Все измерения проводят при заданных уровнях опорного напряжения.
Примечание. Поскольку переходы могут иметь различную длительность, может возникнуть необходимость определить два времени разрешения и два времени запрещения (переход от Z к Д, от Z к Н и от L к Z, от Н’ к Z).
* ' ! Г
е) Заданные условия:
температура окружающей среды или в контрольной точке схемы напряжение (я) питания;
характеристики входного импульса;
время нарастания t г;
время спада//;.
амплитуда; ’
частота повторения;
время установления и удержания, при необходимостидлительность;
цепи на входе;
цепи на выходе и цепи нагрузки, включая емкость нагрузки Cl (Cl включает в себя паразитные емкости);
условия на других выводах;
уровни опорного напряжения при измерении временных параметров. /
Измерение времени разрешения и запрещения на выходе
нию низкого уровня); 4t5, 6, 7 — опорное напряжение
1 — форма сигнала 2 на выходе; 2
на выходе; 3 — управление выходом
— форма сигнала 1 (переход к состоя
^en(ZH) или ^en(ZL) — время разрешения на выходе; /dis(HZ) 1ИЛИ ^dis(LZ) — время запрещения на выходе; Vref(i) или Vre^2) — опорное напряжение для времени запрещения на выходе при переходе из состояния низкого (или высокого) уровня в состояние высокого полного сопротивления; V или — выходное напряжение в установившемся режиме при переходе выхода из состояния низкого (или высокого) уровня в состояние высокого полного сопротивления
Черт. 63
Примечание. Форма сигнала 1 на выходе такова, что при соответствующих внутренних условиях на выходе будет состояние низкого уровня, если только на выход не будет п'одан сигнал запрещения. Форма сигнала 2 на выходе такова, что при соответствующих внутренних условиях на выходе будет состояние высокого уровня, если только на выход не будет подан сигнал запрещения.
П ример цепи нагрузки на выходе для ТТЛ-схемы
и эквивалентной логической схемы
К V+ ДЛЯ fen(ZL) И fdls(LZ) К V — ДЛЯ /en(ZH) И fdie(HS)
Временные параметры, характеризующие интегральные схемы запоминающих устройств (50) — (54)
Общие положения
Приведенные ниже методы измерений могут использоваться для установления значений характеристик для интегральных схем ЗУ. Их можно применять при автоматических испытаниях: рассматривать в качестве контрольных методов, а также для определения точного значения той или иной характеристики.
Цель
Измерение следующих динамических характеристик и временных параметров ячейки памяти ЗУ:
времени выборки адреса;
времени выборки кристалла;
времени выборки считывания;
времени восстановления сигнала записи; **
минимальной длительности импульса записи.
Схема измерения
1 — аппаратура для измерения напряжения и времени; 2 — измерение на выходе; 3 — измерение на входе; 4 — генератор импульсов; 5 — цепь на входе т; 6 — цепь на входе 1; 7 — источник питания; 8 — цепь на выходе Г, 9 — измеряемая интегральная схема; 10 — цепь на выходе п
Черт. 65 /
* Если имеются общие выводы для входа и выхода, необходимо предусмотреть схемы развязки для входа и выхода.
Описание схемы и требования к ней.
Измерительная аппаратура должна обеспечивать импульсы и конфигурации импульсов для входов адреса, входов информации, а также для всех других заданных входов. Временные соотношения сигналов должны измеряться при заданных опорных напряжениях.
Кроме того, аппаратура должна обеспечивать напряжения и нагрузки на других выводах, а также соответствующие развязки для схем с общими выводами для входа и выхода.
Методика измерени
яСхема измерения представлена на черт. 65. Должна быть установлена заданная температура измеряемой схемы. Входные и выходные выводы так же, как и остальные выводы, подключают согласно ТУ на изделия конкретных типов. Источник питания подключают как оговорено (например, в заданной последовательности).
Генератор импульсов регулируют для получения заданных характеристик импульса: амплитуды, длительности, частоты повторения; времени задержки: нарастания и спада на входе измеряемой схемы.
dl) Измерение времени выборки адреса (50)
С помощью генератора импульсов заданная информация запи
сывается в ячейки памяти, используемые при измерении.
