МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СОВЕТ ПО СТАНДАРТИЗАЦИИ, МЕТРОЛОГИИ И СЕРТИФИКАЦИИ
(МГС)

I

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ


ГОСТ 8.593- 2009

NTERSTATE COUNCIL FOR STANDARDIZATION, METROLOGY AND CERTIFICATION
(ISC)

СТАНДАРТ

Государственная система обеспечения
единства измерений

МИКРОСКОПЫ СКАНИРУЮЩИЕ ЗОНДОВЫЕ

АТОМНО-СИЛОВЫЕ

Методика поверки

Издание официальное

s єз



П

Москва Ста н да рти н фо р м 2010

редисловие

Цели, основные принципы и основной порядок проведения работ по межгосударственной стандар­тизации установлены ГОСТ 1.0—92 «Межгосударственная система стандартизации. Основные положе­ния» и ГОСТ 1.2—2009 «Межгосударственная система стандартизации. Стандарты межгосударст­венные, правила и рекомендации по межгосударственной стандартизации. Порядок разработки, приня­тия, применения, обновления и отмены»

Сведения о стандарте

1 РАЗРАБОТАН Открытым акционерным обществом «Научно-исследовательский центр по изуче­нию свойств поверхности и вакуума» (Россия), Федеральным государственным учреждением «Россий­ский научный центр «Курчатовский институт» (Россия) и Государственным образовательным учреждением высшего профессионального образования «Московский физико-технический институт (государственный университет)» (Россия)

2 ВНЕСЕН Федеральным агентством по техническому регулированию и метрологии

3 ПРИНЯТ Межгосударственным советом по стандартизации, метрологии и сертификации (про­токол № 36 от 11 ноября 2009 г.)

За принятие проголосовали:

Краткое наименование страны по МК(ИСО 3166)004—97

Код страны по МК(ИСО 3166)004—97

Сокращенное наименование национального органа по стандартизации

Армения Беларусь Казахстан Кыргызстан Молдова

Российская Федерация

Таджикистан Узбекистан Украина

АМ BY KZ KG MD RU

TJ UZ UA

Минторгэкономразвития

Госстандарт Республики Беларусь

Госстандарт Республики Казахстан

Кыргызстандарт

Молдова-Стандарт

Федеральное агентство по техническому регулирова­нию и метрологии

Таджи кета ндарт

Узстандарт

Госпотребстандарт Украины



4 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 5 апреля 2010 г. № 57-ст

5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

Информация о введении в действие (прекращении действия) настоящего стандарта публику­ется в указателе «Национальные стандарты».

Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в указателе «Национальные стандарты», а текст изменений — в информационных указателях «Национальные стандарты». В случае пересмотра или отмены настоящего стандарта соответствующая информация будет опубликована в информационном указателе «Национальные стандарты».

© Стандартинформ, 2010

В Российской Федерации настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизве­ден, тиражирован и распространен в качестве официального издания без разрешения Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии

Содержание

  1. Область применения 1

  2. Нормативные ссылки 1

  3. Термины и определения 1

  4. Операции и средства поверки 2

  5. Требования к квалификации поверителей 3

  6. Требования безопасности 3

  7. Условия поверки и подготовка к ней 3

  8. Проведение поверки 4

  9. Обработка результатов измерений 5

Оформление результатов поверки 6МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

Государственная система обеспечения единства измерений

МИКРОСКОПЫ СКАНИРУЮЩИЕ ЗОНДОВЫЕ АТОМНО-СИЛОВЫЕ

Методика поверки

State system for ensuring the uniformity of measurements. Atomic-force scanning probe microscopes.

Verification method

Дата введения — 2010—11—01

  1. Область применения

Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы (далее — микроскопы), применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10-9 до 10-6 м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ 8.591 и ГОСТ 8.592.

