Глубину царапин и точек не нормируют.
Пояснения терминов, используемых в настоящем стандарте, приведены в справочном приложении 2.
МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ
С поверхности деталей, подлежащих контролю по чистоте поверхности, должны быть удалены все загрязнения.
При определении размеров царапин и точек (пл. 1.6, 1.11 и 1.12) поверхности деталей следует просматривать в косонаправленном пучке проходящего или отраженного света, т. е. под углом к оси детали, на фоне черного экрана. Источником света должна служить лампа накаливания мощностью от 60 до 100 Вт.
Контроль чистоты поверхности деталей для классов чистоты 0—10, 0—20, 0—40 следует проводить измерительным прибором с увеличением, под которым деталь должна рассматриваться в приборе, для которого предназначена, но не менее 6х. Увеличения, кроме 6х, следует указывать в чертежах на оптические детали по ГОСТ 2.412—81, утвержденных в установленном порядке.
Контроль деталей классов чистоты I—III проводят с помощью лупы или микроскопа с увеличением не менее 6х. Контроль деталей классов чистоты IV—1Ха проводят без применения увеличительного прибора.
Размеры царапин и точек (пп. 1.6, 1.11 и 1.12) оценивают сравнением с наборами измеренных образцов царапин и точек.
Допускается размеры царапин и точек измерять с помощью микроскопа с окулярным микрометром с погрешностью:
0,001 мм—-для классов чистоты I—,III;
0,004 мм » » » IV—VI;
0,01 мм » » » VII—1Ха.
Размеры царапин и точек для деталей диаметром более 300мм классов чистоты VII—1Ха допускается измерять с помощью лупы типа ЛИ-3—10 по ГОСТ 25706—83.
Если на поверхности деталей классов чистоты I—VII, нормируемой по скоплениям учитываемых дефектов, обнаруживаются скопления царапин и точек, то в таких местах необходимо определять общую площадь дефектов на ограниченном участке по всему участку поверхности, занятой скоплением.
Размер выколок и заколов на краю детали измеряют от края фаски к центру рабочей поверхности.
Контроль чистоты поверхности деталей по скоплениям учитываемых дефектов для классов чистоты I—III.
Определяют раздельно площадь поверхности, занятую точками и царапинами, находящимися на ограниченном участке, диаметр которого выбирают по табл. 2.
Подсчитывают площадь поверхности, занятую точками, Лрх, в условных единицах, как сумму частных от деления числа точек nD диаметром D на соответствующий этому диаметру .коэффициент Kd по формуле
где рх —класс чистоты поверхности;
DmiII и £>гаах —минимальный и максимальный диаметры точек на выбранном участке, мм.
Подсчитывают число точек nD диаметром D, находящихся на выбранном ограниченном участке.
В зависимости от диаметра точек D по табл. 5 выбирают коэффициент Kd-
Таблица 5
|
Класс чистоты |
Коэффициент К о в зависимости от диаметра D точек, мм |
|||||||||
|
0,100 |
0,080 |
0,063 |
0,050 |
0,040 |
0,032 |
0,025 |
0,020 |
0,016 |
||
|
I II ш |
1.0 |
1,6 |
2,5 |
1,0 4,0 |
1,6 6,3 |
2,5 10,0 |
4,0 16,0 |
1,0 6,3 25,0 |
1,6 10,0 40,0 |
|
Продолжение табл. 5
|
Класс чистоты |
Коэффициент К £> в зависимости от диаметра D точек, мм |
||||||
|
0,012 |
0,010 |
0,008 |
0,006 |
0,005 |
0,004 |
0,002 |
|
|
I |
2,5 |
4,0 |
6,3 |
10,0 |
16,0 |
25,0 |
100,0 |
|
II |
16,0 |
25,0 |
40,0 |
56,0 |
100,0 |
160,0 |
— |
|
III |
63,0 |
100,0 |
— |
— |
— |
—‘ |
—• |
Для точки, диаметр которой отличается от указанного в табл. 5, коэффициент Kd принимают равным коэффициенту, соответствующему ближайшему большему значению диаметра.
Значения Лрх для классов чистоты I, II, III не должны .превышать соответственно 13, 3, 2.
