(Измененная редакция, Изм. № 4).
Панели и испытательная оснастка для подключения испытуемых микросхем должны обеспечивать надежный электрический контакт.
Средства измерения и испытательные установки должны обеспечивать режимы измерений и испытаний, установленные в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.
Испытательное оборудование и средства измерений, применяемые на головном предприятии и предприятии-дублере, должны быть однотипными или обеспечивать заданную точность измерений и сопоставляемость результатов.
(Измененная редакция, Изм. № 1).
Средства измерений подлежат поверке в соответствии с ГОСТ 8.002—86.
Правила приемки
(Измененная редакция, Изм. № 3).
Правила приемки микросхем — по ГОСТ 25360—82 г дополнениями и уточнениями, изложенными в настоящем стандарте.
Для проверки качества поступивших микросхем допускается предприятию-потребителю проводить входной контроль в объеме, последовательности, на выборках и методами, указанными в настоящем стандарте. Партию изделий, не выдержавшую входной контроль, возвращают предприятию-изготовителю.
(Измененная редакция, Изм. № 1, 3).
Квалификационные испытания
Квалификационные испытания проводят один раз на каждом предприятии-изготовителе при приемке установочной серии.
Состав испытаний, деление состава испытаний на группы, последовательность испытаний в пределах группы и последовательность групп должны соответствовать указанным в табл. 2.
(Измененная редакция, Изм. № 1, 3).
Таблица 2
|
Группа испытания |
Вид и последовательность испытания |
Пункт настоящего стандарта |
|
|
Техническое требование |
Метод испытания |
||
|
к-1 |
Проверка внешнего вида и марки- |
1,2.2; 1.2.10 |
2.3.1 |
|
|
ровки |
3.1.1 |
2.3.8.1 |
|
К-2 |
Проверка габаритных, установочных и присоединительных размеров |
1.2.1 |
2.3.1 |
|
к-з |
Проверка статических параметров (параметров постоянного тока), отнесенных к категории С, при: нормальных климатических условиях |
1.3.1 |
2.3.1 |
|
|
пониженной рабочей температуре среды |
1.5.1 |
2.3.1 |
|
|
повышенной рабочей температуре среды |
1.5.1 |
2.3.1 |
|
|
Проверка динамических параметров (параметров переменного тока), отнесенных к категории С при нормальных климатических условиях |
1.3.1 |
2.3.1 |
|
|
Функциональный контроль при: нормальных . климатических условиях |
1.3.1 |
Устанавливают |
|
|
повышенной рабочей температуре среды |
1.5.1 |
в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов То же |
|
Продолжение табл. 2 |
|||
|
Группа испытания |
Вид и последовательность испытания |
Пункт настоящего стандарта |
|
|
Техническое требование |
Метод испытания |
||
|
К-4 |
Испытание на воздействие пониженной рабочей температуры среды Испытание на воздействие повышенной рабочей температуры среды Проверка электрических параметров, отнесенных к категории П, при нормальных климатических условиях Проверка электрических параметров, отнесенных к категории К Функциональный контроль при: нормальных климатических условиях повышенной рабочей температуре среды |
1.5.1, а 1.5.1, б 1.3.1 1.3.1 1.3.1 1.5.1 |
2.3.1 2.3.1 2.3.1 2.3.1 Устанавливает в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов То же |
|
К-5 |
Испытание на воздействие изменения температуры среды Испытание на воздействие линейного ускорения Испытание на воздействие одиночных ударов Испытание на воздействие повышенной влажности воздуха (кратковременное) |
1.5.1, в, 1.2.8 1.4 1.4 1.2.7 1.5.1, г |
2.3.1 2.3.1 2.3.1 2.3.8.1 2.3.1 |
|
К-6 |
Испытание на безотказность |
1.6.1 |
2.3.6 |
|
К-7 |
Проверка качества и прочности нанесения маркировки Проверка прочности внешних выводов Испытание на способность к пайке Испытание на теплостойкость при пайке Испытание на герметичность |
3.1.1 1.2.9 1.2.5 1.2.6 1.2.6 1.2.4 |
2.3.8.1 2.3.8.2 2.3.1 2.3.1 2.3.1 2.3.1 |
|
К-8 |
Испытание упаковки |
1 3.2 |
2.3.9.1 |
Продолжение табл. 2
|
Группа испытания |
Вид и последовательность испытания |
Пункт настоящего стандарта |
|
|
Техническое требование |
Метод испытания |
||
|
К-9 |
Испытание на вибропрочность Испытание на виброустойчивость Испытание на ударную прочность (многократные удары) |
