4—реальная поверхность; Ї—средняя плоскость; А—плоскость параллельная сред* ней и проходящая через наиболее выступающую точку реальной поверхности

Черт. 3



  1. Если задан комплект баз (например, черт. 4а), то сов­мещение баз измеряемой детали с базирующими элементами сред­ства измерений или контроля осуществляется по следующим пра­вилам.

    1. База, указанная первой (установочная база), совмеща­ется с базирующим элементом средства измерений таким образом» чтобы Последний располагался по отношению к реальной базе, как прилегающий элемент по ГОСТ 24642.

Черт. 4Если установочной базой является плоскость, то при упрощен­ном базировании в системе трех координатных плоскостей должен быть обеспечен ее контакт с базирующим элементом по трем точ­кам (черт. 46, точки Ai, Аз, Лз).

  1. База, указанная второй (направляющая база), совме­щается с базирующим элементом средства измерений только за. счет перемещения по тем степеням свободы, которые остались пос­ле базирования по первой базе.



Базирующий элемент средства измерений должен иметь, номи­нальное расположение относительно первой базы, касаться реаль­ной направляющей базы и при соблюдении этих условий распола­гаться по отношению к реальной направляющей базе так, чтобы» наибольшее расстояние от нее до базирующего элемента средства измерений было минимальным.

Если направляющей базой является плоскость, то при упрощен­ном базировании в системе трех координатных плоскостей должен быть обеспечен ее контакт с базирующим элементом по двум точ­кам (черт. 4в, точки Bi и Вз).

База, указанная третьей (опорная база), совмещается с базирующим элементом средства измерений за счет перемещения детали по той степени свободы, которая осталась после базиро­вания по первой и второй базам. Базирующий элемент средства измерений должен иметь номинальное расположение относительно первой и второй баз и касаться реальной опорной поверхности. Если опорной базой является плоскость, то при базировании в системе трех координатных плоскостей должен быть обеспечен

ее контакт с базирующим элементом в одной точке (черт. 4г, точ­ка С).

Примечания:

      1. Если комплект баз задан плоскостью и осью цилиндра, перпендикуляр­ной к ней (черт. 5а), то базовая ось (вторая база) воспроизводится осью наи­большего цилиндра, вписанного в отверстие изделия (или наименьшего ци­линдра, описанного вокруг вала), при условии, что ось цилиндра перпендику­лярна базовой плоскости (первой базе) — черт. 5 б.

      2. Указанные в п. 2,5.4 правила совмещения баз измеряемой детали с ба­зирующими элементами средств измерений применимы и в тех случаях, когда вместо прилегающих используются средние элементы.

    1. Исключение влияния отклонений формы измеряемого эле­мента при измерении отклонений расположения поверхностей

      1. При оценке отклонений расположения поверхностей от­клонения формы измеряемой поверхности или измеряемого профи­ля из рассмотрения исключают. Исключение влияния отклонений формы достигают заменой реальных измеряемых элементов при­легающими. За ось, плоскость симметрии или центр реального из­меряемого элемента принимают ось, плоскость симметрии или центр прилегающего элемента, соответственно.

      2. Если влияние отклонений формы измеряемых элементов исключают путем замены их средними элементами или элемента­ми, имеющими ту же номинальную форму, что и измеряемый эле­мент, но по расположению отличающимися от прилегающих эле­ментов (п. 2.4.2), то следует учитывать указания, приведенные в п. 2.5.3.

      3. Если измерение отклонений расположения поверхности проводят по точкам реальной поверхности, то не исключенные из рассмотрения отклонения формы измеряемой поверхности следует рассматривать как погрешность метода измерений.

    2. Зависимые и независимые допуски расположения поверх­ности или формы

      1. При независимых допусках действительное отклонение расположения поверхности или формы не должно превышать за­данного допуска независимо от действительных размеров измеряе­мых элементов. Влияние отклонений размеров измеряемых элемен­тов исключают в процессе измерений, либо рассматривают как со­ставляющую погрешности измерений.

      2. При зависимых допусках превышение отклонения распо­ложения или формы (по сравнению со значением допуска, указан­ным на чертеже) считают допустимым, если оно находится в пре­делах, компенсируемых отклонениями действительных размеров прилегающего измеряемого элемента и (или) базы от предела мак­симума материала.

