---

-Д— >ЗсоЛ (16)

<оС_стр^v ’

значение г_обр рассчитывают по формуле

_г ' ( А^4 ) (.174

^обр X (ctg ctg Р₂)² <sin²p₄ sin²p₂ ) ' ■ . *

Для корпусных диодов со значением общей емкости С_кор < <С_Д <1,4 С_кор и для бескорпусных диодов значение г_обр рас­считывают по формуле

П

⁷¹ ( 1

^Г°бр Z₍₎X sin^ap₂ «С_стр

—wL} (AZ₄—Д/_г).

(18)

значение(19)

(20)

_г ^о~

'обр— і

Ml

^С°М¹+ї|к

ри выполнении условия <о£>1/<и(С_д —С_кор) -аг_обр рассчитывают по формуле

Таблица 2

Таблица 3

Требования к погрешности измерения г_пр, г_о6р , 7?_обр для зна­чений измеряемых параметров, не установленных в настоящей’ стандарте, должны быть приведены в ТУ на диоды конкретных ти­пов.

2. 4. Пример расчета погрешности приведен в приложении 2.

3. МЕТОД ИЗМЕРИТЕЛЬНОЙ ЛИНИИ С ФИКСИРОВАННЫМ ЗОНДОМ

   1. П р и н ци п, у с л о в и я и режим измерения

      1. Принцип измерения г_пр , г_обр , 7?_обр соответствует требо­ваниям п. 2.1 и эквивалентности между частотой и линейной за­висимостью фазы отраженного сигнала при измерении в режимах качания частоты и фиксированной частоты соответственно.

      2. Значения частоты измерения и напряжения смещения;, при которых проводят измерения, должны быть приведены в ТУ на диоды конкретных типов.

Диапазон качания частоты определяется шириной полосы час­тот, необходимой для измерения заданных значений сопротивле­ний г_пр и г_обр, R_o6p и наблюдения смещения минимума в режиме обратного смещения и XX относительно плоскости отсчета.

G1—генератор качающейся частоты; Е1—ответвитель

направленный; Е2, Е4—вентили ферритовые: ЕЗ—трой­ник ввода смещения; Е6—камера диодная; Е7—ис­точник смещения; Е8— индикатор КСВН и ослаблений;

£5—линия измерительная

Черт. 3

ДГ=/[(п+1)-Кп(«+2)] , (22)

где п — порядок наблюдаемого минимума стоячей волны напря­жения.

Метод измерения полосы пропускания зонда измерительной линии приведен в приложении 5.

При. полосе пропускания зонда измерительной линии, не доста­точной для наблюдения минимума стоячей волны напряжения в режиме XX, допускается перемещать зонд измерительной линии от плоскости отсчета в сторону генератора на расстояние четверти длины волны или применять двухзондовую измерительную линию, зонды которой разнесены на то же расстояние.

ДА=А_П-Лл- (23)

Если для наблюдения минимума стоячей волны напряжения в режиме XX и обратного смещения применяется двухзондовая из

­мерительная линия или зонд линии перемещается в сторону ге­нератора на расстояние четверти длины волны от плоскости от­счета, то частота f₂ равна частоте измерения.

А/2 = /_2П"/2Л- (24)

^їз ⁼їзп fan- ■ (25)

АЛ=/₄п-Лл- (26)

^Д/і=20^/./і_Л '^пс’ <²⁷>

где 1=1 при нагрузке диодной камеры на эквивалент КЗ;

і=2 при нагрузке диодной камеры на эквивалент XX;

1=3 при подаче на диод прямого смещения;

і=4 при подаче на диод обратного смещения;

Aft —значение, определяемое по пп. 3.3.5, 3.3.9, 3.4.1.4,

3.4.2.4;

fin ,f іл — значения частот, определяемых по пп. 3.3.4, 3.3.8, 3.4.1.3; 3.4.2.3;

п — порядок наблюдаемого минимума, рассчитываемый по формуле

п= ²4 , (28)

где I — расстояние от плоскости включения эквивалента КЗ до наблюдаемого минимума стоячей волны в режиме КЗ, мм. Порядок наблюдаемого минимума стоячей волны в. режимах XX, прямого и обратного смещения принима­ют тот же;

f — частота измерения, определяемая по п. 3.3.3;

с — скорость света, равная 340¹¹ мм/с.

/Дили 1₃- 1^=- (29)

где і=2 при нагрузке диодной камеры на эквивалент XX;

і=4 при подаче на диод обратного смещения;

Із—/і —смещение минимума стоячей волны по напряжению от­носительно плоскости отсчета при подаче на диод прямо­го смещения;

ft— значение частоты, определяемое по пп. 3.3.3, 3.3.7, 3.4.1.2, 3.4.2.2.

При недостаточной широкополосности линии зонд измеритель­ной линии устанавливают в положение , указанное в п. 3.2.4, зна­чение /і—/₄ при этом рассчитывают по формуле

'^пс~Г4[~ ■ (30)

Таблица 4

Таблица 5

Требования к погрешности измерения г_пр , г_о6р , #_о6р для значений измеряемых параметров, не установленных настоящим стандартом, должны быть приведены в ТУ на диоды конкретных типов.

2. 4. Пример расчета погрешности приведен в приложении 3.

3. РЕЗОНАТОРНЫЙ МЕТОД (г_пр, г_обр, Я_обр)

   1. Принцип, условия и режим измерения

      1. Прямое (г_пр ) и обратное (г_обр, Л_Обр) сопротивления по­терь определяют исходя из измерения добротности резонаторного устройства с включенным в него измеряемым диодом и учета по­терь в резонаторе, определяемых с помощью эквивалентов КЗ и XX.

      2. Значения частоты измерения и напряжения (тока) сме­щения следует приводить в ТУ на диоды конкретных типов.

   2. Аппаратура

      1. Измерения проводят на установке, структурная схема ко­торой приведена на черт. 4.

      2. Элементы, входящие в структурную схему, должны удов­летворять следующим требованиям:

1. ответвители направленные Е2 и Е6 должны иметь пере­ходное ослабление и направленность не менее 20 дБ;

2. нагрузка согласованная Е7 должна иметь коэффициент стоя­чей волны не более 1,2;

3. резонатор Е4 должен иметь добротность с эквивалентом КЗ и XX не менее 500;

4. индикатор КСВН и ослаблений Е9 должен удовлетворять требованиям п. 3.2.3.;

G1—генератор качающейся частоты; £7—аттенюатор; Е2, £5—ответвители направленные; ЕЗ, Е5—вентили; Е4—резонатор с проверяемым диодом; £7—нагрузка согласованная; Е8—источник смещения; Е9—индика­

тор КСіВН и ослаблений

Черт. 4

5. эквиваленты КЗ и XX должны удовлетворять требованиям пп. 1.2.2 и 2.2.6;

6. генератор качающейся частоты G1, вентили ЕЗ, Е5, атте­нюатор Е1 —по ГОСТ 19656.0—74;

7. калибровочный резистор должен представлять собой деталь из кремния с металлизацией;

8. значение сопротивления калибровочного резистора не дол­жно отличаться от номинального значения более чем на 10 % и находиться в пределах 0,2—2,5 Ом;

9. калибровочный конденсатор должен представлять собой де­таль из кварца с металлизацией;

10. значение емкости калибровочного конденсатора не должно отличаться от номинального значения более чем на 10 % и лежать в пределах 0,05—1,0 пФ;

11. чертежи на калибровочные резисторы и конденсаторы и зна­чения сопротивлений и емкостей калибровочных резисторов и кон­денсаторов должны быть приведены в ТУ на диоды конкретных типов.