  1. Нормативные ссылки

В настоящем стандарте использованы нормативные ссылки на следующие межгосударственные стандарты:

ГОСТ 8.591—2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельеф­ные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки

ГОСТ 8.592—2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельеф­ные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим фор­мам, линейным размерам и выбору материала для изготовления

ГОСТ 12.2.061—81 Система стандартов безопасности труда. Оборудование производственное. Общие требования безопасности к рабочим местам

ГОСТ ИСО 14644-1—2002 Чистые помещения и связанные с ними контролируемые среды. Часть 1. Классификация чистоты воздуха

Примечание — При пользовании настоящим стандартом целесообразно проверить действие ссылоч­ных стандартов на территории государства по соответствующему указателю стандартов, составленному по состоя­нию на 1 января текущего года, и по соответствующим информационным указателям, опубликованным в текущем году. Если ссылочный документ заменен (изменен), то при пользовании настоящим стандартом следует руково­дствоваться замененным (измененным) стандартом. Если ссылочный документ отменен без замены, то положе­ние, в котором дана ссылка на него, применяется в части, не затрагивающей эту ссылку.

  1. Термины и определения

  1. настоящем стандарте применены следующие термины с соответствующими определениями.

  1. рельеф поверхности (твердого тела): Поверхность твердого тела, отклонения которой от идеальной плоскости обусловлены естественными причинами или специальной обработкой.

  2. элемент рельефа (поверхности): Пространственно локализованная часть рельефа поверхности.

  3. сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп: Зондовый атомно-силовой микрос­коп с нормированными метрологическими характеристиками, предназначенный для измерения линей­ных размеров элементов рельефа поверхности и/или расстояний между ними путем сканирования поверхности острием зонда.

Издание официальное

  1. пиксель: Наименьший дискретный элемент изображения, получаемый в результате матема­тической обработки информативного сигнала.

  2. сканирование (элемента исследуемого объекта): Перемещение зонда микроскопа над выбранным элементом рельефа поверхности исследуемого объекта (или перемещение исследуемого объекта под зондом) с одновременной регистрацией информативного сигнала.

  3. изображение на экране монитора микроскопа (видеоизображение): Изображение на экране монитора микроскопа в виде матрицы из п строк по т пикселей в каждой, яркость которых прямо пропорциональна значению сигнала соответствующей точки матрицы.

Примечани е — Яркость пикселя определяется силой света, излучаемой в направлении глаза наблюда­теля.

  1. видеопрофиль информативного сигнала (видеопрофиль): Графическая зависимость значения информативного сигнала, поступающего с детектора микроскопа, от номера пикселя в данной строке видеоизображения.

  2. масштабный коэффициент (видеоизображения микроскопа): Отношение длины иссле­дуемого элемента рельефа на объекте измерений к числу пикселей этого элемента на видеоизображе­нии.

Примечание — Масштабный коэффициент определяют для каждого микроскопа.

  1. эффективный радиус (острия) зонда (микроскопа): Радиус сферы, характеризующей гео­метрические размеры острия зонда микроскопа.

Примечание — Эффективный радиус зонда микроскопа определяют по значению радиуса сферы, впи­санной в острие зонда при одновременном касании острия боковой грани выступа и дна канавки рельефной меры по ГОСТ 8.591.

  1. Z-сканер сканирующего зондового атомно-силового микроскопа (Z-сканер): Устрой­ство сканирующего зондового атомно-силового микроскопа, позволяющее в процессе сканирования перемещать зонд над поверхностью исследуемого объекта (или перемещать исследуемый объект под зондом) в вертикальном направлении.

  2. рельефная мера нанометрового диапазона: Мера, содержащая элементы рельефа, линейный размер хотя бы одного из которых менее 10-6 м.

  3. элемент рельефа в форме выступа (выступ): Элемент рельефа, расположенной выше прилегающих к нему областей.

  4. геометрическая форма элемента рельефа: Геометрическая фигура, наиболее адекватно аппроксимирующая форму минимального по площади сечения элемента рельефа.

Пример — Трапецеидальный выступ, представляющий собой элемент рельефа поверхности, геометрическая форма минимального по площади сечения которого наиболее адекватно аппроксими­руется трапецией.

