Рисунок 7 - Схема для проверки формирования испытательных последовательностей
а) измерение длины последовательности
Таблица 5 - Показания частотомера при измерении длины и количества единиц ПСП
псп |
Показание частотомера при измерении длины ПСП |
Показание частотомера при измерении числа единиц в ПСП |
2М |
5JJ |
128 |
21|-1 |
2047 |
512 |
2 |5-1 |
32767 |
8192 |
2 23-1 ----- - |
8388607 1 1,— ■ ■■ |
2097152 |
б) измерение числа единиц в последовательности
При отсутствии в приборе выходов, указанных в вышеприведенной методике, правильность формирования испытательных последовательностей проверяется путем совместной работы с заведомо исправным ИО любого типа, предназначенного для измерений тех же цифровых сигналов. При соединении испытываемого ГИС и исправного ИО и установке аналогичных режимов работы не должно наблюдаться появления ошибок и должен осуществляться адекватный счет ошибок при ручном введении их на ГИС.
Так же проверяется правильность формирования измерительных сигналов в форме цикла (п.5.3.3).
6 Л Проверка работы ГИС от внешнего тактового сигнала
Проверка работы ГИС от внешнего тактового сигнала (п.5.4.1) проводится по схеме рисунка 7а с помощью генератора синусоидальных сигналов, от которого подаются сигналы с необходимой частотой и амплитудой (с допусками согласно
Ч
технической документации).
частотомером. Правильная
астота тактового сигнала контролируется работа ГИС контролируется путем измерения правильности формирования испытательных последовательностей в соответствии с п.6.6 настоящей методики.Проверка работы прибора от синхронизирующих сигналов в режимах сонаправленного и противонаправленного стыков ОЦК проводится от специального генератора стендового оборудования (допускается проведение проверки в этих режимах работы при линейных испытаниях от реальных сигналов).
Проверка формы импульсов цифрового сигнала
Форма импульса (п.5.2.3) цифрового сигнала (амплитуда, длительность, время нарастания и спада импульса) на выходе ГИС (Вых.) проверяется с помощью осциллографа по схеме рисунка 8. Измерения рекомендуется проводить по сигналу в виде 1 с несколькими нулями.
Применяемый осциллограф должен иметь время нарастания переходной характеристики втрое меньше ширины фронта проверяемого импульса, а точность измерения амплитуды - не хуже ±3%. Вход осциллографа должен быть или высокоомным (тогда генератор нагружается на номинальное сопротивление), или низкоомным (тогда при необходимости осциллограф должен подключаться к ГИС через согласующую схему).
Рисунок 8 - Схема для измерения параметров импульсов
Согласующая схема
Проверка правильности формирования кодов выходного сигнала ГИС
Правильность формирования кодов выходного сигнала ГИС (п.5.2.3) проверяется с помощью осциллографа по схеме рисунка 8. Для удобства наблюдения кодов на экране устанавливается структура испытательной последовательности в виде 1 с несколькими нулями.
Правильность формирования сигнала ОЦК проверяется в режимах противонаправленного и сонаправленного стыка, т.е. без тактового и октетного сигнала и вместе с ними.
Проверяется также структура синхронизирующего сигнала (такт + октет) на соответствующем выходе в режиме противонаправленного стыка ОЦК.
Проверка правильности введения ошибок по битам
Правильность введения ошибок по битам(п. 5.4.2) в выходной сигнал ГИС (значение калиброванных ошибок) может проверяться по методике п.6.6 путем измерения количества единиц (или нулей) в испытательных последовательностях при введенных вручную ошибках.
При отсутствии в испытываемом ГИС выходов, необходимых для испытаний по указанной методике, проверка правильности введения ошибок проводится по заведомо исправному ИО любого типа, предназначенного для измерений тех же цифровых сигналов.
Введение ошибок кода и ошибок в цикловый синхросигнал проверяется также по внешнему ИО.