      3. Реализация возможности расширения допусков располо­жения поверхности, если они заданы зависимыми, достигается не- аависимым измерением отклонений размеров, формы и расположе­ния поверхностей и последующей оценкой годности по рассчитыва­емому для данной детали действительному значению зависимого допуска, либо контролем комплексными калибрами (разд. 4), ба­зированием средств ’ измерений по жестким оправкам, пробкам, кольцам и тому подобным базирующим элементам, размеры кото­рых соответствуют пределу максимума материала для размера ба­зы детали.

  1. ТРЕБОВАНИЯ К ХАРАКТЕРИСТИКАМ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ
    ФОРМЫ И РАСПОЛОЖЕНИЯ ПОВЕРХНОСТЕЙ

    1. Формы измерительных наконечников контактных приборов и устройств для измерений отклонений формы и расположения по­верхностей выбирают в соответствии с табл. 1.

Таблица 1

Форма измеритель­ной поверхности наконечпка

Имбражевме жзмернтельного вакааечввка

Форма измеряемо* поверхности

Сферическая


Плоская, внутренняя ци­линдрическая поверхность

Цилиндрическая


Образующая наружны» поверхностей тел враще» НИЯ

Тороидальная

г < R

Наружная цилиндричес­кая поверхность

Каплевидная

6Я

г<К

Внутренняя цилиндричес­кая поверхность

Плоская

Г=?? = оо

Сферическая

Радиусы г и J? измерительных наконечников выбирают из сле­дующего ряда: 0,25; 0,8; 2,5; 8; 25; 80 мм.

Примечание. Допускается применение измерительных наконечников с ^радиусами, установленными в стандартах на отдельные виды средств изме­рений.

  1. Частотные характеристики приборов для измерений откло­нений формы и расположения поверхностей, включая частотные фильтры в схеме преобразования измерительного сигнала и частот­ные характеристики измерительного устройства, должны обеспечи­вать исключение влияния шероховатости поверхности и возмож­ность измерений неровностей поверхности с минимальном шагом, равным базовой длине (отсечке шага), принятой для шероховато­сти измеряемой поверхности.

  2. В приборах с прямолинейным перемещением измеритель­ного наконечника относительно измеряемого элемента предельную длину волны фильтра Лйв, при которой фильтр, исключающий ше­роховатость, передает высоту неровностей на 75%, следует выби­рать из ряда 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8,0; 25,0; 80,0 мм.

Предельную длину волны фильтра, если она не оговорена осо­бо, следует выбирать в зависимости от шероховатости измеряемой поверхности в соответствии с табл. 2.

Таблица 2

Параметры шероховатости, мим

Предельная длина волны фильтра, i-gQ мм


т Я

До 0,025

Св. 0,025 до 0,4

» 0,4 » 3,2

» 3,2 » 12,5

» 12,5 » 100,0

» 100,0

До 0,1

Св, 0,1 до 1,6 » 1,6 » 12,5

» 12,5 » 50,0 » 5О,0 > 400,0 » 400,0

0,25

0,8

2,5

8,0

25.0

80,0

Примечание, При применении фильтра с предельной длиной волны больше указанной в табл. 2, отфильтровывают часть отклонений формы (волнистости), вследствие чего измеренные значения отклонений формы полу­чают заниженными. При применении фильтра с предельной длиной волны Х(к, меньше ука­занной в табл. 2, в фильтрованном профиле содержится часть шероховатости поверхности, вследствие чего измеренные значения отклонений формы получают завышенными.



В приборах с круговым перемещением измерительного на- •конечника относительно измеряемого элемента предельное число

колебаний за один оборот детали ngR, при котором фильтр, исклю­чающий шероховатость, передаёт высоту неровностей на 75%, вы­бирают из ряда: 15; 25; 50; 150; 500; 1500 колебаний за один обо­рот-

Предельно число колебаний за один оборот, если оно не ого­ворено особо, выбирают в зависимости от допуска круглости и диаметра иЗйеряемЬго элемента в соответствии с табл. 3.

Таблица 3

Номинальный Диаметр

Предельное число колебаний фильтра за один оборот детали ngR (допуск круглости TFK в мкм)

измеряемой поверхности, мм

до 2,Б

св. 2.Б

ДО 5,0

св. 5,0 до 10,0

св. 10.0

До 16

150

50

50

50

Св. 10 до 50

500

150

150

50

> 50 > 120

1500

500

500

150

> 120 » 250

1500

4500

500

500

» 250

1500

1500

1500

1500

Примечание. При применении фильтра с предельным числом колебаний я, в йеньше указанного в табл. 3, отфильтровывается часть формы (волнисто­сти) , вследствие чего измеренные значения отклонений от круглости получают­ся заниженными.



