Для снижения погрешности измерений применяют автоматизированные измерительные устройства, обеспечивающие ограничение видеосигнала на заданном уровне от тока сигнала трубки и отсчет размеров дефектов в цифровой форме.
МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ СОПРОТИВЛЕНИЯ ИЗОЛЯЦИИ
И ТОКОВ УТЕЧКИ МЕЖДУ ЭЛЕКТРОДАМИ
Условия и режим измерений
Общие требования к проведению измерений и требования безопасности — по разд. 1.
Измерение сопротивления изоляции (или токов утечек) между электродами проводят при значениях напряжений на электродах, его полярности и сопротивлении ограничительного резистора, указанных в технических условиях на конкретный тип трубки.
Аппаратура
Измерение сопротивления изоляции и токов утечки между электродами проводят на установке, функциональная схема которой приведена на черт. 10.
Электроизмерительные приборы должны обеспечивать измерение тока (напряжения) в последних 2/3 шкалы.
Класс точности измерительных приборов с учетом добавочных и шунтирующих сопротивлений должен быть не ниже:
XI (V), X2(V) — выводы для подключения электродов трубки; — ограничительный резистор; РА — микроамперметр; PV— вольтметр; X3(G), X4(G) — выводы для подключения источника питания
Черт. 10
1,5 — для вольтметров и микроамперметров;
4 — для микроамперметров, измеряющих токи менее 10 мкА» и для вольтметров, измеряющих напряжение более 30 кВ.
. Ограничительный резистор ОМЛТ-1 по ОЖО.467.107 ТУ.
Сопротивление ограничительного резистора выбирают таким» чтобы была обеспечена защита микроамперметра при пробое.
Для стрелочных электроизмерительных приборов сопротивление ограничительного резистора выбирают таким, чтобы ток пробоя в цепи электродов не превышал трехкратного предельного значения шкалы измерительного значения шкалы измерительного прибора.
Для защиты микроамперметра допускается применять другие схемы защиты.
Напряжение источника питания, его полярность и сопротивление ограничительного резистора должны соответствовать установленным в технических условиях на трубки конкретных типов.
. При измерении сопротивления изоляции или токов утечек, где возможно появление фототока, необходимо обеспечить затемнение трубки.
. Измерение сопротивления изоляции допускается проводить тераомметром.
П о д г о т о в к а и проведение измерений
На электроды трубки, между которыми измеряют сопротивление изоляции, подают напряжение, установленное в технических условиях на трубки конкретных типов, и измеряют его вольтметром.
Допускается проводить измерение сопротивления изоляции или тока утечки между какими-либо электродами трубки при подаче напряжений на остальные электроды.
Ток утечки в цепи электродов измеряют микроамперметром.
Обработка результатов
Сопротивление изоляции (7?из ) в мегомах рассчитывают по «формуле
Яиз=4 , (30)
где U — напряжение, измеренное, как указано в п. 19.3.1, В;
I — ток, измеренный, как указано в п. 19.3.2, мкА.
Показатели точности
Погрешность измерения с установленной вероятностью 0,95 на ходится в интервалах:
± 15 % — при измерении токов утечки;
±20 % — при измерении сопротивления изоляции.
Закон распределения погрешности — нормальный.ПРИЛОЖЕНИЕ I
Обязательное
МЕТОДЫ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОСВЕЩЕННОСТИ И НЕРАВНОМЕРНОСТИ
ОСВЕЩЕННОСТИ
Принцип измерения
Определение освещенности, создаваемой осветителем и оптической системой в плоскости фотометрирования основано на измерении фототока фотоприемника, проградуированного в световых единицах, входное окно которого расположено в фотометрируемой плоскости перпендикулярно к направлению потока излучения.
Для оптических систем, имеющих нулевую оптическую плотность, освещенность может быть рассчитана по известной силе света осветителя.
Определение неравномерности освещенности в плоскости фотометрирования основано на сравнении выходных сигналов фотоприемника, располагаемого в различных участках рабочего поля в плоскости фотометрирования.
Аппаратура
Определение освещенности, неравномерности освещенности следует проводить на установке, структурная схема которой приведена на черт. 11.
/ — оптическая система; 2 — фотоприемник с устройством питания и набором диафрагм; 3 — измеритель фототока фотоприемника.
Черт. 11
Оптическая система должна удовлетворять требованиям настоящего стандарта.
Фотоприемник для измерения освещенности должен удовлетворять следующим требованиям:
относительная спектральная характеристика чувствительности фотоприемника должна соответствовать относительной спектральной световой эффективности монохроматического излучения ДЛЯ дневного зрения Vx, в соответствии с ГОСТ 8.332.
Ординаты характеристики с отклонениями, не превышающими допустимых, приведены в табл. 2;
относительная погрешность калибровки фотоприемника по световой чувствительности должна быть в пределах ±7 %.
Погрешность измерений линейных размеров рабочей части фоточувствительной поверхности фотоприемника или части диафрагм, ограничивающих участки его фоточувствительной поверхности, должна быть не более ±2%.
При измерении неравномерности освещенности диафрагма, ограничивающая участок фоточувствительной поверхности фотоприемника, должна иметь диаметр (диагональ), не превышающий 0,1 максимального размера фотометри- руемого поля, но не менее 1 мм.