Во время последующего считывания следует изменить сигнал
адреса, чтобы он переместился из одного определенного местоположения в ячейке в другое, причем эти два местоположения должны содержать дополнительную информацию.
Все остальные входные сигналы, необходимые для считывания из запоминающего устройства, должны подаваться значительно раньше, чтобы не оказывать влияния на время выборки адреса. Это время измеряется как интервал времени от момента изменения адреса до момента получения достоверной информации на выходе; измерение осуществляют при заданных значениях опорного напряжения (см. черт. 66).
1 — информация на выходе; 2 — адрес; /а (А) — время выборки адреса
Измерение времени выборки адреса
Черт. 66
d2) Измерение времени выборки кристалла (51).
С помощью генератора импульса заданная информация запи-
сывается в ячейки памяти, * используемые при измерении.
Все остальные входные сигналы, необходимые для считывания из ЗУ, должны подаваться значительно раньше, чтобы не оказывать влияния на время выборки разрешения и/или выбора кристалла. Это время представляет собой интервал времени от момента, когда сигнал разрешения и/или выбора переходит из неактивного в активное состояние, до момента получения достоверной йнформа-
J
ции на выходе; измерение осуществляется при заданных значениях опорного напряжения (см. рис. 67).
Измерение времени выборки
разрешения и/или выбора
Ч
И *a(S>
1 — информация на выходе; разрешение и/или выбор;
|>
“ время выборки ения и/или выбора
а(Е) разре-
ерт. 67d3) Измерение времени выборки считывания
С помощью генератора импульсов заданная информация записывается в ячейки памяти, используемые при измерении.
Примечание. Данный метод применяют только для ЗУ с раздельными выводами входа и выхода.
Измерение проводят в два этапа:
в ячейку памяти записывается один бит информации;
при считывании такой бит информации должен вызывать изменение на выходе. -
Время выборки считывания измеряют как интервал времени с
м
получения
омента перехода от записи к считыванию до моментадостоверной информации, на выходе (см. черт. 68).
Измерение времени выборки считывания
информация на выходе;
информация на
входе; 3
2 — запись
(LJ/считывание (Н); 4 — этап а): запись;
5 —этап Ь) : считывание; /a(R) — время выборки считывания
s’
d4) Измерение времени восстановления сигнала записи (53)
С помощью генератора импульсов заданная информация запи- сывается в ячейки памяти, используемые при измерении.
Примечание. Метод применяют только для ЗУ с раздельными выводами входа и выхода. *
Длительность импульса записи увеличивается от минимального гарантированного значения. Необходимо наблюдать за выходом прибора и регистрировать момент, когда записанная информация вызывает ошибку в последующем цикле считывания (т. е. несоответствие значения на выходе).
Время восстановления сигнала записи измеряют как интервал времени от момента окончания импульса записи до начала следующего цикла (например, изменение адреса) при заданном контрольном уровне.
Примечание. Следует подавать все остальные сигналы, необходимые для правильной работы ЗУ в режиме считывания, что дает запас во времени для заданных временных требований, достаточный для того, чтобы не оказывалось влияния на результат измерения.
Типовые формы сигнала приведены на черт. 69.
Измерение времени восстановления сигнала записи, если начало следующего цикла вызывается изменением адреса
1 — информация на выходе; 2 — информация на входе; 3. — запись (Ь)/считыва-
ние (Н); 4 — адрес; 5, 6 — достоверная информация; — время восстановления сигнала записи
Черт. 69
d5) Измерение минимальной длительности (ширины) импульса .записи (54).
• С помощью генератора импульсов заданная информация записывается в ячейки памяти, используемые при измерении.
■/ 143
т
" У' S ,» -
^■. . . I
# 7 *Измерение проводят в три этапа:
в ячейку записывается информация согласно ТУ на изделия конкретных типов;
в ячейку вновь записывается заданная дополнительная информация;
информация считывается и сравнивается с информацией, записанной на этапе Ь).