Фильтры, предельное число колебаний которых ngR меньше 50 колебаний за один оборот, при измерении круглости (включая волнистость) использовать не следует из-за больших потерь ин­формации.

Для измерений круглости без учета волнистости рекомендует­ся применять для всех диаметров фильтр с предельным числом колебаний, равным 15.

При применении фильтра с предельным числом колебаний ngR больше указанного в табл. 3, в фильтрованном профиле содержит­ся часть шероховатости поверхности в поперечном сечении, вслед­ствие чего измеренные значения отклонений формы получают за­вышенными.

    1. Измерительное усилие при контактных методах измерений отклонений формы и расположения выбирают таким, чтобы обес­печить постоянный контакт измерительного наконечника с изме­ряемым элементом и в то же время, чтобы деформации измеряе­мого элемента и измерительной системы были пренебрежимо малы.

    2. Рекомендуемые значения, допускаемых погрешностей изме­рений отклонений формы и расположения поверхностей приведены в приложении 3.

  1. КОНТРОЛЬ ФОРМЫ И РАСПОЛОЖЕНИЯ ПОВЕРХНОСТЕЙ
    КАЛИБРАМИ

    1. Калибры для контроля формы и'расположения поверхно­стей применяют, как правило, при зависимых допусках формы и расположения поверхности; они позволяют оценить изделие по признаку «годное» или «брак», не устанавливая действительного отклонения формы или расположения поверхностей.

„ Применение калибров без каких-либо расчетов позволяет ис­пользовать преимущества зависимых допусков.

Примечание При контроле калибрами деталей с независимыми допус­ками формы и расположения поверхностей возможно принятие в качестве год­ных таких деталей, у которых отклонение формы или расположения поверх­ностей превышают заданный допуск на значение, зависящее от действительных отклонений размеров контролируемых элементов.

В тех случаях, когда это превышение скомпенсировано смещением полей допусков калибра внутрь поля допуска изделия или оно в совокупности с другими составляющими погрешности контроля не превышает допускаемого значения погрешности контроля, применение калибров возможно и при неза­висимых допусках расположения поверхности.

  1. Калибры для контроля формы поверхностей могут быть применены в тех случаях, когда отклонения формы (например,, отклонение от прямолинейности) допускается за пределами поля допуска размера элементов.

Допуски формы поверхностей, если они должны лежать внутри поля допуска размера и меньше допуска размера, калибрами не контролируются. Предельные калибры для контроля допуска раз­мера, если они отвечают интерпретации предельных размеров по» ГОСТ 25346, позволяют лишь установить, что отклонения формы находятся в пределах допуска размера.

  1. Калибры для контроля расположения поверхностей могут быть применены при заданных допусках соосности, симметрично­сти, пересечения осей, допусках перпендикулярности и наклона осей или оси относительно плоскости, позиционных допусках осей или плоскостей симметрии.

Методика расчета и допуски калибров для контроля расиоло»- ження поверхностей приведены в ГОСТ 16085.

" 1ПРИЛОЖЕНИЕ 1

Справочное

ТЕРМИНЫ И ОПРЕДЕЛЕНИЯ, ИСПОЛЬЗУЕМЫЕ ПРИ ИЗМЕРЕНИЯХ
ОТКЛОНЕНИИ «ОРМЫ И РАСПОЛОЖЕНИЯ

  1. Измеренный профиль — приближенное отображение реального профиля, ■полученное в результате непрерывного или дискретного (точечного) измерения (ощупывания) его.

  2. Измеренная поверхность — приближенное отображение реальной поверх­ности, полученное в результате ее измерения (ощупывания).

  3. Фильтрованный профиль — измеренный профиль, у которого с помощью аналогового (механического или электрического) или цифрового фильтра ис- ■ключены определенные составляющие шероховатости поверхности и (или) от­клонения формы.

  4. Фильтрованная поверхность — измеренная поверхность, полученная как совокупность фильтрованных профилей.

  5. Фильтр для исключения шероховатости поверхности — электрический фильтр нижних частот, служащий для исключения в измеренном профиле ко­ротковолновых составляющих, т. е. для исключения шероховатости.

  6. Предельная длина волны — длина синусоидальной волны, амплиту­да которой передается на 75% фильтром, исключающим шероховатость поверх­ности,