При контроле стекла марок КУ-1, КУ-2, КУВИ и КИ проверяют один образец (или заготовку) от каждой плавки.
В случае несоответствия показателя поглощения установленным требованиям проводят повторные испытания удвоенного количества образцов.
Результаты повторных испытаний являются окончательными и распространяются на всю партию.
(Измененная редакция, Изм. № 1).
Показатель поглощения стекла марки КВ и радиационно-оптическую устойчивость стекла проверяют только при периодических испытаниях по п. 3.6.
Периодические испытания проводят на соответствие всем требованиям настоящего стандарта один раз в год.
Испытанию подвергают не менее трех заготовок, взятых выборочно от разных партий, выдержавших приемо-сдаточные испытания.
В случае неудовлетворительного результата испытаний хотя бы по одному из показателей следует проводить повторные испытания удвоенного количества заготовок. Результат повторной проверки считают окончательным.
МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ
При проведении приемо-сдаточных и периодических испытаний должны применяться методы контроля, указанные ниже.
Допускается применять другие методы (приборы), обеспечивающие требуемую точность измерения.
Размеры заготовок следует проверять любым измерительным инструментом, обеспечивающим требуемую точность измерения.
О п р е д е л е н и е глубины механических дефектов
Наличие механических дефектов (выколок, посечек) определяют путем просмотра заготовок на темном фоне при направленном боковом освещении лампой мощностью 100—200 Вт.
Глубину выколок измеряют с помощью индикаторного глубиномера по ГОСТ 7661 или индикатора часового типа ИЧ05 1-го класса точности по ГОСТ 577 со стальным удлиненным измерительным наконечником НРДС-0,6 2-го класса точности по ГОСТ 11007, закрепленным на стойке типа C-IV по ГОСТ 10197.
Глубину посечек оценивают визуальным сравнением с контрольным образцом. Требования к контрольному образцу изложены в приложении 4.
Заготовки со шлифованными поверхностями непосредственно перед контролем смачивают иммерсионной жидкостью (nD= 1,46) или керосином (nD = 1,45).
Контрольный образец располагают как можно ближе к измеряемой посечке таким образом, чтобы посечка и соответствующий сегмент контрольного образца находились приблизительно под одним углом зрения у, и проводят визуальное сравнение с чертежом на контрольный образец. При этом глубину посечек, идущих в направлении, перпендикулярном поверхности просмотра, 1Х оценивают сравнением ее с высотой соответствующего сегмента контрольного образца I (черт. 2).
При определении глубины посечек, идущих ПОД углом К поверхности просмотра, І2 на поверхности заготовки над основанием посечки наносят стеклографом риску и расстояние от риски до основания посечки сравнивают с контрольным образцом.
Черт. 2
Допускается глубину выколок и наклонных посечек определять с помощью микроскопа типа МБС или другого, конструкция которого позволяет проводить перефокусировку и, при необходимости, с незначительными конструктивными изменениями измерять продольное перемещение микроскопа или предметного столика с точностью 0,1 мм. В этом случае на стойке микроскопа крепят в дополнительной оправе индикатор ИЧ05.
Перед измерением глубины наклонных посечек шлифованную поверхность заготовки смачивают иммерсионной жидкостью или керосином. Проводят фокусировку микроскопа сначала на поверхность заготовки, а затем на основание выколки или посечки. Значение перефокусировки h определяют с помощью индикатора.
За глубину выколок принимают полученное значение перефокусировки. Глубину наклонных посечек ((г) в мм рассчитывают по формуле
І2 = h ■ nD, где h — значение перефокусировки, мм;
nD— показатель преломления кварцевого стекла.
(Измененная редакция, Изм. № 2).
Определение показателя поглощения
Метод определения заключается в измерении коэффициента пропускания (tJ или оптической плотности (7) с последующим расчетом показателя поглощения.Коэффициент пропускания (оптическую плотность) измеряют на приборах, указанных в табл. 22 или любых других приборах с аналогичными метрологическими характеристиками.
Таблица 22
|
Наименование прибора |
Обозначение прибора |
Рабочий диапазон длин волн, нм |
|
Вакуумный монохроматор |
ВМР-2 |
170-210 |
|
Вакуумный спектрофотометр |
ВСФ-2МП |
120-400 |
|
Спектрофотометр |
СФ-4А СФ-16 СФ-26 СФ-46 |
200-1100 |
|
Спектрофотометр |
СФ-8 |
1000-2000 |
|
Инфракрасный спектрофотометр |
ИКС-22 |
750-4500 |
|
ИКС-29 |
2400-25000 |
Контроль проводят на образце или заготовке.
