---

Доля фототока, обусловленная излучением сплошного фона 1ф(>,) в месте излучения спектральной линии при ширине выход­ной щели /»их, определяется экстраполяцией кривой фототока от непрерывного фона

/ф(П. (16)

Относительную- спектральную плотность энергетической осве­щенности линия Е (А) рассчитывают по формуле

£(>.)=АС(Х) 14,_м(М-М^х>1 (I⁷)

или

f('.)-C(*)(U'-)“^*)l- (18)3.5.0 Измерения разрядных ламп со спектром излучения, со­держащим большое количество достаточно интенсивных линий или острых инков у фона, например, металлогалогенных ламп, люми­несцентных ламп с узкополосным спектром излучения, проводят ступенчатым методом.

' 3.5.5.І Измерения должны проводиться с узкой входной и ши­рокой выходкой щелями, определяющими спектральный интервал ступеней. При выборе ширины входной щели, обеспечивающей до­статочную величину фототоков, должно выдерживаться условие, указанное в 3.2.5.4 н 3.2.5.8. Ширина выходной шел и при прове­дении измерений па приборах с переменной дисперсией для каж­дого спектрального иктернэла различна и рассчитывается в со* ответствии с формулой (2).

3.5.5.2 При проведении измерения область спектра следует разбить на интервалы-ступени ДХ, которые переметаются по от­ношению к выходной щели на расстояния, равные ее ширине.

3.5.53 Относительная спектральная плотность энергетической освещенности в интервале Л/-— (Еал) должна определяться на основании отсчетов фототоков »(>.) и рассчитываться по формуле

где Л — длина волны, соогветствучоша я середине выделяемого спектрального интервала, нм;

D(X) — обратная линейная дисперсия, нм/мм;

/»ыя—ширина выходной щели, мм.

Градуировочный коэффициент по спектральной чувствительно­сти К(7.) должен определяться при тех же щелях, при которых веду тс и измерении.

3.5.-5.4 Спектр должен быть представлен на графике в виде соприкасающихся прямоугольников, шириной Л?..

В таблице Ж2 приложения Ж дастся пример расчета ширины выходной щели для монохроматора УМ-2 н приводятся данные измерения лампы с галогенидами металлов

3.5.5.5- Результаты спектральных измерении оформляют в виде таблицы значений относительного распределения спектральної! плотности энергетической освещенности лампы, приведенного к значению 100 в максимуме или другой удобной точке.

Данные приводятся к равному спектральному интервалу. Спект­ральные линии относятся к тому же спектральному интервалу.

3.6 Погрешности измерений

Метол определения погрешностей измерений спектральных ха­рактеристик электрических ламп приведен в приложении К.

Расчеты по данной методике показывают, что относительная погрешность измерений относительного распределения спектраль­ной плотности энергетической освещенности ламп для видимой об­ласти спектра О.ЗЯ 0.78 мни не превышает 5 %, для инфракрас­ной области 0,78 2,5 ыкм 7 %, для ультрафиолетовой области 0.25 0.38 ыкм 15%.

4 МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ АБСОЛЮТНЫХ. СПЕКТРАЛЬНЫХ ХАРАК­ТЕРИСТИК

4.1 Измерения абсолютных значений распределения спектраль­ной плотности энергетической освещенности выполняются:

методом сравнения по спектру абсолютных характеристик ра­бочей н измеряемой ламп;

методом перехода от измеренного относительного значення распределения спектральной плотности энергетической освещен­ности к абсолютному путем определения ПОСТОЯННОГО ЗЮ спектру «а бсо л ю тир у ющ его» м но ж и гол я.

+.2 А п зі а р а ту р а

Рекомендуемое оборудование, требования к применяемо­му оборудованию, преобразователям излучения и рабочим источ­никам излучения для измерения интегральных световых величин приведены q ГОСТ 17616.4.3 Проведение измерений и обработка ре­зультатов измерении

При измерении исследуемый источник гак же, как при градуи­ровке рабочий источник, устанавливается. учитывая закон квад­ратов расстояний, на строго фиксированном, расстоянии от диф­фузно рассеивающей белой пластины, освещающей входную щель спектрального прибора.

При отклонении от закона квадратов расстояний при измере­ниях излучений на близких расстояниях следует рассчитыв-ать ко­эффициент а, характеризующий величину отклонения от закона квадратов; расстояний, по формуле

(-7—) .

где L — расстояние от центра лампы до точки измерения, мм;

I — длина светящегося столба, мм.

/ L

Кривая зависимости a—fl ~~| приведена на рисунке 3 при­ложения Б.

муле

(>.). (20)

измерить относительную спектральную характеристику источ­ника излучения а соответствии с разделом 3;

измерить освещенность по ГОСТ 17616;

рассчитать «абсолютирующий» множитель /С_а«_с по формуле

» — , (21 >

G83 )’ £_х(Х)4 (Х)-</Х о

где E_v— измеренное значение освещенности, лм/м:’;

£х (Л) — относительное распределение спектральной плотности энергетической освещенности источника;

683— максимальная спектральная световая эффективность. лм/Вт;

К(Л)—относительная спектральная световая эффективность.

