Перейти до вмісту
ДНАОП — нормативні документи з охорони праці
ГОСТ 18725-83
/ 7

(Измененная редакция, Изм. № 4).

  1. Панели и испытательная оснастка для подключения ис­пытуемых микросхем должны обеспечивать надежный электриче­ский контакт.

  2. Средства измерения и испытательные установки долж­ны обеспечивать режимы измерений и испытаний, установленные в стандартах или технических условиях на микросхемы конкрет­ных типов.

Испытательное оборудование и средства измерений, применяе­мые на головном предприятии и предприятии-дублере, должны быть однотипными или обеспечивать заданную точность измере­ний и сопоставляемость результатов.

(Измененная редакция, Изм. № 1).

    1. Средства измерений подлежат поверке в соответствии с ГОСТ 8.002—86.

  2. Правила приемки

(Измененная редакция, Изм. № 3).

  1. Правила приемки микросхем — по ГОСТ 25360—82 г дополнениями и уточнениями, изложенными в настоящем стан­дарте.

Для проверки качества поступивших микросхем допускается предприятию-потребителю проводить входной контроль в объеме, последовательности, на выборках и методами, указанными в нас­тоящем стандарте. Партию изделий, не выдержавшую входной контроль, возвращают предприятию-изготовителю.

(Измененная редакция, Изм. № 1, 3).

  1. Квалификационные испытания

    1. Квалификационные испытания проводят один раз на каждом предприятии-изготовителе при приемке установочной серии.

    2. Состав испытаний, деление состава испытаний на груп­пы, последовательность испытаний в пределах группы и последо­вательность групп должны соответствовать указанным в табл. 2.

(Измененная редакция, Изм. № 1, 3).

Таблица 2

Группа испыта­ния

Вид и последовательность испытания

Пункт настоящего стандарта

Техническое требование

Метод испытания

к-1

Проверка внешнего вида и марки-

1,2.2; 1.2.10

2.3.1

ровки

3.1.1

2.3.8.1

К-2

Проверка габаритных, установоч­ных и присоединительных размеров

1.2.1

2.3.1

к-з

Проверка статических параметров (параметров постоянного тока), от­несенных к категории С, при:

нормальных климатических усло­виях

1.3.1

2.3.1

пониженной рабочей температуре среды

1.5.1

2.3.1

повышенной рабочей температуре среды

1.5.1

2.3.1

Проверка динамических парамет­ров (параметров переменного тока), отнесенных к категории С при нор­мальных климатических условиях

1.3.1

2.3.1

Функциональный контроль при:

нормальных . климатических усло­виях

1.3.1

Устанавливают

повышенной рабочей температуре среды

1.5.1

в стандартах или ТУ на мик­росхемы конк­ретных типов

То же

Продолжение табл. 2

Группа испыта­ния

Вид и последовательность испытания

Пункт настоящего стандарта

Техническое требование

Метод испытания

К-4

Испытание на воздействие пони­женной рабочей температуры среды

Испытание на воздействие повы­шенной рабочей температуры среды

Проверка электрических парамет­ров, отнесенных к категории П, при нормальных климатических условиях

Проверка электрических парамет­ров, отнесенных к категории К

Функциональный контроль при:

нормальных климатических усло­виях

повышенной рабочей температуре среды

1.5.1, а

1.5.1, б

1.3.1

1.3.1

1.3.1

1.5.1

2.3.1

2.3.1

2.3.1

2.3.1

Устанавливает в стандартах или ТУ на мик­росхемы конк­ретных типов

То же

К-5

Испытание на воздействие измене­ния температуры среды

Испытание на воздействие линей­ного ускорения

Испытание на воздействие одиноч­ных ударов

Испытание на воздействие повы­шенной влажности воздуха (кратко­временное)

1.5.1, в, 1.2.8

1.4

1.4

1.2.7

1.5.1, г

2.3.1

2.3.1

2.3.1

2.3.8.1

2.3.1

К-6

Испытание на безотказность

1.6.1

2.3.6

К-7

Проверка качества и прочности нанесения маркировки

Проверка прочности внешних вы­водов

Испытание на способность к пайке

Испытание на теплостойкость при пайке

Испытание на герметичность

3.1.1

1.2.9

1.2.5

1.2.6

1.2.6

1.2.4

2.3.8.1

2.3.8.2

2.3.1

2.3.1

2.3.1

2.3.1

К-8

Испытание упаковки

1

3.2

2.3.9.1

Продолжение табл. 2

Группа испыта­ния

Вид и последовательность испытания

Пункт настоящего стандарта

Техническое требование

Метод испытания

К-9

Испытание на вибропрочность

Испытание на виброустойчивость

Испытание на ударную прочность (многократные удары)