1.4 1.4 1.4 |
2.3.1 2.3.1 2.3.1 |
|
К-Ю |
Проверка массы Испытание на воздействие атмосферного повышенного давления Испытание на воздействие атмосферного пониженного давления |
1.2.3 1.5.1, е 1.5.1, д |
2.3.1 2.3.1 2.3.1 2.3.3 |
|
К-П |
Испытание на долговечность |
1.6.1 |
2.3.6 |
|
К-12 |
Испытание на воздействие повышенной влажности воздуха (длительное) (для микросхем исполнения УХЛ-10 сут, исполнения В-21 сут) |
1.5.2 |
2.3.1 |
|
К-13 |
Испытание на воздействие плесневых грибов |
1.5.2 |
2.3.1 |
|
К-14 |
Испытание на воздействие соляного тумана |
1.5.2 |
2.3.1 |
|
К-15 |
Испытание на способность вызывать горение Испытание на горючесть (кроме микросхем в металлостеклянном, металлокерамическом, стеклокерамическом и керамическом корпусе) |
1.2.11 1.2.11 |
2.3.1 2.3.1 |
Примечания:
Для микросхем в корпусах типа 2 по ГОСТ 17467—88 проверку прочности внешних выводов группы К-7 не проводят.
Испытания по группам К-4 и К-5 допускается проводить на одной выборке.
Для микросхем монолитной конструкции испытания на герметичность группы К-7 и испытания на вибропрочность и выброустойчивость группы К-9 не проводят.. Вместо испытаний на герметичность проводят испытания на воздействие повышенной влажности воздуха (кратковременное).
Допускается при непрерывном цикле испытаний совмещать проверку электрических параметров перед каким-либо испытанием с такой же проверкой после предшествовавшего испытания.Функционированный контроль проводят для микросхем третьей и более высоких степеней интеграции. В технически обоснованных случаях совмещают функциональный контроль с проверкой электрических параметров.
Если функциональный контроль проводят на максимальной рабочей частоте, проверку динамических параметров исключают.
Проверку герметичности после проверки прочности внешних выводов по группе К-7 не проводят, а совмещают с проверкой герметичности в конце группы К-7. ■
Испытание на горючесть по группе К-15 (испытание на воздействие пламени) не проводят, если при внешнем конструктивном исполнении микросхем не использованы органические материалы. Стойкость таких микросхем к воздействию пламени обеспечивается конструкцией.
Испытание на способность вызывать горение по группе К-15 (испытание на воздействие аварийных электрических перегрузок) не проводят, если превышение температуры наиболее пожароопасного участка поверхности микросхем при аварийной перегрузке, установленной в техническом задании, стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов, не превышает допустимого значения по ГОСТ 8865—87.
Для проведения испытаний комплектуют выборку микросхем в объеме, достаточном для проведения всех групп испытаний по соответствующим планам контроля с учетом порядка контроля этих групп в пределах данной категории.
Для проведения испытаний применяют следующие планы контроля:
для групп испытаний К-1—К-3 — планы контроля, установленные для групп С-1—С-3 приемо-сдаточных испытаний соответственно;
для групп испытаний К-4, К-5, К-9 и К-12 план контроля, установленный в табл. 7;
для группы испытаний К-6 — план контроля, установленный для группы П-1 периодических испытаний;
для групп испытаний К-7 и К-10 — план контроля, установленный в табл. 8;
для группы испытаний К-8 — план контроля, приведенный в табл. 8 (испытаниям подвергают 1 единицу транспортной тары с упакованными микросхемами);
для группы испытаний К-Н—план контроля, установленный в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов, необходимый для подтверждения заданного в настоящем стандарте значения интенсивности отказов;
для групп испытаний К-13—К-14 — испытаниям подвергают выборку п=5 шт. при приемочном числе С = 0 (для микросхем 1—3-й степеней интеграции и выборку п = 3 шт. при приемочном числе С = 0 (для микросхем 4-й и более высоких степеней интеграции) ;
для группы испытаний К-15 — испытаниям подвергают выборку п = 3 шт. при приемочном числе С=0;
в технически обоснованных случаях объем выборки для мощных, уникальных и дорогостоящих микросхем можно устанавливать иным, что устанавливают в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов.