Образцы для испытания — плоскопараллельные полированные пластины толщиной (10±0,1) мм, размером рабочих поверхностей: (28±0,5)х(15±0,5) мм — для приборов типа BMP и СФ и (35±0,5)х(15±0,5) мм (или диаметром 35 мм) — для приборов типа ИКС.
Параметр шероховатости (Rz) рабочей поверхности образца должен быть в пределах от 0,050 до 0,025 мкм; чистота поверхности — PIV (для измерения на приборах типов BMP и СФ) и PVI (для измерения на приборах типа ИКС); отклонение от параллельности рабочих поверхностей образца — не более 3'.
Образцы не должны содержать видимых на глаз свилей, пузырей, включений.
Показатель поглощения допускается определять на образцах других размеров или непосредственно в заготовках (на приборе типа ИКС), если размеры их не ограничивают светового пучка прибора. При этом требования к-подготовке рабочих поверхностей заготовки соответствуют требованиям, предъявляемым к подготовке образца.
Измерение коэффициента пропускания (оптической плотности) проводят в соответствии с техническим описанием и инструкцией по эксплуатации прибора в рабочем направлении заготовки или образца, совпадающем с направлением оси наплава заготовки.
Значение показателя поглощения (nJ, см-1, рассчитывают по формуле
где Dx — оптическая плотность, измеренная на приборе, имеющем шкалу плотности, или рассчитанная по формуле Dx= - 1g тх, где — коэффициент пропускания;
Dp — поправка на отражение;
5 — толщина образца, см.
Определение люминесценции
Качественный метод
Качественную оценку люминесценции проводят на любом люминескопе, улътрахимископе или другом приборе аналогичного типа с ртутно-кварцевой лампой и светофильтром типа УФС-1 по ГОСТ 9411 в затемненном помещении визуальным сравнением интенсивностей люминесценции испытуемой заготовки и контрольного образца. При этом толщина испытуемой заготовки не должна отличаться от толщины контрольного образца более чем на ±3 мм, что обеспечивается выбором соответствующего контрольного образца или наложением друг на друга нескольких контрольных образцов.
В набор контрольных образцов люминесценции должны входить образцы толщиной 10,15, 20, 30, 40 мм.
Требования к контрольным образцам изложены в приложении 1.
Контроль заготовок размером более 150 мм проводят по зонам, определяемым выходным зрачком прибора.Количественный метод (арбитражный)
Количественную оценку люминесценции проводят на двойном люминесцентном спектрометре СДЛ-1 или другом приборе подобного типа сравнением спектров люминесценции испытуемого образца (заготовки) и контрольного образца.
Образец для испытания должен соответствовать требованиям, предъявляемым к контрольным образцам. При этом размеры обработанных поверхностей его должны быть не менее (3011)х(2011) мм. Толщина образца должна быть равной толщине контрольного образца (расхождение по толщине не должно превышать 5%).
Контроль люминесценции можно проводить непосредственно в заготовке, если она удовлетворяет требованиям, предъявляемым к образцу для испытаний, и ее размер не превышает 150 мм.
Запись спектров люминесценции испытуемой заготовки (образца) и контрольного образца проводят при идентичных условиях, при этом длина волны возбуждающего света должна быть 248 нм, диапазон регистрации спектров люминесценции — 250—550 нм.
Пример записи спектра люминесценции приведен в приложении 1.
На полученных записях спектров металлической линейкой с ценой деления 1 мм по ГОСТ 427 измеряют ординату в максимумах интенсивности полос люминесценции (максимумы интенсивности могут быть определены по показаниям прибора), после чего вычисляют отношение интенсивности полос люминесценции испытуемого образца к интенсивности полос люминесценции контрольного образца. Оно не должно превышать 1.
Двулучепреломление стекла определяют на поляриметрах типов ПКС-125, ПКС-250 или других приборах с аналогичными метрологическими характеристиками по ГОСТ 3519 в рабочем направлении. При этом за двулучепреломление заготовки стекла принимают максимальное значение из полученных при измерении.