6Л1. Проверка собственного фазового дрожания сигнала на выходе ГИС
Собственное фазовое дрожание сигнала на выходе ГИС в режиме без введения фазового дрожания (5.4.4) проверяется при помощи анализатора спектра, подключаемого к выходу (Вых.) генератора по схеме рисунка 9. Проверка проводится при установлении структуры выходного сигнала в виде последовательности единиц. На экране анализатора наблюдается спектр исследуемого сигнала вокруг полутактовой
ч
азового дрожания много
астоты сигнала.Принимая во внимание то, что размах собственного
меньше тактового интервала (ТИ), ее можно определить в ТИ по формуле:
Y = 0,327 • В/А,
где А - амплитуда основной спектральной составляющей;
В - наибольшая амплитуда паразитных составляющих в диапазоне частот, отстоящих от частоты основной спектральной составляющей до
. ± (5-10)%.
Полоса обзора анализатора спектра устанавливается шириной до 15-20% от частоты основной спектральной составляющей, полоса пропускания 3-10Гц. При необходимости должна применяться согласующая схема.
Рисунок 9 - Схема проверки собственного фазового дрожания
Согласующая схема
Измерение погрешности размаха вводимого фазового дрожания
Погрешность размаха вводимого фазового дрожания (п.5.4.4) проверяют с помощью соответствующего измерителя фазового дрожания, служащего эталоном, или по схеме рисунка 10 при помощи двухканального осциллографа при подаче на один канал сигнала тактовой частоты с выхода Ft ГИС, а на другой - сигнал с выхода (Вых). Для удобства наблюдения фазового дрожания рекомендуется использовать сигнал в коде AMI со структурой в виде единицы с несколькими нулями (не менее 3). На экране осциллографа наблюдается размытый фронт выходного сигнала прибора. Ширина размытости сравнивается с тактовым сигналом на втором канале осциллографа и проверяется соответствие установленному значению введенного фазового дрожания. Частота введенного фазового дрожания устанавливается или на испытуемом приборе, или на внешнем генераторе, подключенном к соответствующему входу модулирующего сигнала (в зависимости от предусмотренного варианта образования фазового дрожания).
Рисунок 10 - Схема проверки вводимого фазового дрожания
С
Генератор сигналов
огласующая схемаВых .,
- время в секундах, которое начинается с началом 10 последовательных секунд, пораженных ошибками (SES)1. Эти десять секунд считаются частью времени ( 1
неготовности. Новый период времени готовности начинается с началом десяти ’ г
последовательных событий, не являющихся SES. Эти 10 секунд считаются частью времени готовности.
Время готовности (available seconds AS) - время в секундах, равное разности периода измерений Тизм и периода времени неготовности:
AS = Тизм- US
Показатели ошибок, нормируемые в долговременных нормах
на цифровые сетевые тракты первого и более высоких порядков
(в соответствии с Рекомендацией МСЭ-Т G.826)
Коэффициент ошибок по секундам с ошибками (ESR)
Отношение секунд с ошибками (ES) к общему количеству секунд в течение времени готовности за фиксированный интервал измерения.
Секунда с ошибками (ES)
Односекундный интервал с одним или более блоками с ошибками.
Блок с ошибками (ЕВ)
Блок, в котором один или более бит являются ошибочными.Примечание - Рекомендуемые значения величины блоков для трактов различной скорости указаны в таблице 4 настоящего стандарта.
Коэффициент ошибок по секундам, пораженным ошибками (SESR)
Отношение секунд, пораженных ошибками, (SES) к общему количеству секунд в течение времени готовности за фиксированный интервал измерения.
Секунда, пораженная ошибками (SES)
Односекундный интервал, содержащий £30% блоков с ошибками или, по
крайней мере, один период с серьезными нарушениями (SDP). SES входит в совокупность ES.
Период с серьезными нарушениями (SDP) является кратковременным периодом, продолжающимся в течение четырех смежных блоков, но не менее 1 мс, в течение которого тракт не работоспособен.
Примечание - Тракт может считаться неработоспособным* если происходит пропадание сигнала или все смежные блоки поражены ошибками с высоким коэффициентом (BER) (например, >10’2). Это состояние оценивается путем регистрации дефектов (см.ниже).
Коэффициент Фоновых ошибок по блокам (BBER)
Отношение фоновых ошибок по блокам (ВВЕ) ко всему количеству блоков, в
течение времени готовности за
иксированный интервал измерения.
При счете
общего количества блоков исключаются все блоки в течение SES.
Фоновая ошибка по блокам (ВВЕ)
Блок с ошибками, не являющийся частью SES.