Подсчитывают максимально допускаемую площадь поверхности, которую могут занимать царапины, по формулам:
Sj =(13- Лр1) 0,0003; (2)
5„=(3-Лр1[) 0,002; (3)
5П1=(2-ЛРП1) 0,010, (4)
где Sj, Su, Sin—'максимально допускаемая площадь царапин соответственно для классов чистоты I, II, III, мм2.
Подсчитывают площадь поверхности, 'фактически занятую царапинами на выбранном участке.
Площадь поверхности, фактически занятая царапинами, не должна быть более максимально допускаемой. При определении площади царапин на ограниченном участке следует пользоваться заранее составленной таблицей площадей царапин в зависимости от их размеров.
Царапины, ширина которых менее указанной в табл. 4, при определении суммарной площади не учитывают.
Пример контроля чистоты поверхности по скоплению учитываемых дефектов указан в справочном приложении 3.ПРИЛОЖЕНИЕ 1
Рекомендуемое
ВЫБОР КЛАССОВ ЧИСТОТЫ ПОВЕРХНОСТЕЙ
Классы чистоты поверхностей оптических деталей следует выбирать в соответствии с табл. 1 и 2 на основании требований, предъявляемых к оптическим системам.
Таблица 1
|
Класс чистоты |
Материал детали |
Диаметр детали, мм, не более |
|
0—10, 0—20 . 0—40, I—IV |
Оптическое стекло групп химической устойчивости А, Б, а, У по ГОСТ 13659—78, ГОСТ 3514—76 и А, Б, а по ГОСТ 9411—81 |
150 |
|
V-IXa |
Не ограничивается |
|
|
III—IV |
Оптическое стекло групп В, д по ГОСТ 13659—78, ГОСТ 3514—76 и групп В, д по ГОСТ 9411—81 |
100 |
|
V-IXa |
Не ограничивается |
|
|
VIII—IXa |
Оптические кристаллы: фториды, гигроскопические, пластичные, твердые (корунды, гранаты) полупроводниковые |
250 |
|
IV—VII |
250 |
|
|
IV—IXa |
150 |
|
|
100 |
||
|
V—IXa |
Полимеры |
250 |
|
V—IXa |
Металлы |
Не ограничивается |
|
III—VII |
Волоконнооптические изделия |
100 |
|
IV-VII |
Оптическая керамика |
200 |
|
IV—V |
Оптические ситаллы |
100 |
|
VI—IXa |
Не ограничивается |
Примечание. Допустимость дефектов на поверхности деталей с проявляющейся в процессе обработки структурой (металлы, волоконнооптические изделия и др.) должна быть установлена в чертежах оптических деталей по ГОСТ 2.412—81, утвержденных в установленном порядке.
В
Таблица 2
Класс чистоты
0—10, 0—20
0—20
0—40
I
II
III
'IV
иды оптических деталейСетки и коллективы в приборах с фокусным расстоянием окуляра или последующей оптической системы от 10 до 15 мм; шкалы и лимбы, рассматриваемые под увеличением более 25х; подложки дифракционных решеток
Сетки и коллективы в приборах с фокусным расстоянием окуляра или последующей оптической системы от 15 до 25 мм; шкалы и лимбы, рассматриваемые под увеличением от 25х до 10х
Сетки и коллективы в приборах с фокусным расстоянием окуляра или последующей оптической системы более 25 мм; шкалы и лимбы, рассматриваемые под увеличением менее 10х; подложки растров и детали, находящиеся в плоскости изображения фотоэлектрических систем, работающих в инфракрасной области спектра
Первая линза широкоугольных окуляров; первые линзы микрообъективов с увеличением более 10х
Призмы, коллективы, первые линзы широкоугольных окуляров и другие детали, расположенные вблизи от плоскости действительного изображения оптической системы; линзы микрообъективов
Линзы окуляров телескопических приборов; окулярные призмы; линзы окуляров .микроскопов и измерительных лабораторных приборов; выравнивающие стекла фотоаппаратов; линзы обтекателей и линзы объективов, работающих в инфракрасной области спектра в условиях солнечной засветки; пластины и кольца стоп; призмы, применяемые в качестве оптико-механических затворов и зеркал отражателей; плоскопараллельные пластины, применяемые в качестве компенсаторов светоделительных пластин, селекторов в твердотельных лазерах и приборах, разработанных иа основе лазеров, под- ложіки для диэлектрических зеркал в световой зоне, применяемые в твердотельных лазерах и приборах, разработанных на основе лазеров
