4—реальная поверхность; Ї—средняя плоскость; А—плоскость параллельная сред* ней и проходящая через наиболее выступающую точку реальной поверхности
Черт. 3
Если задан комплект баз (например, черт. 4а), то совмещение баз измеряемой детали с базирующими элементами средства измерений или контроля осуществляется по следующим правилам.
База, указанная первой (установочная база), совмещается с базирующим элементом средства измерений таким образом» чтобы Последний располагался по отношению к реальной базе, как прилегающий элемент по ГОСТ 24642.
Черт. 4Если установочной базой является плоскость, то при упрощенном базировании в системе трех координатных плоскостей должен быть обеспечен ее контакт с базирующим элементом по трем точкам (черт. 46, точки Ai, Аз, Лз).
База, указанная второй (направляющая база), совмещается с базирующим элементом средства измерений только за. счет перемещения по тем степеням свободы, которые остались после базирования по первой базе.
Базирующий элемент средства измерений должен иметь, номинальное расположение относительно первой базы, касаться реальной направляющей базы и при соблюдении этих условий располагаться по отношению к реальной направляющей базе так, чтобы» наибольшее расстояние от нее до базирующего элемента средства измерений было минимальным.
Если направляющей базой является плоскость, то при упрощенном базировании в системе трех координатных плоскостей должен быть обеспечен ее контакт с базирующим элементом по двум точкам (черт. 4в, точки Bi и Вз).
База, указанная третьей (опорная база), совмещается с базирующим элементом средства измерений за счет перемещения детали по той степени свободы, которая осталась после базирования по первой и второй базам. Базирующий элемент средства измерений должен иметь номинальное расположение относительно первой и второй баз и касаться реальной опорной поверхности. Если опорной базой является плоскость, то при базировании в системе трех координатных плоскостей должен быть обеспечен
ее контакт с базирующим элементом в одной точке (черт. 4г, точка С).
Примечания:
Если комплект баз задан плоскостью и осью цилиндра, перпендикулярной к ней (черт. 5а), то базовая ось (вторая база) воспроизводится осью наибольшего цилиндра, вписанного в отверстие изделия (или наименьшего цилиндра, описанного вокруг вала), при условии, что ось цилиндра перпендикулярна базовой плоскости (первой базе) — черт. 5 б.
Указанные в п. 2,5.4 правила совмещения баз измеряемой детали с базирующими элементами средств измерений применимы и в тех случаях, когда вместо прилегающих используются средние элементы.
Исключение влияния отклонений формы измеряемого элемента при измерении отклонений расположения поверхностей
При оценке отклонений расположения поверхностей отклонения формы измеряемой поверхности или измеряемого профиля из рассмотрения исключают. Исключение влияния отклонений формы достигают заменой реальных измеряемых элементов прилегающими. За ось, плоскость симметрии или центр реального измеряемого элемента принимают ось, плоскость симметрии или центр прилегающего элемента, соответственно.
Если влияние отклонений формы измеряемых элементов исключают путем замены их средними элементами или элементами, имеющими ту же номинальную форму, что и измеряемый элемент, но по расположению отличающимися от прилегающих элементов (п. 2.4.2), то следует учитывать указания, приведенные в п. 2.5.3.
Если измерение отклонений расположения поверхности проводят по точкам реальной поверхности, то не исключенные из рассмотрения отклонения формы измеряемой поверхности следует рассматривать как погрешность метода измерений.
Зависимые и независимые допуски расположения поверхности или формы
При независимых допусках действительное отклонение расположения поверхности или формы не должно превышать заданного допуска независимо от действительных размеров измеряемых элементов. Влияние отклонений размеров измеряемых элементов исключают в процессе измерений, либо рассматривают как составляющую погрешности измерений.
При зависимых допусках превышение отклонения расположения или формы (по сравнению со значением допуска, указанным на чертеже) считают допустимым, если оно находится в пределах, компенсируемых отклонениями действительных размеров прилегающего измеряемого элемента и (или) базы от предела максимума материала.
Реализация возможности расширения допусков расположения поверхности, если они заданы зависимыми, достигается не- аависимым измерением отклонений размеров, формы и расположения поверхностей и последующей оценкой годности по рассчитываемому для данной детали действительному значению зависимого допуска, либо контролем комплексными калибрами (разд. 4), базированием средств ’ измерений по жестким оправкам, пробкам, кольцам и тому подобным базирующим элементам, размеры которых соответствуют пределу максимума материала для размера базы детали.