  1. Операции и средства поверки

    1. При проведении первичной и периодических поверок микроскопа должны быть выполнены операции и применены средства поверки, указанные в таблице 1.

Таблица 1 — Операции и применяемые средства поверки

Наименование операции

Номер подраздела настоящего стандарта

Наименование средства поверки и его основные технические и метрологические характеристики

Внешний осмотр

Опробование

Определение метро­логических характеристик

8.1

8.2

8.3

Вспомогательный оптический микроскоп (увеличение — не менее 400х)*.

Рельефная мера, изготовленная по ГОСТ 8.592 и пове­

ренная по ГОСТ 8.591.

Рельефная мера, изготовленная по ГОСТ 8.592 и пове­

ренная по ГОСТ 8.591

* Допускается при проведении операции «Опробование» не использовать оптический микроскоп.



    1. Допускается применять другие средства поверки, точность которых соответствует требовани­ям настоящего стандарта.

  1. Требования к квалификации поверителей

Поверку микроскопов должны проводить штатные сотрудники метрологической службы предприя­тия, аккредитованной в установленном порядке на право поверки средств измерений. Сотрудники долж­ны иметь высшее образование, профессиональную подготовку, опыт работы со сканирующими зондовыми атомно-силовыми микроскопами и знать требования настоящего стандарта.

  1. Требования безопасности

    1. При поверке микроскопов необходимо соблюдать правила электробезопасности и требования к обеспечению безопасности на рабочих местах по ГОСТ 12.2.061.

    2. Рабочие места поверителей должны быть аттестованы по условиям труда в соответствии с требованиями трудового законодательства.

  2. Условия поверки и подготовка к ней

    1. При проведении поверки микроскопа должны быть соблюдены следующие условия:

-

(20±3)°С;

не более 80 %;

(100 ±4) кПа;

(220 ± 22) В;

(50,0 ±0,4) Гц.

температура окружающей среды . - относительная влажность воздуха - атмосферное давление
  • напряжение питающей сети

  • частота питающей сети

  1. Помещение (зона), в котором размещают микроскоп и средства его поверки, должно быть в эксплуатируемом состоянии и обеспечивать класс чистоты не более класса 8 ИСО по взвешенным в воз­духе частицам с размерами 0,5 и 5 мкм и концентрациями, определенными по ГОСТ ИСО 14644-1.

  2. Подготовку к поверке микроскопа проводят следующим образом:

  • выбирают для поверки микроскопа рельефную меру нанометрового диапазона с трапецеидаль­ным профилем элементов (далее — рельефная мера), линейные размеры и материал для изготовле­ния которой соответствуют требованиям ГОСТ 8.592. Рельефная мера должна быть поверена по ГОСТ 8.591. Сечение выступа рельефной меры приведено на рисунке 1;


Рисунок 1 — Сечение исследуемого элемента рельефной меры









  • в качестве исследуемого элемента используют выступ, для которого в паспорте (формуляре) на меру приведены значения проекции боковой грани выступа на плоскость нижнего основания а, ширины нижнего основания выступа Ьр и высоты выступа h. В зависимости от значения ожидаемого эффективно­го радиуса зонда микроскопа гиспользуют рельефную меру, для которой

а



(1)



  • проводят осмотр футляра, в котором осуществлялось хранение и транспортирование рельефной меры, на отсутствие механических повреждений;

  • проводят проверку соответствия комплекта поставки рельефной меры данным, приведенным в паспорте (формуляре) на рельефную меру;

  • выдерживают выбранный экземпляр рельефной меры в помещении, где будет проведена повер­ка микроскопа, не менее 24 ч;

  • извлекают рельефную меру из футляра и осматривают ее для выявления внешних повреждений (царапин, сколов и других дефектов) и загрязнений. При необходимости поверхность меры очищают от частиц пыли струей очищенного сухого воздуха.

    1. Выполняют операции, необходимые для подготовки микроскопа к работе, в соответствии с требованиями инструкции по его эксплуатации.

  1. Проведение поверки

    1. Внешний осмотр