Обозначив больший ИЗ отсчетов <Р1, меньший <f2, вычисляют от­клонение V оптической оси кварца от перпендикулярности к рабо­чим поверхностям для света с длиной волны 546,07 нм по фор­муле .

v=0,3('Pj—<Р2).

Отклонение не должно превышать значений, приведенных в ГОСТ 22409—77.

  1. Отклонение рабочих поверхностей кварцевой пластинки от плоскостности проверяют в монохроматическом свете на интер­ферометре, обеспечивающем возможность получения интерферен­ционных полос равной толщины. Кварцевую пластинку, вынутую из оправы, помещают на столик интерферометра. Регулированием- винтов столика добиваются видимости в поле зрения интерферен­ционных полос равной толщины, возникших в воздушном слое меж­ду рабочей поверхностью кварцевой пластинки и рабочей поверх­ностью стеклянной пластины интерферометра.

Кварцевую пластинку переворачивают так, чтобы к стеклянной пластине интерферометра была обращена другая рабочая поверх­ность и снова наблюдают интерференционные полосы равной тол­щины. Отклонения каждой из рабочих поверхностей пластинки от плоскостности, оцениваемые по кривизне интерференционной поло­сы, не должны превышать значений, приведенных в ГОСТ 22409—77.

  1. Отклонение рабочих поверхностей кварцевых пластинок от параллельности проверяют на интерферометре. Регулированием винтов столика, на котором расположена пластинка, добиваются видимости в поле зрения интерференционных полос равной тол­щины, возникших между обеими рабочими поверхностями кварце­вой пластинки.

Отклонения от параллельности, оцениваемые по числу видимых полос, не должны превышать значений, приведенных в ГОСТ 22409—77.

  1. Расстояние между опорными буртиками направляющей трубки измеряют металлической линейкой. Расстояние между центрами буртиков должно соответствовать значениям, приведен­ным в ГОСТ 22409—77.

  2. Диаметр каждого опорного буртика направляющей труб­ки измеряют в его центральной части микрометром в двух взаим­но перпендикулярных направлениях. Диаметры каждого опорного буртика оправы поляриметрической пластинки должны соответст­вовать значениям, приведенным в ГОСТ 22409—77.

  3. Световой диаметр оправы измеряют штангенциркулем. Внутренние диаметры направляющей трубки, крепящей ганки, втулки и разделительной шайбы должны соответствовать значе­ниям, приведенным в ГОСТ 22409—77.

  4. Параллельность плоских поверхностей установочного- кольца определяют рычажным микрометром, измеряя толщину кольца в четырех точках (на концах двух взаимно перпендикуляр­ных диаметров). Разность между наибольшим и наименьшим ре­зультатами измерений не должна превышать значения, приведен­ного в ГОСТ 22409—77.

  5. Разность между наибольшей толщиной установочного- кольца и толщиной кварцевой пластинки не должна превышать большего значения допуска, приведенного в ГОСТ 22409—77.

  6. Внутренний диаметр установочного кольца измеряют штангенциркулем в двух взаимно перпендикулярных направле­ниях. Разность между результатами двух измерений не должна, превышать 0,1 мм. Разность между большим результатом измере­ния диаметра кольца и меньшим результатом измерения диамет­ра пластинки не должна превышать большего значения допуска,, приведенного в ГОСТ 22409—77. Разность между меньшим ре­зультатом измерения внутреннего диаметра кольца и большим ре­зультатом измерения диаметра пластинки должна быть равна или превышать меньшее значение допуска, приведенного в ГОСТ 22409—77.

  7. Разность между наружным Диаметром установочного кольца и диаметром гнезда для него измеряют штангенциркулем в двух взаимно перпендикулярных направлениях.

Разность между большим результатом измерения диаметра гнезда и меньшим результатом измерения диаметра кольца не должна превышать большего значения допуска, приведенного в ГОСТ 22409—77.

Разность между меньшим результатом измерения диаметра гнезда и большим результатом измерения диаметра кольца долж­на быть равной или превышать меньшее значение допуска, приведенного в ГОСТ 22409—77.

  1. Толщину разделительной шайбы в двойной поляриметри­ческой пластинке измеряют рычажным микрометром на концах двух взаимно перпендикулярных диаметров. Толщина должна со­ответствовать значениям, приведенным в ГОСТ 22409—77.

Разность результатов четырех измерений толщины не должна превышать значения, приведенного в ГОСТ 22409—77.

  1. Отклонения кварцевой пластинки от перпендикулярности к оси, вокруг которой оправа может вращаться на опорных бур­тиках, измеряют на автоколлиматоре с ценой деления не более ■30" и полем зрения не менее 30' с призменной подставкой с регу­лировочными винтами (справочное приложение 4). Подставку устанавливают так, чтобы ее ось была параллельна оптической оси автоколлиматора, а центр пучка света, выходящего из авто­коллиматора, совпадал с центром кварцевой пластинки. Для это­го на подставку помещают пластинку, оправа которой изготовлена с минимальными допусками.

