---

емого образца

Ділянка зміни кута на- Область изменения угла

хилу в текстуpній пpи- наклона в текстурной при-

ставці ставке

4.2 11 робоча площа вхідного de Detektoreingangs[o1]ffnungsa- *

вiкна детектора rbeitsfl[a1]che *

en input window working аrеа of

the detector

fr surface utile de lа lucarne *

d'entr[e2]e du d[e]tecteur *

ru рабочая площадь входного

окна детектора

Площа, яка забезпечує Площадь, обеспечивающая

попадання квантів рент- попадание квантов рентге-

генівського випроміню- новского излучения внутрь

вання всередину робочо- рабочего обЬема детектора

го об'єму детектоpа

4.2 12 швидкiсть лiчення de Analysenleitungimpulsz[a1] *

імпульсів на аналітич- hlungsgeschwіndigkeit

нiй лiнiї en coating rate of impulses оn

analytical line

fr cadence de comptage des impul-

sions sur ligne analytique

ru скоpость счета импульсов на

аналитической линии

Швидкість лiчення iм Скорость счета импульсов

пульсів на виході ре на выходе регистpирующе-

єструвального пристрою го устройсва, настpоенно-

який налагоджений на го на данную аналитичес-

дану аналітичну лінію кую линию

4.2 13 контрастність рентге de R[o1]ntgendiffraktometerkon- *

нiвського дифрактомет- trast

pа en contrast of а Х-rау diffrac-

tometer

fr contraste d'un diffracto-

m[e2]tre [a4] rayons X *

ru контpастность pентгеновского

дифpактометpа

8 -

ДСТУ Б А.1.1-8-94

Відношення вихідного Отношение выходного сиг-

сигналу без фону на нала без фона на обpазце с

зpазку з відомим вмістом известным содеpжанием

елемента, що визначається, опpеделяемого элемента к

до вихідного сигналу, выходному сигналу на об-

який не містить елемента, pазце, не содеpжащем опpе-

що визначається деляемого элемента

4.2 14 межа виявлення de Nachweisbarkeitsgranze

en detection limit

fr limite dе d[e2]tection *

ru предел обнаружения

Найменший вмiст eле- Наименшее содержание

мента, визначеного ро- определяемого расчетным

зрахунковим способом, способом элемента, кото-

який може бути виявле- рое может быть обнаруже-

ний за встановленою но по установленной мето-

методикою дике

4.2 15 кут відбору рентгенів- de Winkelstrahlungauswahlwinkel

ського випромінювання en angle of extraction of the

X radiation

fr angle d'extraction дe lа

radiation Х

ru yгол отбора рентгеновского

излучения

Кут між площиною,до- Угол между плоскостью,

тичною до випроміню- касательной к излучающей

ючої поверхні і напрям- поверхности, и направлени-

ком відбору рентгенів- ем отбора рентгеновского

ського випромінювання излучения

4.2 16 діапазон аналізуючих de Bereich der gepr[u1]tten *

хімічних елементів chemishen Elemente

en range of the analysed chemical

elements

fr gamme des [e2]lements chimi- *

gues [a4] analyser *

ru диапазон анализирующих

химических элементов

Ділпянка хiмчних еле Область химических эле-

ментів із гранично мали- ментов с предельно малым

ми та гранично велики- и предельно большим атом-

ми атомними номерами, ными номерами в которой

в якій вони можуть бути они могут быть определены

визначені

4.2 17 спектральна розділь- de Spektralaufteilung

нiсть en spectral resolution

fr r[e2]solution spectrale

ru спектральное расширение

Найменша відстань між Наименьшее расстояние

двома сумiжними мак- между двумя соседними мак-

симумами, якi спосте симумами, наблюдаемыми

рігаються над фоном над фоном

9 -

ДСТУ Б А.1.1-8-94

4.2 18 мiнімальний крок de Mindestabtastungsschritt

сканування en minimum step of scanning

fr pas minimal de balayage

ru минимальный шаг скани

рования

Найменший кут поворо Наименьший угол поворота

ту або найменше лiнійне или наименьшее линейное

перемiщення елементів перемещение элементов

спектрометричного при- спектрометрирующего уст-

строю ройства

4.2 19 вибір випромінювання de Strahlungsauswahl

en radiation sampling

fr choix de radiation

ru выбор излучения

Вибір випромінювання Выбор излучения рентге-

рентгенівської трубки, новской трубки при кото-

при якому відстань між ром расстояние между дву-

двома відбиттями, що мя регисгрируемыми отра-

реєструються тим бiль- жениями тем больше, чем

ша чим більша довжина больше длина волны излу-

хвилі випромінювання чения

4.3 СКЛАДОВІ ЧАСТИНИ ТА ПPИCTPOЇ

4.3 1 peнтгенівський спек- de R[o1]ntgenspektrometerkanal *

трометричний канал en spectrometric Х-rау channel