Параметры, используемые для оценки показателей ошибок без прекращения связи
Аномалии
Состояния аномалии без прекращения связи используются для определения показателей ошибок тракта, когда тракт не находится в состоянии дефекта. Определены следующие две категории аномалий, относящихся к приходящему сигналу: а 1 цикловый синхросигнал с ошибками;
а2 блок с ошибками (ЕВ), обнаруженный с помощью методов встроенного контроля (циклический контроль избыточности, проверка на четность) - не применима для трактов типа 2 и 3 (см.ниже).
Дефекты
Состояния дефекта без прекращения связи используются, чтобы обнаружить изменение состояния качественных показателей, которое может произойти в тракте. Определены следующие три категории дефектов, относящихся к приходящему сигналу: dl пропадание сигнала (LOS);
d2 сигнал индикации аварийного состояния (AIS);
d3 пропадание цикловой синхронизации (LOF).
Определения критериев для состояния дефектов LOS и AIS даны в Рекомендации МСЭ-Т G.775, а дефекта LOF также в Рекомендациях серий от G.730 до G.750.
Формирование показателей ошибок в зависимости от типа тракта
В табл.АЛ приведены правила, по которым должны формироваться значения показателей ошибок, исходя из зарегистрированных аномалий и дефектов, для имеющихся на сетях связи страны типов трактов.
В зависимости от типа средств контроля без прекращения связи (ВК), имеющихся в аппаратуре образования тракта, может оказаться невозможным получение всей совокупности параметров качественных показателей. Может быть определено три типа трактов:
Тип 1: Тракты с цикловой и блоковой структурой
Обеспечивается определение с помощью средств ВК всей совокупности дефектов от d 1 до d3 и аномалий al и а2. Примерами данного типа тракта являются: первичные и вторичные тракты с CRC (от 4 до 6) в соответствии с Рекомендацией МСЭ-Т G.704; четверичные тракты с битом проверки на четность каждый цикл в соответствии с Рекомендацией МСЭ-Т G.755.
Тип 2: Тракты с цикловой структурой
Обеспечивается определение с помощью средств ВК всей совокупности дефектов от dl до d3 и аномалий aL Примерами данного типа тракта являются типовые сетевые тракты от первичного до четверичного в соответствии с ГОСТ 27763-88.
Тип 3: Тракты без циклов
Обеспечивается определение с помощью средств ВК ограниченной совокупности дефектов dl и d2, которые не включают проверку любой ошибки. Не имеется контроля циклового синхросигнала (FAS). Примером данного типа тракта может быть цифровой канал, предоставляемый потребителю, образованный в нескольких трактах более высокого порядка, соединенных последовательно.
*■1
Таблица АЛ - Параметры и критерии оценки результатов измерений
Тип
Параметр
ESR
Критерии оценки результатов измерений
ES отмечается тогда, когда в течение одной секунды возникает, по крайней мере, одна аномалия al или а2 или один дефект от dl до d3
SESR
BBER
ESR
SES отмечается тогда, когда в течение одной секунды возникает, по крайней мере, “х* аномалий а 1 или а2 или один дефект от d J до d3 (примечания 1 и 2)
ВВЕ отмечается тогда, когда в течение одной секунды в блоке, не являющимся частью SES, возникает аномалия а 1 или а2
ES отмечается тогда, когда в течение одной секунды возникает, по крайней мере, одна аномалия а 1 или один дефект от d 1 до d3
SES отмечается тогда, когда в течение одной секунды возникает, по крайней мере, "х” аномалий а 1 или один дефект от d 1 до d3 (примечание 2)
SES отмечается тогда, когда в течение одной секунды возникает, по крайней мере, один дефект от d 1 или d2 (примечание 3)
Примечания
Если в течение интервала одного блока возникает более, чем одна аномалия al или а2, должна отсчитываться одна аномалия.
Значения "хм для трактов разного порядка указаны в нормах на цифровые тракты.
Оценки ESR и SESR должны быть идентичны, так как событие SES является частью совокупности событий ES.
Показатели ошибок, нормируемые в долговременных нормах
на основной цифровой канал
(в соответствии с Рекомендацией МСЭ-Т G.821)
Секунда с ошибками (ES)
Односекундный интервал с одной или более ошибками.
Секунда, пораженная ошибками (SES)
Односекундный интервал, средний коэффициент ошибок по битам в котором > 1О3. SES входит в совокупность ES.