4.3.4 Учитывая ин тегральное значение энергетической величины При определении значения <абсолютирующего» множителя Кабс необходимо;

измерить относительную спектральную характеристику источ­ника излучения [£,-] в- соответствии с разделом 3;

определить интегральную энергетическую величину источника излучения путем отсчета показаний прибора, измеряющего фото­ток преобразователя излучения от рабочего к исследуемого источ­ников. и расчета ио формуле

Г Е_Л^(М-5(к) </Х- Г Е_л(k)-d).

£,= -7- - А (22)

⁰ JfJM-SW-A- f £^(Х)-А
о и

где і, г_и — показания, полученные от исследуемой и рабочей ламп соответственно:

Е х(Л), £к.о (Ь) — относительные распределения спектральной ПЛОТНОСТИ энергетической освещенности! иссле­дуемой и рабочей ламп соответственно;

Е_е,₀ — соответствующая интегральная энергетическая величина рабочей лампы;

S(X)—относительная спектральная чувствительность преобразователя излучения;

рассчитать «абсолютирующий» множитель K,tx по формуле

*.*-= . (23)

J F._K{k).d

где Е_е— измеренное значение интегральной энергетической вели­чины исследуемого источника.

4.3.5 Погрешность измерений

Метод определения погрешностей результатов измерений при­веден в приложении К.

5. Расчеты по данному методу показывают, что относительная по­грешность измерения для видимой области спектра 0,38—0,78 мкм не должна превышать 7 %, для инфракрасной области 0,78— —2,5 мкм — 10 %, для ультрафиолетовой области 0,25—0,38 мкм — 15 %.СП ЕКТРОРАДИОМЕТРИ ЧЕСКИ Я МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ КООР ДННАТ ЦВЕТНОСТИ

   1. Аппаратура

      1. Для определения координат цветности спектрор-адиометрм- ческим методом необходима аппаратура по 3.1 для измерения относительной спектральной характеристики.

   2. Градуировка аппаратуры

5 2.1 Градуировка аппаратуры проводится по методу, изложен­ному в 3.3.

Х= Г E_x(X) x(X}dX, Y = J (X)-y(X)dX; ?.—зао •—»0

).-»)

Z-= I Ex(X)-zCA)-rfZ. (24)

1--3W1

.ЛТГГ - 4 -У- -йТТТ - £ ■ <²⁵>

где Ex (X) —относительное распределение спектральной плотности энергетической освещенности источ­ника;

х(Л), у(Ъ). z(A) —ординаты кривых сложения Публикации МКО 1931 г.

S /?х(Х)-х(А)Ал; Г- S (А)-и(А)ЛА; зве дао

800 _

Z-= £ Ex <А> -г (A) AX. (26)

ЗЯО

При расчете координат цветности источников со спектром, в котором линии и фон представлены отдельно, излучение в линияхотіеосится к тому же спектральному интервалу ДА, с которым ве­дется расчет.

Для стандартных люминесцентных ламп берется Да»10 нм. Для ламп. в спектре которых имеются нерегулярное!к в интерва­ле менее 10 нм, интервал Л/, должен быть не более 5 нм.

Расчет координат цветности ламп, спектр которых представ­лен в ступенчатом виде, производится со спектральным интерва­лом, соответствующим ширине стуленії-.

Ординаты кривых сложения х (>.)'. у (а). z(X), необходимые для расчета,, приведены н таблице приложения И.

Абсолютная погрешность определения координат цветности ламп спектрорадиометрическлм методом — в пределах ±0.005..

5. МЕТОД фотоэлектрической колориметрии
   ОПРЕДЕЛЕНИЯ КООРДИНАТ ЦВЕТНОСТИ

6.В Аппаратура

Для определения координат цветности источников излучения методом фотоэлектрической коло-ри метр ии необходимы:

образцовые средства измерений (источники излучения) по ГОСТ 8.205. ' — *•

фотоэлектрические колориметры.

Перечень применяемых образцовых источников излучения и ра­бочих средств измерений (фотоэлектрических колориметров) при­веден в приложении А.

В качестве образцового источника излучения следует приме­нять источники излучения типов А, В. С. Образцовые лампы долж­ны быть поверены по координатам цветности органами Госстан­дарта России.

Допускается применять в качестве контрольных ламп лампы того же типа, что и измеряемые.

Для измерения координат цветности цветных миниатюрных и сверхминиатюрных ламп накаливания в качестве образцовых ис­точников излучения допускается применение светоизмерительных ламп накаливания силы света с цветовой температурой Тс = 2360 К. координаты цветности которых известны. Лампы должны быть поверены по Г,-=2360 К органами Госстандарта России.

Фотоэлектрические колориметры должны иметь преобразовате­ли излучения, кривые спектральной чувствительности которых со­ответствуют Кривым ?„(>.), ў(Х>, г (к).

4 Зак. 2432 19Степень соответствия указанных кривых должна быть такой, чтобы поірешность измерения координат цветности цветных све­тофильтров средней насыщенности инета с коэффициентами про­пускания т>1С% не выходила за пределы ±0.010.

Цветные светофильтры выбираются таким образом, чтобы ох­ватить всю видимую область спектра. В качестве таких свето­фильтров могут быть использованы светофильтры, указанные в таблице Б.З приложения В с их ориентировочными данными коор­динат цветности. Светофильтры должны быть поверены ло коор­динатам цветности органами Госстандарта России.