fr сanal spectrom[e2]trique *

[а4] rayons Х

ru рентгеновский спектромет-

рический канал

Частина пристрою, яка Часть устройства, обеспечи

забезпечує вiдокрем- вающая выделение и регис-

лення i реєстрацію виб- трацию выбранного участ-

раної ділянки спектра ка спектра

4.3 2 фіксований pентгенів de Fixierr[o1]ntgenspektrometer- *

ський спектрометрич- kanal

ний канал en fixed spectrometric Х rау

channel

fr canal spectrom[e2]trique *

fixe rауоns Х

ru фиксированный рентгенов-

ский спектрометрический

канал

Канал для відокремлен- Kанал для выделения и ре-

ня і pеєстрації заздале- гистрации заранее выбран-

гідь вибраної дiлянки ного участка рентгеновско-

рентгенівського спектра го спектра

4.3 3 сканувальний рентге- de Ahtastungsr[o1]ntgenspektro- *

нівський спектромет- meterkanal

ричний канал en scanning spectrometric X-ray

channel

10

ДСТУ Б А.1.1-8-94

fr canal de Ьalaуаge spectro-

m[e2]trique [а4] rауons Х *

ru сканирующий рентгеновс-

кий спектрометрический

канал

Канал з автоматичною Kанал с автоматической

передбудовою ділянок перестройкой участков

спектра і з можливістю спектра и с возможностью

його запису его записи

4.3 4 рентгенівська гоніо- de R[o1]ntgengoniometervorsatz- *

метрична приставка ger[a1]t *

en Х rау goniometry adaptor

fr adapteur goniom[e2]trigue *

[a4] rayons X *

ru рентгеновская гониометри-

ческая приставка

Приставка, яка забезпе- Приставка, обеспечиваю-

чує усереднення кри- щая усреднение кристаллов

сталів обертанням зраз- вращением образца в со-

ка у власнiй площині бственной плоскости

4.3 5 рентгенівська камера de R[o1]ntgenkamera *

en Х ray camera

fr chambre de diffraction

ru рентгеновская камера

Прилад для реєстрації на Прибор для регистрации на

рентгенівську плівку диф- рентгеновскую пленку диф-

рагованого рентгенів рагированного рентгенов-

ського випромінювання ского излучения

4.3 6 детектор рентгенівсько- de R[o1]ntgenstrahlungsdetektor *

го випромінювання en Х rау radiation detector

fr d[e2]tecteur de radiation Х

ru детектор рентгеновского

излучения

Пepeтворювач квантів Преобразователь квантов

рентгенівського випро- рентгеновского излучения в

мiнювання в імпупьси импульс напряжения или

напруги або струму тока

4.3 7 детектор телевізійного de Fernsehdetektor

типу еn television type detector

fr d[e2]tecteur de type-tele- *

vision

ru детектор телевизионного

типа

Прилад для одержання Прибор для получения дву-

двомiрної дифракцiйної мерной дифракционной

картини на телеекрані картины на телеэкране

4.3 8 кристал-аналізатор de Kristallanalysator

en crystal-analyser

11

ДСТУ Б А.1.1-8-94

fr cristal analyseur

ru кристалл-анализатор

Крістал - дифракційний Kpисталл-дифракционный

диспергувальний eлe- диспергирующий элемент

мент для розкладання в для разложения в спектр

спектр рентгенiвського рентгеновского излучения и

випромiнювання і відо- выделения заданного спек-

кремлення заданого трального интервала

спектрального iнтервалу

4.3 9 кристал-монохроматор de Kristallmonochromator

еn crystal-monochromator

fr cristal-monochromateur

ru кристалл-монохроматор

Елемент для монохрома- Элемент для монохромати-

тизації рентгенівського зации рентгеновского излу-

випромінювання чения

4.3 10 рентгевівський фільтр de R[o1]ntgenfilter *

еn Х raу filter

fr filtre [а4] rayons Х *

ru peнтгеновский фильтр

Фільтр iз поглинального Фильтр из поглощающего

матеріалу, призначений материала, пpедназначен-

для послаблення або ный для ослабления или

зміни спектрального изменения спектрального

складу випромінювання состава излучения

4.3 11 джерело peнтгенів- de R[o1]ntgenstrahlungsquelle *

ського випромінювання en source оf Х rау radiation

fr soyrce de rayonnement

ru источник рентгеновского

излучения

Сукупність пристроїв, які Совокупность устройств,

забезпечують одержання обеспечивающих получение

рентгенiвського вип- рентгеновского излучения с

ромінювання з задани заданными параметрами

ми параметрами

4.3 12 комплекс керуючий de Difraktоmеtеrstеuerranlage

дифрактометричний en diffractometric control

complex-KYD

fr complexe dе commande diffrac-

tom[e2]trigue *

ru комплекс управляющий ди-

фрактометрический

Комплекс для програм Комплекс для программно-

ного керування, збору, го управления cборa, обра