ТРЕБОВАНИЯ К ХАРАКТЕРИСТИКАМ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ
ФОРМЫ И РАСПОЛОЖЕНИЯ ПОВЕРХНОСТЕЙ
Формы измерительных наконечников контактных приборов и устройств для измерений отклонений формы и расположения поверхностей выбирают в соответствии с табл. 1.
Таблица 1
Форма измерительной поверхности наконечпка |
Имбражевме жзмернтельного вакааечввка |
Форма измеряемо* поверхности |
Сферическая |
|
Плоская, внутренняя цилиндрическая поверхность |
Цилиндрическая |
|
Образующая наружны» поверхностей тел враще» НИЯ |
Тороидальная |
г < R |
Наружная цилиндрическая поверхность |
Каплевидная |
6Я г<К |
Внутренняя цилиндрическая поверхность |
Плоская |
Г=?? = оо |
Сферическая |
Радиусы г и J? измерительных наконечников выбирают из следующего ряда: 0,25; 0,8; 2,5; 8; 25; 80 мм.
Примечание. Допускается применение измерительных наконечников с ^радиусами, установленными в стандартах на отдельные виды средств измерений.
Частотные характеристики приборов для измерений отклонений формы и расположения поверхностей, включая частотные фильтры в схеме преобразования измерительного сигнала и частотные характеристики измерительного устройства, должны обеспечивать исключение влияния шероховатости поверхности и возможность измерений неровностей поверхности с минимальном шагом, равным базовой длине (отсечке шага), принятой для шероховатости измеряемой поверхности.
В приборах с прямолинейным перемещением измерительного наконечника относительно измеряемого элемента предельную длину волны фильтра Лйв, при которой фильтр, исключающий шероховатость, передает высоту неровностей на 75%, следует выбирать из ряда 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8,0; 25,0; 80,0 мм.
Предельную длину волны фильтра, если она не оговорена особо, следует выбирать в зависимости от шероховатости измеряемой поверхности в соответствии с табл. 2.
Таблица 2
Параметры шероховатости, мим |
Предельная длина волны фильтра, i-gQ мм |
|
|
т Я |
|
До 0,025 Св. 0,025 до 0,4 » 0,4 » 3,2 » 3,2 » 12,5 » 12,5 » 100,0 » 100,0 |
До 0,1 Св, 0,1 до 1,6 » 1,6 » 12,5 » 12,5 » 50,0 » 5О,0 > 400,0 » 400,0 |
0,25 0,8 2,5 8,0 25.0 80,0 |
Примечание, При применении фильтра с предельной длиной волны больше указанной в табл. 2, отфильтровывают часть отклонений формы (волнистости), вследствие чего измеренные значения отклонений формы получают заниженными. При применении фильтра с предельной длиной волны Х(к, меньше указанной в табл. 2, в фильтрованном профиле содержится часть шероховатости поверхности, вследствие чего измеренные значения отклонений формы получают завышенными.
В приборах с круговым перемещением измерительного на- •конечника относительно измеряемого элемента предельное число
колебаний за один оборот детали ngR, при котором фильтр, исключающий шероховатость, передаёт высоту неровностей на 75%, выбирают из ряда: 15; 25; 50; 150; 500; 1500 колебаний за один оборот-
Предельно число колебаний за один оборот, если оно не оговорено особо, выбирают в зависимости от допуска круглости и диаметра иЗйеряемЬго элемента в соответствии с табл. 3.
Таблица 3
Номинальный Диаметр |
Предельное число колебаний фильтра за один оборот детали ngR (допуск круглости TFK в мкм) |
|||
измеряемой поверхности, мм |
до 2,Б |
св. 2.Б ДО 5,0 |
св. 5,0 до 10,0 |
св. 10.0 |
До 16 |
150 |
50 |
50 |
50 |
Св. 10 до 50 |
500 |
150 |
150 |
50 |
> 50 > 120 |
1500 |
500 |
500 |
150 |
> 120 » 250 |
1500 |
4500 |
500 |
500 |
» 250 |
1500 |
1500 |
1500 |
1500 |
Примечание. При применении фильтра с предельным числом колебаний я, в йеньше указанного в табл. 3, отфильтровывается часть формы (волнистости) , вследствие чего измеренные значения отклонений от круглости получаются заниженными.