Линзы окуляров, объективов и оборачивающих систем в телескопических приборах; призмы и пластины в параллельных и сходящихся пучках лучей телескопических приборов; лупы; линзы конденсоров и объективов, работающих в инфракрасной области в условиях отсутствия солнечной засветки; выравнивающие стекла фотографических аппаратов; подложки для интерференционных фильтров; защитные стекла для электронно-лучевых трубок
Линзы объективов, окуляров и оборачивающих систем, головные призмы, призмы в параллельных пучках и защитные стекла в телескопических приборах; линзы и зеркала фотографических, киносъемочных и линзы проекционных объективов диаметром от 20 до 50 мм; линзы конденсоров и объективов, работающих в инфракрасной области в условиях отсутствия солнечной засветки; активные элементы (торцевая поверхность); цилиндрические двухканальные отражатели (внешняя и внутренняя поверхности), применяемые в лазерах
Продолжение табл. 2
|
Класс чистоты |
Виды оптических деталей |
|
VI |
Линзы объективов и оборачивающих систем телескопических приборов; линзы и зеркала фотографических, киносъемочных и линзы проекционных объективов диаметром от 50 до 100 мм |
|
VII |
Линзы и зеркала фотографических, киносъемочных и астрономических объективов диаметром от 100 до 300 мм; смотровые стекла размером до 300 мм |
|
VIII, IX |
Линзы и зеркала фотографических и астрономических объективов диаметром от 300 до 500 мм; смотровые стекла размером от 300 до 500 мм |
|
Villa, IXa |
Линзы и зеркала фотографических и астрономических объективов диаметром более 500 мм; смотровые стекла размерам более 500 мм |
Для визуальных приборов (зрительных труб, биноклей, микроскопов) класс чистоты поверхности устанавливают исходя из диаметра рабочего отверстия поверхности оптической детали.
За диаметр рабочего отверстия принимают участок поверхности оптической детали, покрываемый входящим в оптическую систему осевым пучком лучей, который по выходе из окуляра образует параллельный пучок диаметром 2 мм или диаметром, равным диаметру выходного зрачка системы, если последний меньше 2 мм (см. чертеж).
Диаметр рабочего отверстия л-й поверхности оптической системы Оп вычисляют по одной из следующих формул:
4Л„
Dn-- ———при £>'>2 мм; (1)
Dn=2hn при D'<2 мм, (2)
где hn■— высота крайнего луча осевого пучка на той же поверхности, определяемая при расчете оптической системы, мм;
D' — диаметр выходного зрачка системы, мм.
По вычисленному диаметру рабочего отверстия соответствующий ему класс чистоты поверхности выбирают по табл. 3.
Таблица 3
|
Диаметр рабочего отверстия, мм |
Класс чистоты |
|
0 До 0,5 Св. 0,5 до 1,5 . 1,5 . 4,5 , 4,5 , 10,0 , 10,0 , 25,0 . 25,0 . 50,0 . 50,0 |
0—10, 0—20, 0—40 I II III IV V VI VII—1Ха |
Допускается устанавливать классы отличающиеся от указанных в табл. 3, обеспечивающие технические характеристики прибора.
ПРИЛОЖЕНИЕ 2
Справочное
ПОЯСНЕНИЯ ТЕРМИНОВ, ИСПОЛЬЗУЕМЫХ В НАСТОЯЩЕМ СТАНДАРТЕ
Термин
Пояснение
Царапина
Точка
Вытянутая впадина поверхности с соотношением размеров большей оси к меньшей более 3:1.
Примечание. Участки, на которых царапины настолько близко расположены друг от друга, что между ними нет поверхности с параметром шероховатости не более 0,1 мкм, следует рассматривать как одну царапину
Впадина или выступ поверхности любого происхождения, в том числе вскрытый пузырь, с соотношением размеров большей оси к меньшей не более 3:1. Полусумму размеров большей и меньшей осей принимают за диаметр точки.
Примечания:
Участок совмещения или касания царапины с точкой следует относить к точке.
Поперечное сечение углубления царапины или точки при механической обработке имеет угол при вершине около 120°. При этом глубина царапины или точки составляет не более 0,3 ширины царапины или диаметра точки
