---

qualitative X-ray phase analysis ........................ 4.4.1

quanitative X-ray phase analysis ........................ 4.4.2

radiation sampling ...................................... 4.2.19

range of angular displacements .......................... 4.2.3

range of the analysed chemical elements ................. 4.2.16

regulation speed ........................................ 4.2.5

reference substance ..................................... 4.4.23

rotation range of a testing sample ...................... 4.2.10

scanning spectrometric X-ray channel .................... 4.3.3

small angle X-ray diffractometer ........................ 4.1.4

smearing of a diffraction peak .......................... 4.4.25

standart matter.......................................... 4.4.19

source of X-ray-radiation................................ 4.3.11

spectracal resolution ................................... 4.2.17

spectrometric X-ray channel ............................. 4.3.1

television type detector ................................ 4.3.7

testing method at different pressions ................... 4.4.12

testing method at different temperatures ................ 4.4.11

testing method of the surface and the fine films......... 4.4.10

test method with small angles ........................... 4.4.18

texture X-ray diffractometer ............................ 4.1.3

- 24 -

ДСТУ Б А.1.1-8-94

turning angle admissible deviation of the detection

block ................................................... 4.2.2

voltage definition ...................................... 4.4.9

weakening factor......................................... 4.4.24

working angle range of a metric adapter.................. 4.2.6

X-ray analytical complex ................................ 4.1.7

X-ray camera ............................................ 4.3.5

X-ray diffractometer .................................... 4.1.1

X-ray filter ............................................ 4.3.10

X-ray goniometry adapter................................. 4.3.4

X-ray radiation detector ................................ 4.3.6

X-ray spectrometer ...................................... 4.1.5

- 25 -

ДСТУ Б А.1.1-8-94

AБETKOBИЙ ПОКАЖЧИК ФРАНЦУЗЬКИХ TEPMІНІВ

adapteur gomiometrique [a4] rayons X ................... 4.3.4 *

analyse de phase locale................................. 4.4.16

analyse de phases qualitative [a4] rayons X ............ 4.4.1 *

analyse de phase quantative [a4] rayons X .............. 4.4.2 *

an[e2]antissement d'une pointe de diffraction .......... 4.4.25 *

angle d'extraction de la radiation X ................... 4.2.15 *

cadence de comtage des impulsions sur ligne

analytique ............................................. 4.2.12

canal de balayage spectrometrique [a4] rayons X ........ 4.3.3 *

canal spectrometrique [a4] rayons X .................... 4.3.1 *

canal spectrometrique, fixe [a4] rayons X .............. 4.3.2 *

chambre de diffraction ................................. 4.3.5

choix de radiation ..................................... 4.2.19

complexe analytique [a4] rayons X ...................... 4.1.7 *

complexe de commande diffractom[e2]trique .............. 4.3.12 *

contraste d'un diffractomnetre [a4] rayons X ........... 4.2.13 *

cristal-analyseur ...................................... 4.3.8

cristal-mnnochromateur ................................. 4.3.9

d[e2]finition de l'[e2]paisseur d'un materiau ......... 4.4.15 *

d[e2]finition de tensions .............................. 4.4.9 *

d[e2]formation de la cristallite ....................... 4.4.20 *

d[e2]tecteur de radiation X ............................ 4.3.6 *

d[e2]tecteur de type-television ........................ 4.3.7 *

deviation angulaire admissible du bloc de

d[e2]tection ........................................... 4.2.2 *

diffractometre [a4] rayons X ........................... 4.1.1 *

diffractometre [a4] rayons X [a4] petits angles ........ 4.1.4 *

diffractometre de texture [a4] rayons X ................ 4.1.3 *

diffractometre d'usage general ......................... 4.1.2

dispersion diffuse [a4] petite angles .................. 4.4.26 *

erreur de mesurage d'un angle de rotation .............. 4.2.8

erreur d'un bloc angulaire ............................. 4.2.7

erreur principale due aux insrtumets ................... 4.2.1

facteur d'affaiblissement .............................. 4.4.24

liltre [a4] rayons X ................................... 4.3.10 *

gamme de d[e2]placement d'un tube radiog[e2]n .......... 4.2.4 *

gamme de rotation d'un [e2]chantillon [a4] [e2]tudier .. 4.2.10 *

gamme des angles de travail d'un adapteur

m[e2]trique ............................................ 4.2.6 *

gamme des d[e2]placements angulaires ................... 4.2.3 *

gamme des elements chimiques analyser .................. 4.2.16

intensit[e2] de diffusion avec un objet ................ 4.4.27 *

limite de d[e2]tection ................................. 4.2.14 *

linge analytique ....................................... 4.4.28

mati[e2]re standard .................................... 4.4.19 *

m[e2]thode d'addition d'une phase [a4] d[e2]finir ...... 4.4.5 *

m[e2]thode d'analyse radiospectrale .................... 4.4.4 *

m[e2]thode d'analyse (strycturale) aux rayons X ........ 4.4.3 *

m[e2]thode de Lower .................................... 4.4.13 *

m[e2]thode de mesurage direct du coefficient *

d'absorption ........................................... 4.4.7

m[e2]thode de poudre ................................... 4.4.17 *

m[e2]thode de rotation et de vibration du crystal ...... 4.4.14 *

m[e2]thode des relations d'inteesite des lignes *

analytiques ............................................ 4.4.6

m[e2]thode d'[e2]tude aux pressions diff[e2]rentes ..... 4.4.12 *

- 26 -

ДСТУ Б А.1.1-8-94

