---

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ
СОЮЗА ССР

ФОТОЭЛЕМЕНТЫ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ

ОСНОВНЫЕ ПАРАМЕТРЫ
МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ ОСНОВНЫХ ПАРАМЕТРОВ

1 ГОСТ 25369-82

Издание официальное

Цена

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТА

МРАЗРАБОТАН Государственным комитетом СССР по стандартам ИСПОЛНИТЕЛИ

Б. М. Степанов (руководитель темы), Л. И. Андреева, М. М. Егеров, И. Н. Гусева, С. А. Кайдалов, А. Ф. Котюк, В. И. Сачков, 3. M. Семичастнова, А. П. Ромашков, В. А. Яковлев

ВНЕСЕН Государственным комитетом СССР по стандартам

Член Госстандарта Л. К. Исаев

УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государст­венного комитета СССР по стандартам от 30 июля 1982 г. № 2990

Редактор В. П. Огурцов
Технический редактор А. Г. Каширин
Корректор Н. Н, Жуховцева

Сдано в наб. 14.0’8.82 Подл, к печ. 14.09.82 1,0 п. л. 1,19 уч.-изд, л. Тир. 10000 Цви» 5 кОп.

Ордена «Зиа» Почета» Издательство стандартов, 123557, Москва, Новопресненский пер., 3. Калужская типография стандартов, ул. Моековская, 256. Зак. 2158

Г

УДК 621.383.083:006.354

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ

руппа П49

СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

Ф

ГОСТ
25369-82

ОТОЭЛЕМЕНТЫ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ

Основные параметры.

Методы измерений основных параметров

Measuring photocells. Basic parameters,
measuring methods of basic parameters

Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 30 июля 1982 г. М2 2990 срок введения установлен

с 01.07.83

Несоблюдение стандарта преследуется по закону

Настоящий стандарт распространяется на фотоэлементы изме­рительные (далее фотоэлементы), предназначенные для исполь­зования в качестве средств измерений мощности и динамических характеристик оптического излучения, и устанавливает перечень основных параметров и методы их измерений.

Стандарт не распространяется на фотоэлементы, поставляе­мые как комплектующие изделия для средств измёрений.

1. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

   1. Все измерения проводятся при нормальных условиях в со­ответствии с ГОСТ 24469—80.

   2. В помещении, где проводятся измерения, не должно быть конвекционных потоков (в том числе активной вентиляции), ис­точников пыли, посторонних тепловых возмущений, внешних маг­нитных полей.

   3. Аппаратура

      1. Все параметры фотоэлементов измеряют в защитной ка­мере. Защитная камера должна обеспечивать защиту фотоэлемен­тов от внешних источников излучения, а также от воздействия магнитных и электрических полей.

Защитная камера должна иметь электрическое соединение с общей точкой измерительной схемы испытательной установки. Не

П

Издание официальное

ерепечатка воспрещена

© Издательство стандартов, 19g2допускается использовать материалы с высокой люминесценцией в качестве конструктивных элементов, находящихся вблизи фото­катода. Предпочтительным материалом для этих целей является органическое стекло.

Конструкция камеры должна исключить появление побочных отражений от стенок камеры и деталей, расположенных в камере.

І.'З.З. Источники питания

В качестве источников .питания фотоэлементов должны приме­няться источники постоянного напряжения с нестабильностью вы­ходного напряжения не более 0,1 % при изменении напряжения питающей сети на ±10% и нестабильностью в течение времени, необходимого для проведения измерений, не более 0,1 %.

Напряжение на выходе источника питания должно регулиро­ваться в пределах, необходимых для измерения конкретного па­раметра фотоэлемента.

В качестве источников питания источника излучения применя­ют источники постоянного или переменного напряжения.

Нестабильность выходного напряжения источников питания при изменении напряжения питающей сети на ±10 % и в течение времени, необходимого для проведения измерения, должна быть не более — 0,2 %.

Предел допускаемой относительной погрешности приборов, контролирующих напряжение питания фотоэлементов, должен со­ответствовать требуемой точности измерений, указанной в норма­тивно-технической документации на фотоэлементы конкретных ти­пов.

Осциллографы и другие аналогичные приборы размещают на специальных тележках, рабочем столе, стеллажах.

