---

5. Методика измерения

Интегральную схему подключают в схему измерения; устанав­ливают заданные значения входного напряжения и напряжения пи­тания.

Устанавливают заданное значение температуры, которое про­веряют до и после измерения.

Выходные сигналы генератора импульсов регулируют таким образом, чтобы на входе измеряемой интегральной схемы получить сигнал с заданной амплитудой, длительностью и частотой (ами) повторения, л

Любой другой генератор импульсов регулируют подобным же образом, и устанавливают заданное значение времени задержки этого генератора. :

Чтобы убедиться в том, что переключение произошло при задан­ной частоте на выходе, за выходом интегральной схемы следует на­блюдать по детектору сигналов.

6. Заданные условия:

температура окружающей среды или в контрольной точке.схе­мы; «

напряжение (я) питания;

характеристики входных импульсов: амплитуда, длительность, время нарастания, время спада, частота повторения, время задер­жки между входными импульсами, при необходимости;

направление переходов входных сигналов;

.. цепь (и) нагрузки как на измеряемых, так и на неизмеряемых выходах;

цепь (и) управления на входе, при необходимости;

частота повторения сигнала на выходе;

условия на других выводах;

последовательность и форма сигналов на других выводах вхо­да, лГ лава V. ПРИЕМКА И НАДЕЖНОСТЬ

Раздел I. ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ИСПЫТАНИЯ НА СРОК СЛУЖЬЫ

1. Общие требования

См. п. 2 ГОСТ 29106 (МЭК 748—1), гл. VIII, разд. III.

2. Специальные требования

   1. Перечень испытаний на срок службы

Приводится перечень испытаний на срок службы для следую­щих подклассов цифровых интегральных схем:

логические схемы;

последовательностные схемы;

оперативные запоминающие устройства.

Для многофункциональных приборов заданные выходные ха­рактеристики измеряют для каждого из связанных входов. Для при­боров с дополнительными контрольными выводами (например, с выводами установки и сброса, выводами разрешения) измерения на заданных выходах следует проводить, по меньшей мере, один раз для каждой функции, управляемой этими выводами.

Для комплексных схем, которые не подвергаются полным функ­циональным испытаниям, в данных по испытаниям должны быть указаны именно те функциональные испытания, которые прово­дятся. - - - .

Условия проведения испытаний и испытательные схемы для каж­дого класса приборов приведены в табл. II; если не оговорено иное, указанные испытания применимы для биполярных и МОП- схем. ^z ’

В соответствующих ТУ на изделия конкретных 'ТИПОВ должно быть указано, какие испытания следует проводить.

Не допускается изменение предельно допустимых значений па­раметров (указанных в п. 2.3.1 ГОСТ 29106 МЭК 748—1, гл. VIII, разд. III)

пытаниях на надежность

На рассмотрении.

Если отказ прибора возник в результате ошибки во время ис­пытаний (например, из-за неисправности испытательного или из­мерительного оборудования или ошибки оператора), то его заре­гистрируют в протоколе испытания с указанием причины отказа.

Испытания

В схеме кольцевого генератора при высокой температуре

На долго­вечность в динамическом режиме при высокой тем­пературе

На долго­вечность в статическом режиме при высокой тем­пературе

Условия проведения испытаний на срок службы

Классы или
подклассы
приборов

Температура

Условия испытаний

Таблица II

Рабочие условия

Логические схемы

Логические схемы. После­довательност­ные схемы

ОЗУ

Логические схемы. После­довательност­ные схемы, ис­ключая

1. динами­ческие (МОП) схемы;

2. ОЗУ

ОЗУ

7¹ amb—Сортах

^amb—Т'

op max

op max

op max

op max

При испытании инвертирую­щих логических схем нечетные интегральные схемы соединя­ются последовательно, прн этом выход последней схемы подсоединяется к выводу вхо­да первой схемы, как показа­но на черт. 71, чтобы вызвать

опрокидывание фазы.

При испытании неинвертиру­ющих логических схем к кас-

кадам неинвертирующих схем следует добавить инвертор, как показано на черт. 72. В этом случае число неинверти­рующих схем может быть как четным, так и нечетным.

Заданная (ые) последова­тельность (и) импульсов пода­ется (ются) на заданные выво­ды входа. Условия на других выводах следует указать (см. черт. 73)

Заданная (ые) последователь­ность (и) импульсов подается (ются) на заданные выводы входа. Условия на других вы­водах следует указать

Заданные напряжения пода­ются на выводы входа. Усло­вия на других выводах следу­ет указать (см. черт. 74)

Заданные напряжения ^пода­

ются на соответствующие за­данные выводы, чтобы запи­

сать заданную

информацию,

считать и сохранить ее

в — к входу схемы № 3; b — источник питания; с — вы­ход схемы № (N-l); N — нечетное число

Черт. 71

Кольцевой генератор для неинвертирукицих N-схем

а — ко входу Хе 3; b — источник питания; с — дополнитель­ная инвертирующая логическая схема; d — выход смены № (N-l); N может быть как четным, так и нечетным числом

Черт. 72

Схема испытания на долговечность
в динамическом режим

е

Схема испытания на долговечность
в статическом режиме

Черт. 74ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ

1. Внесен Министерством электронной промышленности СССР

I

2. У

   Постановлением Го­

   ТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ

сударственного комитета СССР по управлению качеством про­дукции и стандартам от 27.09.91 № 1556