(Измененная редакция, Изм. № 1).
Если в стандартах или технических условиях на микросхемы конкретных типов проведено разделение совокупности микросхем, входящих в данную серию, на группы типов, то комплектование выборок по группам К-4 и К-6 проводят от каждой группы типов.
Оценку результатов испытаний относят к каждой группе типов в отдельности.
Комплектование выборок по группам К-5, К-7—К-12 проводят одним (любым) типом микросхем от данной серии. Результаты испытаний распространяют на все типы микросхем данной серии.
Если для проведения испытаний микросхемы распаивают на печатные платы, то измерение электрических параметров микросхем проводят до и после распайки микросхем.
Микросхемы, отказавшие при распайке их на платы из-за ошибки оператора, из выборки исключают, заменяют годными и при оценке квалификационных испытаний не учитывают.
Предварительную оценку квалификационных испытаний по группе К-11 (долговечность) производят по результатам испытаний в течение 1000 ч при С=0 (испытания при этом по группе К-11 продолжают до их завершения).
(Измененная редакция, Изм. № 1).
Перед проверкой микросхем по группам испытаний К-4—К-12 все микросхемы выборки должны быть проверены в объеме приемо-сдаточных испытаний.
Если при проверке будут обнаружены дефектные микросхемы, то последние из выборки исключают и заменяют годными. Обнаружение дефектных микросхем не является основанием для прекращения испытаний.
Испытания микросхем исполнения УХЛ на устойчивость к воздействию соляного тумана и среды, зараженной плесневыми грибками (п. 1.5.2), не проводят. Устойчивость к воздействию этих факторов обеспечивается покрытием микросхем защитными лаками в соответствии с п. 4.9.
При получении отрицательных результатов испытаний по группе К-8 проводят доработку конструкции упаковки и технологии упаковывания, после чего проводят новые испытания по этой группе на приборах той же установочной серии.
2.2.2.10. (Измененная редакция, Изм. № I).
Приемо-сдаточные испытания
Состав испытаний, деление состава на группы испытаний, последовательность испытаний в пределах группы и последовательность групп испытаний должны соответствовать указанным в табл. 3.
(Измененная редакция, Изм. № 1).Таблица 3
|
Группа испытаний |
Вид и последовательность испытаний |
Пункт настоящего стандарта |
|
|
требований |
методов испытаний |
||
|
С-1 |
Проверка внешнего вида и маркировки |
1.2.2 |
2.3.1 |
|
|
|
1.2.10; 3.1.1 |
2.3.8.1 |
|
С-2 |
Проверка габаритных, установочных и присоединительных размеров |
1.2.1 |
2.3.1 |
|
С-3 |
Проверка статических параметров (параметров постоянного тока), отнесенных к категории С, при: |
|
|
|
|
нормальных климатических уело- |
1.3.1 |
|
|
|
ВИЯХ |
2.3.1 |
|
|
|
пониженной рабочей температуре среды |
1.5.1 |
2.3.1 |
|
|
повышенной рабочей температуре |
1.5.1 |
|
|
|
среды Проверка динамических параметров (параметров переменного тока), отнесенных к категории С, при нор- |
2.3.1 |
|
|
1.3.1 |
|||
|
|
мальных климатических условиях |
2.3.1 |
|
|
|
Функциональный контроль при: нормальных климатических уело- |
|
|
|
|
ВИЯХ |
1.3.1 |
Устанавливают |
|
|
|
|
в стандартах или ТУ на мик- |
|
|
|
|
росхемы конкретных типов |
|
|
повышенной рабочей температуре среды |
1.5.1 , |
То же |