■»

2. ОСНОВНЫЕ ПАРАМЕТРЫ И ХАРАКТЕРИСТИКИ

   4. Основные параметры и характеристики фотоэлементов, а также диапазоны значений параметров, на -которые распростра­няются методы измерения, приведены в табл. 1.

Таблица 1

3. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ

   4. Область спектральной чувствительности фотоэлемента оп­ределяют по измерениям- относительной спектральной чувствитель­ности фотокатода. При этом за границы области принимают длины волн, на которых относительная спектральная чувствительность составляет ДО 1 от максимального значения.

      1. Принцип измерений

         1. Метод измерений основан на сравнении спектральной чувствительности исследуемого фотокатода со спектральной чув­ствительностью контрольного приемника.

      2. Аппаратура '

         1. Схема расположения средств измерений и вспомога­тельных устройств должна соответствовать приведенной на черт. 1.

         2. П еречень рекомендуемых средств измерений и'вспомогательных устройств при­веден в рекомендуемом приложении 1.

      3. Подготовка и проведение измерений

         1. Фотоэлемент в защитной камере ус­танавливают у выходной щели монохроматора таким образом, чтобы поток излучения не вы­ходил за пределы фотокатода.

         2. З

            /—блок питания и контроля режима ис­точника излучения; 2—источник излуче­ния; 3—освети­

            тельная система; 4— спектральный * при­бор; 5—контрольный приемник излуче­ния; 6—исследуе- • мый фотоэлемент; 7— устройство для изме-< рения выходного сиг­нала исследуемого фотоэлемента; 3— устройство для из­мерения выходного сигнала контрольно­го приемннказ 9— блок питания фото­элемента.

            Черт. 1

            а выходной щелью монохромато­ра в защитной камере устанавливают пооче­редно контрольный приемник излучения и ис-~ следуемый фотоэлемент и регистрируют пока­зания соответствующего прибора, поочередно заменяя контрольный приемник фотоэлемен­том либо на каждой длине волны, либо после прохождения всего спектрального диапазона.

         3. В зависимости от вида кривой опре­деляемой спектральной характеристики чув­ствительности измерения проводят с интерва­лом 5—20 нм в ультрафиолетовой области спектра’ и 10—30 нм в видимой и инфракрас­ной областях спектра.

         4. Полуширина спектрального интер­вала, выделяемого монохроматором, не дол­жна превышать интервала, указанного в п. 3.1.3.3.

      4. Обработка результатов

         1. При использовании в качестве контрольных неселектив­ных приемников относительную спектральную характеристику чувствительности исследуемого фотокатода S ₀™(Х) определяют по формуле

n(X) 1 .

' <$отн(Х)= П_К(Х) ’

[ММ1шах ₌

П_КП) ((MMJmax

(1)

где л(%)—выходной сигнал исследуемого фотокатода;

п к(Х) —выходной сигнал контрольного приемника.

О Г ММ С ‘Эотя(Х) — j оти(Х)

n(X)

ММ

■ 5к

отн(Х)

. max

(2)

Черт. 2

ского излучения на основе лазе­ра; 2—делительная пластина; 3, 6—измерительные ослабители; ■/—СИ ММ с известными парамет­рами; 5—контрольное средство из­мерений; 7—камера с исследуемым фотоэлементом; 8—источник пита­ния фотоэлемента; 9—импульсный вольтметр или осциллограф

где5_Котн(Х) —относительная спектральная характеристика чув­ствительности контрольного приемника.

Оптическую плотность измерительных ’ослабителей под- . бирают таким образом, чтобы обе

­спечить работу исследуемого''фотоэлемента на уровне не более (0,54-0,7) 7_ЛИН (где 7 _лин—значение предела линейности фотото­ка, указанное в нормативно-технической документации на фото­элементы конкретных типов) и чтобы обеспечить работу конт­рольного средства измерений в линейном режиме.

где К _г — результат единичного наблюдения коэффициента деле­ния делительной пластины;

N і — показание контрольного средства измерений — макси­мальное значение мощности излучения, отраженного от делительной пластины;

■Ртах; —максимальное значение мощности излучения, прошёд- шего через делительную пластину.

Проводят серию из п наблюдений 7Q (п>5). Среднее зна­чение коэффициента деления делительной пластины К определя­ют по формуле

^п і=і

и принимают его за результат измерений.

Спектральную чувствительность определяют путем измерений фототока І і в цепи или напряжения на выходе фотоэлементов и вычисляют по формуле