Регулировочными винтами добиваются такого положения под­ставки, чтобы при вращении на ней этой оправы с пластинкой изображение автоколлиматорной марки не отклонялось от центра поля зрения более чем на 3'. При этом центр пучка света должен совпадать с центром пластинки. Затем поочередно помещают на подставку поверяемые поляриметрические пластинки. Медленно поворачивают каждую пластинку на опорных буртиках, наблю­дая за перемещением автоколлимационной марки. При поворо­тах пластинки на 360° отклонение марки от центра поля зрения не должно превышать значения, приведенного в ГОСТ 22409—77.

  1. Угол вращения плоскости поляризации образцовых поля­риметрических пластинок 2-го разряда измеряют на образцовом поляриметре 1-го разряда, в котором в качестве источника света использована ртутная лампа с низким давлением буферного газа и для выделения зеленой линии с длиной волны Л = 546,07 нм при­менен монохроматор.

Угол вращения контрольных поляриметрических пластинок определяют методом непосредственного сличения с мерами 2-го разряда при помощи фотоэлектрического поляриметра-компарато­ра типа А1-ЕПФ, прошедшего метрологическую аттестацию.

Угол вращения пластинки определяют не менее чем в пяти раз­личных положениях пластинки по отношению к плоскости поляри­зации падающего на пластинку света, отличающихся друг от дру­га примерно на 70°.

За значение угла вращения поляриметрической пластинки при­нимают среднее арифметическое результатов пяти измерений, каждый из которых вычислен для 20°С.

Если во время измерений температура пластинки отличается от 20°С, то необходимо вычислить значение ее угла вращения для 20°С по формуле

о

т*20 1+0,000143 (Г—20°С)’

где ф°0—значение угла вращения при температуре 20°С;

ф° — значение угла вращения при температуре измерения;

tтемпература измерения.

Значение угла вращения плоскости поляризации поляриметри­ческой пластинки при температуре 20°С для света с длиной вол­ны 589,3 нм (желтый дублет натрия) вычисляют по формуле

^589,3=0,85084^546,07-

Значение угла вращения пластинки в градусах международной сахарной шкалы CS для света с длинами волн 546,07 и 589,3 нм вычисляют по формулам:

ф546,07 5=2,45308 <р546,07,

ф589,з5 = 2,88883 фмэ.з— при температуре 20°С.

Отклонение действительных значений углов вращения пласти­нок от номинальных не должно превышать установленного ГОСТ 22409—77.

  1. ОФОРМЛЕНИЕ РЕЗУЛЬТАТОВ ПОВЕРКИ

    1. Положительные результаты первичной и периодической поверок образцовых поляриметрических пластинок 2-го разряда оформляют выдачей свидетельства о государственной поверке по форме, установленной Госстандартом СССР.

Форма записи результатов поверки (оборотная сторона свиде­тельства) приведена в обязательном приложении 5.

  1. Результаты поверки контрольных поляриметрических пла­стинок оформляют на предприятии-изготовителе путем маркиров­ки действительных значений углов вращения на каждой пла­стинке.

  2. Поляриметрические пластинки, не удовлетворяющие тре­бованиям настоящего стандарта, к выпуску в обращение и к при­менению не допускаются.

ПРИЛОЖЕНИЕ 1

Справочное

ТРЕБОВАНИЯ К УСТАНОВКЕ ВИЗУАЛЬНОГО КОНТРОЛЯ
ОДНОРОДНОСТИ КВАРЦА

Для визуального контроля однородности кварца используют установку, соб­ранную на базе сахариметра типа СУ-3, в котором вместо поляризатора с по­лутеневым устройством применены призменный поляризатор без полутеневого- устройства и призменный анализатор; конструкция суппорта изменена таким образом, чтобы можно было проверить однородность по всему световому диа­метру пластинки.

Установка должна состоять из источника света, конденсорной системы, по­ляризатора, суппорта для поляриметрической пластинки, кварцевого клинового- компенсатора, анализатора и зрительной трубы с увеличением не менее 3*.

Конденсорная система должна создавать параллельный пучок лучей. Зри­тельная труба должна быть сфокусирована на поверхность пластинки, и долж­на быть обеспечена возможность проверки однородности по всему световому диаметру пластинки.

Для проверки однородности образцовых пластинок используют лампу типа СЦ-62, а для контрольных пластинок — натриевую лампу типа ДНаС-18.

ПРИЛОЖЕНИЕ 2

Справочное

ТРЕБОВАНИЯ К ДЕРЖАТЕЛЮ ДЛЯ КВАРЦЕВОЙ ПЛАСТИНКИ

  1. Держатель для кварцевой пластинки должен быть укреплен на столике поляризационного гониометра или интерферометра типа Шенрока так, чтобы кварцевая пластинка располагалась вертикально, и ось вращения столика про­ходила через одну из рабочих поверхностей пластинки.