1.4

1.4

1.4

2.3.1

2.3.1

2.3.1

К-Ю

Проверка массы

Испытание на воздействие атмос­ферного повышенного давления

Испытание на воздействие атмос­ферного пониженного давления

1.2.3

1.5.1, е

1.5.1, д

2.3.1

2.3.1

2.3.1

2.3.3

К-П

Испытание на долговечность

1.6.1

2.3.6

К-12

Испытание на воздействие повы­шенной влажности воздуха (длитель­ное) (для микросхем исполнения УХЛ-10 сут, исполнения В-21 сут)

1.5.2

2.3.1

К-13

Испытание на воздействие плесне­вых грибов

1.5.2

2.3.1

К-14

Испытание на воздействие соляно­го тумана

1.5.2

2.3.1

К-15

Испытание на способность вызы­вать горение

Испытание на горючесть (кроме микросхем в металлостеклянном, ме­таллокерамическом, стеклокерамичес­ком и керамическом корпусе)

1.2.11

1.2.11

2.3.1

2.3.1

Примечания:

  1. Для микросхем в корпусах типа 2 по ГОСТ 17467—88 проверку проч­ности внешних выводов группы К-7 не проводят.

  2. Испытания по группам К-4 и К-5 допускается проводить на одной вы­борке.

  3. Для микросхем монолитной конструкции испытания на герметичность группы К-7 и испытания на вибропрочность и выброустойчивость группы К-9 не проводят.. Вместо испытаний на герметичность проводят испытания на воздей­ствие повышенной влажности воздуха (кратковременное).

  4. Допускается при непрерывном цикле испытаний совмещать проверку электрических параметров перед каким-либо испытанием с такой же проверкой после предшествовавшего испытания.Функционированный контроль проводят для микросхем третьей и более высоких степеней интеграции. В технически обоснованных случаях совмещают функциональный контроль с проверкой электрических параметров.

Если функциональный контроль проводят на максимальной рабочей часто­те, проверку динамических параметров исключают.

  1. Проверку герметичности после проверки прочности внешних выводов по группе К-7 не проводят, а совмещают с проверкой герметичности в конце груп­пы К-7. ■

  2. Испытание на горючесть по группе К-15 (испытание на воздействие пла­мени) не проводят, если при внешнем конструктивном исполнении микросхем не использованы органические материалы. Стойкость таких микросхем к воздейст­вию пламени обеспечивается конструкцией.

  3. Испытание на способность вызывать горение по группе К-15 (испытание на воздействие аварийных электрических перегрузок) не проводят, если превы­шение температуры наиболее пожароопасного участка поверхности микросхем при аварийной перегрузке, установленной в техническом задании, стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов, не превышает допустимого значения по ГОСТ 8865—87.

  1. Для проведения испытаний комплектуют выборку мик­росхем в объеме, достаточном для проведения всех групп испыта­ний по соответствующим планам контроля с учетом порядка контроля этих групп в пределах данной категории.

  2. Для проведения испытаний применяют следующие пла­ны контроля:

для групп испытаний К-1—К-3 — планы контроля, установлен­ные для групп С-1—С-3 приемо-сдаточных испытаний соответст­венно;

для групп испытаний К-4, К-5, К-9 и К-12 план контроля, ус­тановленный в табл. 7;

для группы испытаний К-6 — план контроля, установленный для группы П-1 периодических испытаний;

для групп испытаний К-7 и К-10 — план контроля, установ­ленный в табл. 8;

для группы испытаний К-8 — план контроля, приведенный в табл. 8 (испытаниям подвергают 1 единицу транспортной тары с упакованными микросхемами);

для группы испытаний К-Н—план контроля, установленный в стандартах или технических условиях на микросхемы конкрет­ных типов, необходимый для подтверждения заданного в настоя­щем стандарте значения интенсивности отказов;

для групп испытаний К-13—К-14 — испытаниям подвергают выборку п=5 шт. при приемочном числе С = 0 (для микросхем 1—3-й степеней интеграции и выборку п = 3 шт. при приемочном числе С = 0 (для микросхем 4-й и более высоких степеней инте­грации) ;

для группы испытаний К-15 — испытаниям подвергают выбор­ку п = 3 шт. при приемочном числе С=0;

в технически обоснованных случаях объем выборки для мощ­ных, уникальных и дорогостоящих микросхем можно устанавли­вать иным, что устанавливают в стандартах или технических ус­ловиях на микросхемы конкретных типов.

