 4 — фотоприемник с устройством пита­ния и измерения выходного сиг­

нала

Черт. 9

полуширина выделяемого интервала длин волн — не более 5 нм;

шаг выделения интервалов длин волн — не более 20 нм.

Монохроматор должен удовлетворять требованиям ГОСТ 17333 в диапа­зоне длин волн от 350 до НОЮ нм.

Д

ми.

опускается применять несколько фотоприемников, обеспечивающих прове­дение измерений в указанном диапазоне длин перекрывающимися поддиапазона­

ТУ на фотоприемники конкретных типов и измерение выходного сигнала фото­приемника методами, изложенными в соответствующей эксплуатационной доку­ментации с погрешностью, не превышающей ±5 %.

W о

в соответствии с эксплуатационной документацией.

Это положение фотоприемника в процессе измерений должно оставаться не­

изменным.

Последовательно устанавливают перед входной щелью монохроматора об­разцовый источник и поверяемый осветитель с оптической системой, устанавли­

вают длину волны монохроматического излучения монохроматора в диапазоне длин волн от 3'50 до '1’100 нм с шагом не более 20 нм и отмечают показания из­мерителя выходного сигнала фотоприемника.

Измерения на каждой длине волны проводят при настройке монохроматора,

о

отоприем-

беспечивающей получение достоверного отсчета выходного сигнала ника.

с истемой (Фх ) в ваттах вычисляют по формуле

(30)

где а _х, а₀— значения выходных сигналов фотоприемника, измеренные при об­лучении поверяемым осветителем и образцовым излучателем, отн. ед.;

Ф_ох — мощность монохроматического излучения, измеренная образцовым из­лучателем, Вт.

Погрешность определения спектральной характеристики излучения методом образцового излучателя находится в интервале ± 15 % с установленной вероятно­стью Р —0,95.

Закон распределения погрешности — нормальный.

2. Метод опорного приемника

   1. Аппаратура

Спектральную характеристику излучения поверяемого осветителя сис­темы определяют на установке, структурная схема которой приведена на черт. 10_

1 — осветитель и оптическая сис­тема; 2 — устройство выделения монохроматического излучения;

3 — опорный фотоприемник C VC.T- ройствами питания и измерения выходного сигнала

Черт. 10

— поп, 1.1.4 настоящего приложения.

настоящего приложения.

ка за выходной щелью выбирают так, чтобы его фоточувствительная поверхность полностью освещалась излучением монохроматора.

Это положение опорного фотоприемника в процессе измерений должно оста­

ваться неизменным.

Сканируя спектр, измеряют выходной сигнал опорного фотоприемника в диа­пазоне длин волн от 350 до ПОО нм с шагом не более 20' нм.

ф^ = . (31)

где а_х — значение выходного сигнала опорного фотоприемника, измеренное по пп. 2.2.3; 2.2.4, А (В);

— монохроматическая чувствительность опорного фотоприемника,

A/Вт (В/Вт).

Погрешность определения спектральной характеристики излучения облучате­ля методом опорного приемника находится в интервале ±115 % с установленной вероятностью Р = 01,95.

Закон распределения погрешности — нормальный.ПРИЛОЖЕНИЕ 3

Справочное

ТЕЛЕВИЗИОННЫЕ ИСПЫТАТЕЛЬНЫЕ
ТАБЛИЦЫ И ТЕСТ-ОБЪЕКТЫ

1. Технические требования

   1. В зависимости от формы рабочей фоточувствительной поверхности отно­шение размеров сторон испытательных таблиц (ширины к высоте) должно быть 4:3.

   2. Размеры рабочего поля диапозитивов таблиц должны быть 18X24; 24X32 мм.

   3. Отклонение рабочего поля от номинального не должно быть более +0,04 мм.

   4. Требования к штриховым мирам и денситометрическим параметрам таб­лиц — в соответствии с ГОСТ 14872.

   5. Неравномерность толщины линий в штриховых мирах по отношению к их номинальному значению не должна превышать ±10' %.

   6. Требования к таблицам и их элементам, предназначенным для проверки невещательных систем, устанавливаются по согласованию с заказчиком.

   7. Испытательные таблицы могут содержать испытательные элементы, обес­печивающие проверку только одного или нескольких параметров.

   8. Для измерения параметров приборов используются испытательные таб­лицы:

ИТ — 72 по ГОСТ 20466; универсальные испытательные таблицы по ГОСТ 14872; 0177, 0377, 0477 — для настройки, установки электрического режима, из­мерения напряжения или тока насыщения; 0577—0577—2 — для измерения ко­эффициента передачи модуляции; 0164 — для измерения неравномерности вы­ходного сигнала; 0485—1, 0485—2 — для измерения параметров в автоматизи­рованных измерительных устройствах; тест-объекты Т1—84, Т4—84 — для изме­рения неравномерности выходного сигнала, напряжения или тока насыщения.