Таблица 2
|
К, нм |
V (X) |
Допускаемые отклонения, % |
Л, км |
V См |
Допускаемые отклонения, % |
|
380 |
0,00001 |
580 |
0,870 |
±2 |
|
|
390 |
0,0001* |
—- |
590' |
0,757 |
±10 |
|
400 |
0,0004* |
—. |
600 |
0,631 |
±10 |
|
410 |
0,0012* |
—- |
610 |
0,503 |
±15 |
|
420 |
0,0040* |
— |
620 |
0,381 |
± 15 |
|
430 |
0,0116* |
—, |
630 |
0,265 |
±20 |
|
440 |
0,023 |
±40 |
640 |
0,175 |
±20 |
|
450 |
0,038 |
±40 |
650 |
0,107 |
±40 |
|
460 |
0,060 |
±20 |
660 |
0,061 |
±40 |
|
470 |
0,091 |
±15 |
670 |
0,032* |
— |
|
480 |
0,139 |
±15 |
680 |
0,017* |
— |
|
490 |
0,208 |
±15 |
690 |
0,0082* |
— |
|
500 |
0,323 |
±10 |
700 |
0,0041* |
— |
|
510 |
0,503 |
±10 |
710 |
0,0021* |
—. |
|
■520 |
0,710 |
±5 |
720 |
0,0011* |
—' |
|
530 |
0,862 |
±5 |
720 |
0,0005* |
— |
|
540 |
0,954 |
±2 |
740 |
0,0003* |
— |
|
550 |
0,995 |
±2 |
750 |
0,0002* |
— |
|
560 |
0,995 |
±2 |
760' |
0,0001* |
—. |
|
570 |
0,952 |
±2 |
770 |
0,0000* |
— |
Устанавливают режим фотоприемника и измеряют фототок фотоприемника как разность токов при освещенной фоточувствительной поверхности' фотоприемника и при перекрытом световом потоке.
При определении освещенности, создаваемой в плоскости фотометри- рования осветителем с известной силой света, измеряют расстояние от центра поверхности тела накала лампы осветителя по перпендикуляру до плоскости! фотометрирования.
О б р а б о т к а результатов
При использовании фотоприемника, градуированного по освещенности,, освещенность (£) в люксах рассчитывают по формуле
Е= , (31>
где I — ток фотоприемника, мкА;
.S' Е — световая чувствительность фотоприемника, мкА/лк.
При использовании фотоприемника, градуированного по световому потоку, освещенность (£) в люксах рассчитывают по формуле
где I— ток фотоприемника, мкА;
S фч — световая чувствительность фотоприемника, мкА/лм;
А — площадь рабочего поля на фоточувствительной поверхности трубки, м2.
Освещенность при использовании неселективных поглотителей света ) в люксах рассчитывают по формуле
£т=£-х-т6, (33 >
где т — коэффициент пропускания неселективного поглотителя света;
те— коэффициент пропускания прозрачных полей таблицы.
Освещенность от источника с известной силой света (£) в люксах рассчитывают по формуле
£= ■ <34>
Iі
где — сила света источника света, кд;
расстояние, измеренное, как указано в п. 3.1.5.
Показатели точности
Относительная погрешность определения освещенности при использовании фотоприемника, градуированного по освещенности, находится в интервале ±10 % с установленной вероятностью 0,95.
Закон распределения погрешности — нормальный.
Относительная погрешность определения освещенности при использовании фотоприемника, градуированного по световому потоку, находится в интервале ± 10 % с установленной вероятностью 0,95.
Закон распределения погрешности — нормальный.
Относительная погрешность определения освещенности от источника с известной силой света находится в интервале ±5 % с установленной вероятностью 0,95.
Закон распределения погрешности — нормальный.
4. Метод определения неравномерности освещенности
Подготовка и проведение измерений
. Подготовка к измерениям по пп. 3.1.1—3.1.4.
Проводят измерение тока фотоприемника в центре изображения и а восьми точках, расположенных равномерно по всей периферии изображения», отстоящих от его границ не более чем на 10 % вертикального размера изображения.
Обработка результатов
Неравномерность освещенности (Нg ) в процентах рассчитывают по формуле
,, max /mln
Е Лпах+^тіп
•100,
(35>
где /max, / min —наибольшее и наименьшее значения фототока фотоприемника из значений, измеренных, как указано в п. 4.1.2, А (отн. ед.).
П о к а з а т ел и точности измерений
Относительная погрешность определения неравномерности освещенности с установленной вероятностью 0,95 находится в интервале ±10%.
Закон распределения погрешности — нормальный.ПРИЛОЖЕНИЕ 2
Справочное
МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ОСВЕЩЕННОСТИ ФОТОЧУВСТВИТЕЛЬНОЙ
ПОВЕРХНОСТИ ПО ФОТОТОКУ
Принцип измерения
Измерение эквивалентной освещенности фоточувствительной поверхности трубок основано на измерении фототока в цепи мишени или фотокатода и расчете освещенности с учетом световой чувствительности фотокатода.
Аппаратура
Оптическая система должна удовлетворять требованиям настоящего 'стандарта.
Для ограничения рабочей части фоточувствительной поверхности трубки используют шаблон, установленный на место испытательной таблицы или накладываемый на фотокатод. Размеры окна шаблона должны соответствовать размеру рабочего поля испытательной таблицы в соответствии с ТУ на трубки ■конкретных типов.
Измеритель фототока (микроамперметр) должен обеспечивать измерение постоянного тока в цепи фоточувствительной поверхности трубки прибором класса точности не ниже 0,5.
Подготовка и проведение измерений
Ограничивают рабочую часть фоточувствительной поверхности трубки •с помощью шаблона и подают на трубку ускоряющее напряжение, указанное в технических условиях на трубки конкретных типов.
Измеряют фототок в гспи мишени или фотокатода при запертом луче трубки при освещенном и неосвещенном фотокатодах.
Примечание. Микроамперметр включают в цепь фотокатода, если то- 'ки утечки трубки при запертом луче значительно меньше измеряемых фототоков.