обробки і реєстрації ботки и регистрации инфор-

інформації мации

12

ДСТУ Б А.1.1-8-94

4.4 OCHOBНI МЕТОДИ

РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛІ3У

4.4 1 якісний pентгенівський de Qualitative R[o1]ntgenphase- *

фазовий аналіз nanalyse

en qualitative Х-raу phase

analysis

fr analyse de phases qualitative

[а4] rауоns X *

ru качественный рентгеновс-

кий фазовый анализ

Визначення природи Определение природы крис-

кристалічних фаз міне- таллических фаз минералов

ралів зразка за характер- образца по характерным для

ним для кожної фази каждой фазы набором ли-

набором ліній або піків - ний или пиков - набором

набором міжплощинних межплоскостных расстоя-

відстаней та iнтенсив- ний и интенсивностей

ностей

4.4 2 кількісний рентгенів de Qualitative R[o1]ntgenphasen- *

ський фазовий аналіз analyse

en qualitative Х-rау phase

analysis

fr analyse de phase quantative

[a4] rауоns X

ru количесгвенный ренгенов-

ский фазовый анализ

Визначення залежності Определение зависимости

інтенсивностi дифрак интенсивности дифракцион-

ційного відбиття від кіль ного отражения от коли-

кocтi відповідної фази чества соответствующей

обчислення її процен фазы и вычисление ее про-

тного вмісту з урахуван- центного содержания с уче-

ням масового коефі- том массового коэффици-

цiєнта вбирання речовин ента поглощения вещества

i кожної фази и каждой фазы

4.4 3 метод рентгенострук- de R[o1]ntgenstrukturanalyse *

турного аналізу en m[e2]thod of Х-rау *

(diffraction) analysis

fr methode d'analyse (structu

rale) aux rayons Х

ru метод рентгеноструктурно-

го анализа

Визначення кристалiч Определение кристалличес-

ної структури досліджу- кой структуры исследуемо-

ваної речовини, проце- го вещества, процессов, свя-

сів які пов'язані з занных с перестройкой ато-

перебудовою атомів у мов в кристаллической ре-

кристалiчній гратці, за шетке, по дифракционной

дифракційною картиною, картине, возникающей при

що виникає при розсіюван- рассеивании pентгеновских

ні рентгенівських проме- лучей кристаллической ре-

нів кристалічною граткою шеткой

13

ДСТУ Б А.1.1-8-94

4.4 4 метод рентгеноспек- de R[o1]ntgenspektralanalyse *

трального аналізу en method of analysis by Х-ray

spectrometry

fr m[e2]thode d'analyse radio *

spectrale

ru метод рентгеноспектраль-

ного анализа

Визначення хiмiчного Определение химического

складу речовини за селек- состава веществ по селек-

цією та реєстрацією рен- ции и регистрации pентге-

тгенівського характерис- новского характеристичес-

тичного спектра, який кого спектра, испускаемого

випромінюється атома атомами при облучении их

ми при опромінюванні рентгеновскими лучами

їх рентгенівськими про-

менями

4.4 5 метод додавання фази, de Bestimmungsphasenzusatzver

що визначається fahren

en method of addition of а

defined phase

fr m[e2]thode d'addition d'une *

phase [a4] d[e2]finir *

ru метод добавления опреде-

ляемой фазы

Визначення кiлькiсного Определение количествен-

складу шляхом вимірю ного состава путем измере-

вання відношення інтен- ния отношений интенсив-

сивносей дифраційних ностей дифракционных ли-

ліній шуканої фази та ний искомой фазы и извест-

відомої ной

4.4 6 метод відношення de Methode des Verh[a1]ltnisses *

iнтенсивностей аналі der Intensit[a1]t der

тичних ліній Analysenlinien

еn intensity relation method of

аnalytical lines

fr m[e2]thode des relations

d'intersite des lignes

analytiques

ru метод отношений интенсив-

ности аналитических линий

Визначення приблизно Определение приблизитель-

го вмісту кpисталічних ного содержания кристал-

фаз шляхом вимірюван лических фаз путем измере-

ня відношення iнтенсив- ния отношения интенсив-

ностей аналітичних ліній ностей аналитических ли-

зразка, який складається ний образца, состоящего

тільки з кристалічних фаз только из кристаллических фаз

4.4 7 метод прямого вимірю de Methode der Direktmessung des

вання коефіцієнта Absortionskoeffizientes

вбирання en direct method of measurement

of the absortion factor

fr m[e2]thode dе mesurage direct *

14

ДСТУ Б А.1.1-8-94

du соefficient d'absorption

ru метод прямого измерения

коэффициента поглощения

Визначення відношення Определение отношения

коефіцієнтів вбирання коэффициента поглощения

досліджуваного зразка i исследуемого образца и чис