Фильтры, предельное число колебаний которых ngR меньше 50 колебаний за один оборот, при измерении круглости (включая волнистость) использовать не следует из-за больших потерь информации.
Для измерений круглости без учета волнистости рекомендуется применять для всех диаметров фильтр с предельным числом колебаний, равным 15.
При применении фильтра с предельным числом колебаний ngR больше указанного в табл. 3, в фильтрованном профиле содержится часть шероховатости поверхности в поперечном сечении, вследствие чего измеренные значения отклонений формы получают завышенными.
Измерительное усилие при контактных методах измерений отклонений формы и расположения выбирают таким, чтобы обеспечить постоянный контакт измерительного наконечника с измеряемым элементом и в то же время, чтобы деформации измеряемого элемента и измерительной системы были пренебрежимо малы.
Рекомендуемые значения, допускаемых погрешностей измерений отклонений формы и расположения поверхностей приведены в приложении 3.
КОНТРОЛЬ ФОРМЫ И РАСПОЛОЖЕНИЯ ПОВЕРХНОСТЕЙ
КАЛИБРАМИ
Калибры для контроля формы и'расположения поверхностей применяют, как правило, при зависимых допусках формы и расположения поверхности; они позволяют оценить изделие по признаку «годное» или «брак», не устанавливая действительного отклонения формы или расположения поверхностей.
„ Применение калибров без каких-либо расчетов позволяет использовать преимущества зависимых допусков.
Примечание При контроле калибрами деталей с независимыми допусками формы и расположения поверхностей возможно принятие в качестве годных таких деталей, у которых отклонение формы или расположения поверхностей превышают заданный допуск на значение, зависящее от действительных отклонений размеров контролируемых элементов.
В тех случаях, когда это превышение скомпенсировано смещением полей допусков калибра внутрь поля допуска изделия или оно в совокупности с другими составляющими погрешности контроля не превышает допускаемого значения погрешности контроля, применение калибров возможно и при независимых допусках расположения поверхности.
Калибры для контроля формы поверхностей могут быть применены в тех случаях, когда отклонения формы (например,, отклонение от прямолинейности) допускается за пределами поля допуска размера элементов.
Допуски формы поверхностей, если они должны лежать внутри поля допуска размера и меньше допуска размера, калибрами не контролируются. Предельные калибры для контроля допуска размера, если они отвечают интерпретации предельных размеров по» ГОСТ 25346, позволяют лишь установить, что отклонения формы находятся в пределах допуска размера.
Калибры для контроля расположения поверхностей могут быть применены при заданных допусках соосности, симметричности, пересечения осей, допусках перпендикулярности и наклона осей или оси относительно плоскости, позиционных допусках осей или плоскостей симметрии.
Методика расчета и допуски калибров для контроля расиоло»- ження поверхностей приведены в ГОСТ 16085.
" 1ПРИЛОЖЕНИЕ 1
Справочное
ТЕРМИНЫ И ОПРЕДЕЛЕНИЯ, ИСПОЛЬЗУЕМЫЕ ПРИ ИЗМЕРЕНИЯХ
ОТКЛОНЕНИИ «ОРМЫ И РАСПОЛОЖЕНИЯ
Измеренный профиль — приближенное отображение реального профиля, ■полученное в результате непрерывного или дискретного (точечного) измерения (ощупывания) его.
Измеренная поверхность — приближенное отображение реальной поверхности, полученное в результате ее измерения (ощупывания).
Фильтрованный профиль — измеренный профиль, у которого с помощью аналогового (механического или электрического) или цифрового фильтра ис- ■ключены определенные составляющие шероховатости поверхности и (или) отклонения формы.
Фильтрованная поверхность — измеренная поверхность, полученная как совокупность фильтрованных профилей.
Фильтр для исключения шероховатости поверхности — электрический фильтр нижних частот, служащий для исключения в измеренном профиле коротковолновых составляющих, т. е. для исключения шероховатости.
Предельная длина волны — длина синусоидальной волны, амплитуда которой передается на 75% фильтром, исключающим шероховатость поверхности,