Для стекла марки КИ двулучепреломление допускается измерять в направлении наибольшего размера заготовки.
Заготовки стекла всех марок толщиной до 10 мм не контролируют.
Бессвильность определяют по ГОСТ 3521 в рабочем направлении заготовки (без поворота ее) на установке с диафрагмой 2,0 мм при расстоянии от диафрагмы до экрана (80001200) мм и от контрольного образца свили (заготовки) до экрана (2500±100) мм.
В заготовках размером до 300 мм бессвильность допускается проверять на установке с диафрагмой диаметром 2,0 мм по первой категории и 4,0 мм — по второй категории бессвильности при расстоянии от диафрагмы до экрана (750150) мм и от контрольного образца свили (заготовки) до экрана (500±50) мм.
Мелкозернистую неоднородность определяют визуальным сравнением теневой картины заготовки и контрольного образца по методу, изложенному в ГОСТ 3521. При этом толщина испытуемой заготовки не должна отличаться от толщины контрольного образца более чем на +5 мм, что обеспечивается выбором соответствующего контрольного образца или наложением друг на друга нескольких контрольных образцов.
В набор контрольных образцов мелкозернистой неоднородности должны входить образцы толщиной 10, 20, 30, 40, 50, 60, 100 мм.
Требования к контрольным образцам изложены в приложении 2.
Определение проводят в рабочем направлении заготовки (без поворота ее) на установке с диафрагмой 4,0 мм при расстоянии от диафрагмы до экрана (8000±200) мм и от контрольного образца (заготовки) до экрана (25001100) мм.
В заготовках размером до 300 мм мелкозернистую неоднородность допускается определять на установке с диафрагмой диаметром 2,0 мм и 4,0 мм — при расстоянии от диафрагмы до экрана (750150) мм и от контрольного образца (заготовки) до экрана (500150) мм.
Допускается определение проводить методом фотографирования на установке с диафрагмой диаметром 0,2 мм при расстоянии от диафрагмы до экрана (80001200) мм и от контрольного образца (заготовки) до экрана (25001100) мм.
(Измененная редакция, Изм. № 1).
Оптическую однородность стекла определяют по ГОСТ 3518 в рабочем направлении. При этом определение оптической однородности стекла по автоколлимационной схеме по соглашению между потребителем и изготовителем допускается проводить в прямом проходящем свете.
Контроль оптической однородности стекла в заготовках размером св. 150 мм, предназначенных для деталей, работающих полным световым отверстием, проводят по зонам диаметром 150 мм в двух взаимно перпендикулярных направлениях в пределах светового отверстия; зоны должны перекрываться по площади не менее чем на 30%.
Размер светового отверстия устанавливается при заказе и указывается на чертеже заготовки. Оптическую однородность стекла в заготовках размером менее 50 мм и св. 500 мм не контролируют.
Пузырность и включения определяют путем просмотра заготовки на темном фоне при направленном боковом освещении. В качестве источника света применяют лампу накаливания мощностью 100—200 Вт. Характер включения (прозрачное, полупрозрачное, непрозрачное — в соответствии с ГОСТ 16548) определяют при нормальном падении освещающего пучка на газетный лист.
Определение стекловидных включений проводят в проходящем свете при естественном или искусственном прямом освещении через рабочие поверхности заготовки. Рабочие поверхности заготовки должны быть полированными.
(Измененная редакция, Изм. № 1).
Размер пузырей (включений) в заготовке определяют визуально сравнением с контрольными образцами пузырей набора по ГОСТ 3522. Допускается размеры определять линейкой по ГОСТ 427 или измерительной лупой по ГОСТ 25706.
Среднее число пузырей (включений) в 1 кг стекла заготовки определяют путем подсчета.
Радиационно-оптическую устойчивость кварцевого стекла к воздействию у-излучения контролируют путем определения приращения оптической плотности образца стекла, облученного на радиационной установке типа МРХ-у-20 с источником излучения 60Со мощностью дозы (10±1) • 103 Р/ч.
Образец для испытания — по п. 4.4 настоящего стандарта.
Оптическую плотность до и после облучения измеряют в идентичных условиях при температуре (20±5) °С на спектрофотометрах типа СФ-16, СФ-26, СФ-46 в соответствии с техническим описанием и инструкцией по эксплуатации, приложенной к ним. Предельная погрешность измерения не более 0,005.
