---

Электрические изме­рения (перед электро­термотренировкой)

Электрические изме­рения (перед электро­термотренировкой)

Электрические измере­ния (заключительные из­мерения после испыта­ния)

Электротермотрени­ровка

МЭК 147 или как установлено в ТУ на приборы конкретных типо

в

Условия испытания

Программа испытаний

Установленные пара­метры (необходимое ко­личество параметров). Дефектные приборы изы­маются

Параметры установ­ленные по качественному признаку (важнейшие параметры). Дефектные приборы изымаются

У

■ ill

станавливаются в ТУ на приборы конкретных типов. Дефектные при­боры изымаютс

я

Устанавливаются в ТУ на приборы конкретных типов. Длительность (ча­сы)

168

72

Й ■!!!<

48

ГОСТ 28624—90 С. 13

Электрические измере­ния (после электротер­мотренировки)

Те же параметры, что и по порядку 6А или 6В настоящей таблицы

Дефектные приборы изымаются. Партия за­браковывается, если чис­ло дефектных приборов превышает 10%

14 ГОСТ 28624—90

1. Как правило, не проводятся для приборов без внутренних полостей, если иное не установлено в ТУ на приборы конкретных типов (другие методы испытаний — на рассмотрении).

2. * Не применяется для двухразъемных диодов с аксиальными выводами.

3. ** Для диодов в прозрачных корпусах испытание может быть проведено в любом месте данной программы испытаний.

Примечание: Знак «+» означает — испытание проводится; «—»— испытание не проводится

В табл. 5 и 6 приведены планы выборочного контроля, кон­кретные значения которых устанавливаются в стандартах вида <форма ТУ» на диоды и транзисторы.

Таблица 5

Требования к выборочному контролю для испытаний по группе А

• Значения AQL (Acceptable Quality Level — приемлемый уровень качества) приведены для общего числа дефектных приборов в каждой подгруппе.

• * Если для испытаний по группе А выбран LTPD (Lot Tolerance Percent Defective—допустимый процент дефектных приборов в партии), то AQL раз­решается использовать только для подгруппы А2.

• **LTPD с максимальным приемочным числом 4.

• ⁴ Если 100%-ной проверкой подтверждено, что число дефектных приборов в партии менее 0,1%, то выходной выборочный контроль электрических пара­метров в данной подгруппе для данной партии не проводится.

Таблица 6

Требования к выборочному контролю для испытаний по группам В и С,
в которых следует использовать LTPD

LTPD*

Категория III

Подгруппа

Категории I и II

Программа отбраковочных испытаний

В1

С1

15

30

Подгруппа

Категории I и II

В2 С2а

С2Ь

С2с

С2

ВЗ СЗ

В4 С4

В5 С5

Вб С6

В7 С7

В8 С8

В9 С9

15

15

15

20

15

15

20

20

20

10

15

15

15

I ¹⁵

20

15

15

20

20

20

5

* 5

15

15

15

20

15

15

20

20

20

7

7

15

15

15

20

15

15

20

20

20

10

10

15

15

15

20

15

15

20

20

20

7

15

15

15

20

15

15

20

20

20

10

10

Продолжение таб.і. 6

LTPD*

Категория Ш

Прогр ам м а отбр аковоч ны х
испытаний

* LTPD с максимальным приемочным числом 4.

4. МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЙ И ИЗМЕРЕНИЙ

Методы испытаний и измерений полупроводниковых приборов со ссылками на соответствующие стандарты МЭК (государствен­ные стандарты) приведены в таблице настоящего пункта. Данны­ми методами следует пользоваться в том случае, когда это указа­но в ТУ на приборы конкретных типов в соответствии с МЭК 747—10 (ГОСТ 28623).

Методы испытаний и измерений

О

Метод испытания
или измерения
по МЭК (ГОСТ)

бозначение I Буквенное прибора обозначение і Наименование параметра ^р I параметра !

Общие параметр

ы

G-001 !

1 і

I

І

G-002 '

I !

G-003 :

G-004 і

1V,

к

ПО­

ПО

; Температура в конт­рольной точке

I Тепловое сопротивлем Дне (исключая транзи-1 Дторы)

I Переходное тепловое •полное сопротивление ^;

I Тепловое сопротивле-

•ние (для транзисторов) і Методы испытаний

приборов чувствителъ- •ных к статическому электричеству

747—2 и 747—6. гл. п. 2.1 (ГОСТ*)

747—2 и 747-6, гл. п. 2.2.