m[e2]thode d'[e2]tude aux temperatures diff[e2]rentes .. 4.4.11 *

m[e2]thode d'[e2]tude avee petite angles ............... 4.4.18 *

m[e2]thode d'[e2]tude de la surface et des films fins .. 4.4.l0 *

m[e2]thode d'un standard int[e2]rieur .................. 4.4.8 *

param[e2]tre d'un cellule .............................. 4.4.21 *

pas minimal de balayage ................................ 4.2.18

r[e2]solution angulaire ................................ 4.2.9 *

r[e2]solution spectrale ................................ 4.2.17 *

source de rayonnement .................................. 4.3.11

spectrom[e2]tre [a4] rayons X........................... 4.1.5 *

spectrom[e2]tre de diffraction [a4] cristal [a4] *

rayons X ............................................... 4.1.6

substance [e2]talon .................................... 4.4.23 *

surface utile de la lucarne d'entr[e2]e du *

d[e2]tecteur ........................................... 4.2.11 *

valeur maximale du point difftraction .................. 4.4.22

vitesse de r[e2]glage .................................. 4.2.5 *

- 27 -

ДСТУ Б А.1.1-8-94

АБЕТКОВИЙ ПОКАЖЧИК РОСІЙСЬКИХ ТЕРМІНІВ

анализ рентгеновский фазовый количественный ............. 4.4.2

анализ рентгеновский фазовый качественный ............... 4.4.1

анализ фазовый локальный ................................ 4.4.16

вещество стандартное .................................... 4.4.19

вещество эталонное ...................................... 4.4.23

выбор излучения ......................................... 4.2.19

детектор рентгеновского излучения ....................... 4.3.6

детектор телевизионного типа ............................ 4.3.7

деформация кристаллита .................................. 4.4.20

диапазон анализируемых химических элементов ............. 4.2.16

диапазон перемещения рентгеновской трубки................ 4.2.4

диапазон поворота исследуемого образца .................. 4.2.10

диапазон рабочих углов гониометрической приставки ....... 4.2.6

диапазон угловых перемещений ............................ 4.2.3

дифрактометр общего назначения........................... 4.1.2

дифрактометр рентгеновский .............................. 4.1.1

дифрактометр рентгеновский малоугловой................... 4.1.4

дифрактометр рентгеновский текстурный.................... 4.1.3

интенсивность рассеивания объектом ...................... 4.4.27

источник рентгеновского излучения ....................... 4.3.11

камера рентгеновская .................................... 4.3.5

канал рентгеновский спектрометрический .................. 4.3.1

канал рентгеновский спектрометрический сканирующий ...... 4.3.3

канал рентгеновский спектрометрический фиксированный .... 4.3.2

комплекс рентгеновский аналитический .................... 4.1.7

комплекс управляющий дифрактометрический ................ 4.3.12

контрастность рентгеновского дифрактометра .............. 4.2.13

коэффициент ослабления .................................. 4.4.24

кристалл-анализатор...................................... 4.3.8

кристалл-монохроматор ................................... 4.3.9

линия аналитическая ..................................... 4.4.28

максимум дифракционного пика ............................ 4.4.22

метод внутреннего стандарта ............................. 4.4.8

метод вращения и колебания кристалла .................... 4.4.14

метод добавления определяемой фазы ...................... 4.4.5

метод исследования поверхности и тонких пленок .......... 4.4.10

метод исследования при малых углах ...................... 4.4.18

метод исследования при различных давлениях............... 4.4.12

метод исследования при различных температурах ........... 4.4.11

метод Лауэ .............................................. 4.4.13

метод отношений итенсивности аналитических линий ........ 4.4.6

метод порошка ........................................... 4.4.17

метод прямого измерения коэффициента поглощения ......... 4.4.7

метод рентгеноспектрального анализа ..................... 4.4.4

метод рентгеноструктурного анализа ...................... 4.4.3

определение напряжений .................................. 4.4.9

определение толщины материала ........................... 4.4.15

отклонение угла поворота блока дефектирования

допустимое .............................................. 4.2.2

параметр ячейки ......................................... 4.4.21

площадь входного окна детектора рабочая.................. 4.2.11

погрешность аппаратурная основная ....................... 4.2.1

погрешность измерения угла поворота ..................... 4.2.8

погрешность углового устройства ......................... 4.2.7

предел обнаружения....................................... 4.2.14

приставка рентгеновская гониометрическая ................ 4.3.4

- 28 -

ДСТУ Б А.1.1-8-94

размытие дифракционного пика............................. 4.4.25

разрешение спектральное ................................. 4.2.17

разрешение угловое ...................................... 4.2.9

рассеивание под малыми углами диффузное ................. 4.4.26

скорость счета импульсов на аналитической линии.......... 4.2.12

скорость установочная ................................... 4.2.5

спектрометр рентгеновский ............................... 4.1.5

спектрометр рентгеновский кристалл-дифракционный ........ 4.1.6

угол отбора рентгеновского излучения..................... 4.2.15

фильтр рентгеновский .................................... 4.3.10

шаг сканирования минимальный ............................ 4.2.18

Ключові слова: аналітична лінія, визначення, кристал-аналізатор,

кристал-монохроматор, коефіцієнт послаблення, межа виявлення,

похибка, рентгенівський аналіз, рентген-камера, спектрометр,

термін, швидкість.

Примітка.

*/ цифри за літерами в квадратних дужках відповідають

значенням в таблиці відповідності символів