(Измененная редакция, Изм. № 1).

  1. Если в стандартах или технических условиях на микро­схемы конкретных типов проведено разделение совокупности мик­росхем, входящих в данную серию, на группы типов, то комплек­тование выборок по группам К-4 и К-6 проводят от каждой груп­пы типов.

Оценку результатов испытаний относят к каждой группе типов в отдельности.

Комплектование выборок по группам К-5, К-7—К-12 проводят одним (любым) типом микросхем от данной серии. Результаты испытаний распространяют на все типы микросхем данной серии.

  1. Если для проведения испытаний микросхемы распаива­ют на печатные платы, то измерение электрических параметров микросхем проводят до и после распайки микросхем.

Микросхемы, отказавшие при распайке их на платы из-за ошибки оператора, из выборки исключают, заменяют годными и при оценке квалификационных испытаний не учитывают.

  1. Предварительную оценку квалификационных испыта­ний по группе К-11 (долговечность) производят по результатам испытаний в течение 1000 ч при С=0 (испытания при этом по группе К-11 продолжают до их завершения).

(Измененная редакция, Изм. № 1).

  1. Перед проверкой микросхем по группам испытаний К-4—К-12 все микросхемы выборки должны быть проверены в объеме приемо-сдаточных испытаний.

Если при проверке будут обнаружены дефектные микросхемы, то последние из выборки исключают и заменяют годными. Обна­ружение дефектных микросхем не является основанием для пре­кращения испытаний.

    1. Испытания микросхем исполнения УХЛ на устойчи­вость к воздействию соляного тумана и среды, зараженной плес­невыми грибками (п. 1.5.2), не проводят. Устойчивость к воздей­ствию этих факторов обеспечивается покрытием микросхем за­щитными лаками в соответствии с п. 4.9.

    2. При получении отрицательных результатов испытаний по группе К-8 проводят доработку конструкции упаковки и тех­нологии упаковывания, после чего проводят новые испытания по этой группе на приборах той же установочной серии.

    3. 2.2.2.10. (Измененная редакция, Изм. № I).

  2. Приемо-сдаточные испытания

    1. Состав испытаний, деление состава на группы испыта­ний, последовательность испытаний в пределах группы и последо­вательность групп испытаний должны соответствовать указанным в табл. 3.

(Измененная редакция, Изм. № 1).Таблица 3

Группа испыта­ний

Вид и последовательность испытаний

Пункт настоящего стандарта

требований

методов испытаний

С-1

Проверка внешнего вида и марки­ровки

1.2.2

2.3.1

1.2.10; 3.1.1

2.3.8.1

С-2

Проверка габаритных, установоч­ных и присоединительных размеров

1.2.1

2.3.1

С-3

Проверка статических параметров (параметров постоянного тока), от­несенных к категории С, при:

нормальных климатических уело-

1.3.1

ВИЯХ

2.3.1

пониженной рабочей температуре среды

1.5.1

2.3.1

повышенной рабочей температуре

1.5.1

среды

Проверка динамических парамет­ров (параметров переменного тока), отнесенных к категории С, при нор-

2.3.1

1.3.1

мальных климатических условиях

2.3.1

Функциональный контроль при: нормальных климатических уело-

ВИЯХ

1.3.1

Устанавливают

в стандартах или ТУ на мик-

росхемы конк­ретных типов

повышенной рабочей температуре среды

1.5.1 ,

То же

Побачили розбіжність з офіційним текстом?

Повідомити про неточність

Напишіть, що саме розходиться з офіційною публікацією. Код документа вкажіть у повідомленні — так ми швидше знайдемо потрібне місце.

Перейти до форми зворотного зв'язку

Дивіться також

Весь розділ →