Настоящий стандарт подготовлен методом прямого применения международного стандарта МЭК 748—2—85 «Полупроводнико­вые приборы. Интегральные схемы. Часть 2. Цифровые интег­ральные схемьг» и полностью ему соответствует л

3. ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕН. ТЫ

Обозначение отечествен-
ного нормативно-техничес-
кого документа, на кото-
рый дана ссылка

Обозначение соот-
ветствующего меж-
дународного стан-
дарта

Глава, раздел, пункт,
в котором приведены ссылки

С

ГОСТ 29106—91

МЭК 748—1—84

МЭК 747—1—83

Глава I, п. 1

Глава II, п. 6

Глава III, разд. 1, п. 12

Глава III, п. 14

Глава III, разд. 2, А, п. 10

Глава III, разд. 2, А, п. 12

Глава III, разд. 2, В, п. 13

Глава III, раз'д. 3, п. 6

Глава III, разд. 3, п. 8

Глава IV, разд. 1, п. 1

Глава I, п. 1

Глава П, п. 6

Глава III, разд. 1, п. 4

Глава IV, разд. 1, п. 1

Глава V, разд. 1, п. 1

Глава V, разд. 1, п. 2.3

ОДЕРЖАНИЕ

ПРЕДИСЛОВИЕ

ВВЕДЕНИЕ . . .

ГЛАВА I. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ -

Введение

Область применения

ГЛАВА II. ТЕРМИНОЛОГИЯ И ОБОЗНАЧЕНИЯ . . .

Терминология для комбинаторных и последовательностных интеграль­ных схем

46

37

41

33

34.

Терминология для микропроцессорных интегральных схем

Терминология для приборов с переносом заряда . . . . .

Буквенные обозначения для комбинаторных последовательностных схем. Буквенные обозначения для динамических параметров последователь­ностных интегральных схем, включая запоминающие устройства

пара-

ции памяти .

Типы запоминающих устройств

Термины, относящиеся к предельно допустимым значениям метров и характеристикам . . . . .

Типовые временные диаграммы для статических ОЗУ

ункционированию и организа-

ЗЕ

15

18

32

12,

Примеры . . .

Терминология для интегральных схем и запоминающих устройств (ЗУ).

ункциям схем

•I

67

67

6$

69

Основные характеристики входных и выходных токов Наиболее неблагоприятные условия

Входное фиксирующее напряжение (при необходимости)

Основные характеристики напряжения цифровых сигналов

интеграль-

Статические электрические характеристики биполярных ных схем . . . . . . . .

66

66

66-

65

65

Предельно допустимые значения параметров

64

64

64

64

ГЛАВА III. ОСНОВНЫЕ ПРЕДЕЛЬНО ДОПУСТИМЫЕ ЗНАЧЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ И ХАРАКТЕРИСТИКИ

Раздел I. Цифровые интегральные схемы. Общие положения

1. Обозначение и описание схемы . . . . . . .

   1. Обозначение и тип . . .

   2. Технология

   3. Обозначение корпуса . . .

2. Функциональное назначение . . . . . . .

   1. Блок-схема . . . . . .

6. Статические и квазистатические электрические характеристики МОП-ин- тегральных схем . . . . . . . . . . • . .73

   1. Основные характеристики напряжения цифровых сигналов . . 73

   2. Основные характеристики токэв . . . . . . . .74

7. Динамические электрические характеристики . . . ... . 74

   1. Введение 75

   2. Временные характеристики быстродействия схемы . . .75

   3. Требования на входах для обеспечения правильной последова­тельности работы схемы . .76

   4. Входное и выходное полные сопротивления . . . . .78

8. Общая мощность или токи потребления .... . . . .80

9. Общий ток потребления (в динамическом режиме) . . . . 80

10. Сведения об управляющих импульсах (при необходимости) . .80 11. Сопротивление изоляции . . .80

12. Конструктивные данные, характеристики и другие данные . . .80

13. Дополнительные сведения . . 80

    1. Нагрузочная способность по выходу .80

    2. Помехоустойчивость .80

    3. Межсоединения цифровых интегральных схем . . . .81

14. Меры предосторожности . . 81

Приложение к разделу I. Представление характеристик . 81

Раздел 11. Интегральные схемы запоминающих устройств . 82

1. Статические и динамические оперативные запоминающие устройства и постоянные запоминающие устройства . . . . . .82

1. Обозначение и описание схемы . . . . . . . . 82

2. Функциональное назначение . . . . . ... .82

   1. Блок-схема . . . .... . . . • . . .82

   2. Описание функции . . . 82

3. Предельно допустимые значения параметров . . . . . '82

4. Рекомендуемые рабочие условия' (в заданном диапазоне рабочих тем­ператур) . . . . . . . ....... 82

5. Статические электрические характеристики биполярных схем запоми­нающих устройств . . . . . . . . ’ . . 83

6. Статические электрические характеристики МОП-схем запоминающих устройств . ..... ... ; . . . .83

7. Динамические электрические характеристики . . _г . , 83

   1. Временные характеристики быстродействия схемы . . . .83

   2. Требования на входах для обеспечения правильной последователь­ности работы запоминающих устройств . . . . . . 84

   3. Входная и выходная емкости . . 89

8. Мощность или ток потребления от каждого источника питания (в .