  2. Держатель должен допускать поворот кварцевой пластинки в ее плос­кости на 360°.

  3. Пластинка в держателе должна быть укреплена так, чтобы в ней не воз­никали внутренние напряжения.

В качестве держателя может быть использована плоская стеклянная пла­стина в оправе, удовлетворяющая требованиям пп. 1 и 2. Кварцевую пластинку притирают к поверхности стеклянной пластины при помощи кедрового маслаї или глицерина.



ПРИЛОЖЕНИЕ 3

Справочное

СХЕМА ИНТЕРФЕРОМЕТРА ТИПА ШЕНРОКА



1 — коллиматор со щелевой диафрагмой; 2 — поляризатор; 3 — анализатор; 4 — зри-
тельная труба; 5 — отсчетное устройство зрительной трубы; 6 — кварцевая пла-
стинка; 7— лимбПРИЛОЖЕНИЕ 4

Справочное

ПРИЗМЕННАЯ ПОДСТАВКА ДЛЯ ПРОВЕРКИ ОТКЛОНЕНИЯ КВАРЦЕВОЙ
ПЛАСТИНКИ ОТ ПЕРПЕНДИКУЛЯРНОСТИ К ОСИ, ВОКРУГ КОТОРОЙ
ОПРАВА МОЖЕТ {ВРАЩАТЬСЯ НА ОПОРНЫХ БУРТИКАХ

ПРИЛОЖЕНИЕ Ў

Справочное

ФОРМА ЗАПИСИ РЕЗУЛЬТАТОВ ПОВЕРКИ
(ОБОРОТНАЯ СТОРОНА СВИДЕТЕЛЬСТВА)

Поляриметрические пластинки поверены в соответствии с ГОСТ 22409—77. Результаты измерений для света с длиной волны ■ нм при температуре

20°С приведены в таблице.

№ п/п.

№ пластинки

Угол вращения плоскости поляризации

Направление вращения плоскости поляризации

в угловых градусах

в международных сахарных градусах








Редактор Л. А. Бурмистрова
Технический редактор В, Ю. Смирнова
Корректор В. М. Смирнова

Сдано в наб. 08.04.77 Подп. в печ. 16.06.77 1,0 п. л. 0,89 уч.-изд. л. Тир. 10 000 Цена 5 коп.

Ордена «Знак Почета» Издательство стандартов. Москва, Д-557, Новопресненский пер., 3 Тип. «Московский печатник». Москва, Лялин пер., 6. Зак. 742.Изменение № 1 ГОСТ 8.239—77 Государственная система обеспечения единст­ва измерений. Пластинки поляриметрические. Методы и средства поверки

Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 23.04.85 №1135 срок введения установлен

с 01.09.85

Заменить группу: Т88.4 на Т88.5.

Наименование стандарта. Заменить слова: «Методы и средства поверки» на «Методика поверки»;

«Methods and means of calibration» на «Methods of verification».

Вводная часть. Заменить слова: «методы и средства поверок» на «методику их поверки».

Пункт '1.1. Таблица. Графа «Средства поверки и их нормативно-технические характеристики». Заменить ссылки: ГОСТ 9411—75 на ГОСТ 9411—'81; ГОСТ 166—73 на ГОСТ 166—80; ГОСТ 438Иг-68 на ГОСТ 4381—80; ГОСТ 6507—60 на ГОСТ 6507—78; ГОСТ 1.1899—66 на ГОСТ 11899—77;

последний абзац. Заменить слова: «Поляриметр-компаратор» на «Поляри­метр».

Пункт 2.2. Третий и четвертый абзацы изложить в новой редакции: «перед проверкой однородности кварца, а в необходимых случаях и перед проверкой отклонения оптической оси кварца от перпендикулярности к рабочим поверхнос-

(Продолжение см. с. 224)(Продолжение изменения к ГОСТ 8.239—77) тям кварцевых пластинок и проверкой отклонения рабочих поверхностей кварце­вых пластинок от плоскостности и параллельности, затемнить помещение;

перед проверкой отклонения рабочих поверхностей кварцевой пластинки от плоскостности и параллельности выдержать ее на столике интерферометра не менее 5 мин для выравнивания температуры»;

дополнить абзацем: «перед проверкой однородности кварца, отклонения оп тической оси кварца от перпендикулярности к рабочим поверхностям кварцевой пластинки, отклонений рабочих поверхностей кварцевой пластинки от плоскост ности и параллельности и перед определением угла вращения кварцевая пластин­ка должна быть промыта этиловым спиртом по ГОСТ 5962—67».

Пункт 3.12. Заменить ссылку: ГОСТ 11141—7'6 на ГОСТ 111’41—84.

Пункт 3.17. Первый и второй абзацы изложить в новой редакции: «Угол вра­щения плоскости поляризации образцовых поляриметрических пластинок 2-го раз­ряда измеряют на образцовом поляриметре 1-го разряда в соответствии с мето­дикой, приведенной в технической документации на него.