Эти три этапа повторяют, причем на этапе Ь) длительность (ширина) импульса уменьшается, пока на этапе с) не исчезнет идентичность при сравнении информации. Затем длительность импульса увеличивается до тех пор, пока совпадения не будет вновь. Эта длительность (ширина) импульса и будет «минимальной длительностью (шириной) импульса записи» (см. черт. 70).
Все остальные сигналы (например, выбора кристалла и информации на входе), необходимые Для осуществления записи, подаются таким образом, чтобы не нарушить операцию записи.
Измерение минимальной длительности
(ширины) импульса записи
^w(W) длительность (Ширина) импульса записи;
^su(S) ~~ время установления сигнала выбора кристалла до сигнала записи;
^su(D) — время установления сигнала информации на входе до сигнала записи:
*h(S) ~~ вРемя удержания сигнала выбора кристалла после сигнала записи; *
^h(D) — время удержания сигнала ин
формации на входе после сигнала записи; _
1—D — информация на входе; 2 — w —
запись;
3—S — выбор кристалла (при необходимости).
Черт. 7'0
П
8U(D)
римечание. Время установления сигнала информации на входе tв
II
ычисляется по фронту спада импульса записи (как показано на черт. 70) для ЗУ, запоминающие элементы которых представляют собой «прозрачные» фиксаторы. Для ЗУ, запоминающие элементы которых представляют собой фиксаторы с запуском при переходе, это время вычисляется по фронту импульса записи.е) Заданные условия:
температура окружающей среды или в контрольной точке схемы (Tamb ИЛИ ^*case ) і
напряжение (я) питания;
конфигурация и последовательность входных импульсов, включая требования к временным соотношениям, например: время цик
ла, время установления и время удержания;
характеристики входных импульсов, включая время нарастания, :время спада и амплитуду;
входные и выходные цепи (включая паразитные емкости);
условия на других выводах;
содержимое выбранной (ых) ячейки (ячеек) памяти;
адрес выбранной (ых) ячейки (ячеек) памяти;
последовательность адресов, при необходимости.
5. Частота переключения последовательностной схемы (10)
Цель
Определить, находится ли максимальная (минимальная) час7 тота переключения последовательностной схемы выше (ниже) заданного предельного значения.
Схема измерения
См. черт. 60.
Описание схемы и требования к ней
Последовательностная схема, которая, в частности, может быть бистабильной схемой, счетчиком или регистром сдвига, должна переключаться из одного состояния на выходе в другое, если:
соответствующий (ие) пусковой (ые) импульс (ы) отсутствовал (и) в течение определенного периода времени, а затем
соответствующий (ие) пусковой (ые) импульс (ы) подается (ются) в течение определенного периода Времени.
Эти два периода времени необязатёльно должны быть равными. Отсутствие переключения на максимальной частоте будет наблюдаться в том случае, если сумма этих двух периодов времени в любом одиночном цикле падает ниже значения, определяющего этот параметр при максимальной для данной интегральной схемы частоте.
Точно также отсутствие переключения наблюдается в том случае, если один из этих периодов времени превышает значения, определяющие этот параметр на частоте, минимальной для данной интегральной схемы.
Для последовательностных схем определенных типов может потребоваться дополнительная подача сигналов. Эти дополнительные сигналы следует синхронизировать с основными сигналами и установить для них соответствующее время задержки; они должны также иметь частоту повторения, кратную частоте основных импульсов
.С. 140 ГОСТ 29107—91
4 ъ
Подсоединение<цепи нагрузки, как на измеряемых, так и на не- измеряемых выходах, а также цепи управления должны соответ- / ствовать заданным, как оговорено.
Свободные входы следует подсоединять, как оговорено.
Детектор сигналов должен быть снабжен либо осциллографом, либо иным прибором., способным указывать на наличие переключения измеряемого выхода последовательностной схемы из одного состояния в другое на заданной частоте, соответствующей частоте пусковых импульсов. Детектор должен также указывать на то, что при каждом переходе сигнал на выходе не превышает предельных значений или .
Меры предосторожности;
Особых мер предосторожности соблюдать не требуется.