I і

,47 (ЦБ) 886 с учетом і правок

і 47(ЦБ) 955 с учетом ; право

Диоды сигнальные и переключательные.
Методы измерения основных параметров

D-001

D-002

D-003

D-004

D-005

D-006

D-007

D-008

D-009

D-010

D-011

D-012

D-021

D-022

D-023

D-024

Прямое напряжение

Обратный ток

Заряд восстановления ¹

Время обратного вос­становления:

при заданном Irm

при заданном

Время прямого вос-1 становления

Импульсное напряже- *

ние прямого восстанов­ления

Общая емкость

Коэффициент детекти­

рования по напряжению

Коэффициент детекти­рования по мощности

Пробивное напряжение

Переходная энергия в
обратном направлении
I
I

Обратная рассеиваемая мощность

1

! Шум

747—3, гл. IV, разд. 1,п. 2 (ГОСТ*)

747—3, гл. IV, разд. 1, п. I

747—3, гл. IV, разд. 1, п. 4.2 (ГОСТ*)

747—3, гл. IV, разд. I, п. 4.1

747—3, гл. IV, разд. 1, п. 3

747—3, гл. IV, разд. 1, п. 5.1

747—3, гл. IV, разд. 1, п. 5.2

747—2, гл. IV, п. 1.3

(ГОСТ*)

747—3

747—2, гл. IV, п. 3.3

747—3, гл. IV, разд. 1, п. 6

Опорные диоды и стабилитроны

V. ^lz

^а V Z

і Рабочее напряжение

Дифференциальное со­противление

Температурный коэф­фициент напряжения ста­билизации

Шумовое напряжение

Ї 747—3, гл. IV, разд. 2, п. 1

і 747—3, гл. IV, разд. 2, п. 2

747—3, гл. IV, разд. 2, л. 3

I I

Ї 747—3, гл. IV, разд. 2, п. 7

D-031

D-032 Q

D-033

Варикапы

Отклонение значения емкости

Эффективный коэффи­циент добротности

Последовательное со­противление

47 (ЦБ) 888

147—2В, гл. I, оазд. 5, п. 5 (ГОСТ*)

147—2В, гл. I, разд. 5, п. 6

Обозначение
прибора

Буквенное
обозначение
параметра

I
4

Наименование параметра

Метод испытания
или измерения
по мэк (ГОСТ)

Выпрямительные диоды

D-®9

D-041

D-042 0-043 D-044

D-045

D-046

D-047

D-048

D-049

^V(BR)
^FM

^FSM

^RSM

Qr
^RRM
^RSM
£rrm
^£rsm

^RM

Пробивное напряже­ние

Импульсное прямое на­пряжение (импульсный метод)

Импульсный обратный ток

Ударный (неповторяю­щийся) прямой ток

Неповторяющееся им­пульсное обратное на­пряжение

Заряд восстановления

Обратная рассеиваемая мощность

Переходная энергия в обратном направлении

Им пульсн ый о бр а тн ы й ток при рассеиваемой мощности, обусловленной средним прямым током

Импульсный ток не- пробоя корпуса

747—2, гл. IV, п. 1.3

747—2, гл. IV, п. 1.2.3

747—2, гл. IV, п. 1.4.3

747—2, гл. IV, п. 3.1

747—2, гл. IV, п. 3.2

747—2, гл. IV, п. 1.5

747—2, гл. IV, п. 3.3

47 (ЦБ) 888, и. 4.2

747—2, гл. IV, п. 1.4.4

Диоды — регуляторы

D-050 I

D-051 I

D-052

D-053

0-054

D-055

Т-001

Ток регулирования

Температурный коэф­фициент тока регулиро­вания

Изменение тока регу­лирования

Напряжение ограниче­ния

Проводимость диода —> |регулятора тока в режи­ме малого сигнала

Проводимость на из­гибе вольтамперной ха­рактеристики

47 (ЦБ)* 892 с учетом по­правок

тока

747—3, гл. IV, разд. З, п. 1

747—3, гл. IV, разд. 3, п. 2

747—3, гл. IV, разд. З, п. 3

747—3, гл. IV, разд. 3, п. 4

747—3, гл. IV, разд. 3, п. 5

747—3, гл. IV, разд. 3, п. 6

Транзисторы биполярные.

Методы измерения основных параметров

^сво

Обратный ток коллек­тор-база

* Центральное Бюро.

** Находится в стадии разработки.

747—7 (ГОСТ**)