---

Программа утверждения соответствия конденсаторов требова­ниям ТУ на основе испытаний по партиям и периодических испы­таний приведена в п. 3.5 настоящего стандарта. Методика испы­таний на выборке заданного объема приведена в пп. 3.4.1 и 3.4.2 настоящего стандарта.

Формирование выборки.Методика испытаний на выборке заданного объема приведена в п. 3.4.2b ГОСТ 28896. Выборка должна представлять совокуп­ность конденсаторов, для которых требуется утверждение соот­ветствия. Это может быть полная или неполная совокупность кон­денсаторов, на которые распространяются ТУ.

В выборку должны входить конденсаторы на самое низкое и самое высокое напряжение и имеющие для этих напряжений наи­меньшую и наибольшую емкость. В случаях, когда имеется более четырех номинальных напряжений, испытывают конденсаторы на промежуточное напряжение. Таким образом, для утверждения со­

ответствия совокупности конденсаторов требуется испытать 4 или 6 групп отбора (сочетаний емкости и напряжения).

Если совокупность конденсаторов включает менее 4 групп от­бора, число конденсаторов, подлежащих испытанию, должно быть

таким же, как и для четырех групп отбора.

Дополнительно отбирают следующее количество конденсаторов: а) один на группу отбора, который может быть использован

для замены допустимого дефектного конденсатора в группе 0;

б) один на группу отбора, который может быть использован

для замены конденсаторов, оказавшихся дефектными по причинам

не зависящим от изготовителя.

В группе 0 указывают количество конденсаторов, которое не­обходимо, если проводятся испытания всех групп.

Если испытания проводят не по всем группам, то количество отобранных конденсаторов может быть уменьшено.

Если в программу испытаний с целью утверждения соответст­

вия включены дополнительные группы, число конденсаторов, тре­бующихся для группы 0, следует увеличить на то же количество, которое требуется для дополнительных групп.

В табл. 2 приведено число конденсаторов, подлежащих испы­танию в каждой группе или подгруппе, вместе с допустимым чис­

лом дефектных конденсаторов при испытаниях с целью утвержде­

ния соответствия.

Для утверждения соответствия конденсаторов, на которые рас­пространяются одни ТУ, требуется полная серия испытаний, ука­занных в табл. 2 и 3. Испытания каждой группы следует прово­

дить в следующем порядке.

Всю выборку подвергают испытаниям группы 0, а затем ее де­

лят для проведения испытаний по другим группам.

Конденсаторы, оказавшиеся дефектными при испытаниях по

группе 0, нельзя использовать для других групп испытаний.

к

«Одним дефектным

онденсатором» считается конденсатор, ко­

торый не выдержал все испытания группы или часть этих испыта­ний. Результаты испытаний считают положительными, если число дефектных конденсаторов не превышает установленного допусти-

мого числа дефектных конденсаторов для каждой группы или

подгруппы и общего допустимого числа дефектных конденсаторов.

Примечание. Табл. 2 и 3 образуют программу испытаний на выборке заданного объема., для которой в табл. 2 представлены указания по формиро­ванию выборок и допустимому числу дефектных конденсаторов для различных испытаний или групп испытаний;

в табл. 3 вместе с подробным описанием испытаний, содержащимся в разд. 4, приведена полная сводка режимов испытаний и требований к характеристикам и указано, в каких случаях метод испытаний или режим испытаний должны быть указаны в ТУ.

Режим испытаний и требования к характеристикам, устанавливаемые в про­грамме испытаний на выборке заданного объема, должны быть идентичны ре­жимам и требованиям, установленным в ТУ для контроля соответствия каче­

Таблица 2

Объем выборки и допустимое число дефектных конденсаторов
для испытаний с целью утверждения соответствия

Пункты на­стоящего стандарта

1А

1В

Внешний осмотр

Размер ы

Э л ектри ческ а я проч­

ность

Емкость

Тангенс угла потерь

С оп ротивление изоля­ции

Д оп о л н ИТ е л ь н ы е кон - денсаторы

Прочность выводов

Т еп л о сто йк ость при

пайке

Сто йк ость к о нд ен с а то- ров к воздействию раст­ворителя⁴

Паяемость

Стойкость маркировки к воздействию раствори­теля

Быстрая смена темпе- р атур ы

4.1

4Л

4.12 Л

4,2.2

4.2.3

4.2.4

4.3

4.4

4ЛіЗ

4.5

4114

4,6

116

12

24

174

12

18

36

Объем выборки п и допус-
тимое число дефектных
конденсаторов pd

Группа
испыта-
ний

Наименование видов
испытаний

Пункты на-
стоящего
стандарта

на 4 или ме­нее группы отбора, под­лежащих ис­пытанию³

на 6 групп
отбора, под-
лежащих
испытанию³

Вибрация

Ударная тряска или удар¹

4.7

48

или 4.9

Последов а тель нос ть
клим этических исп ыт а -

ний

1. 4 ДО

   
   

   Влажное тепло, посто­янный режим

   
   

   Срок службы

   
   

   4. Ill

   4.12

   
   

   X ар акт ери стики,, з ав и - сящие от температуры⁴

   
   

   4J2.5

   
   Согласно ТУ.

2. На любую группу отбора допускается не более одного дефектного кон­денсатора.

3. Сочетания емкости и напряжения — согласно п. 3.4.1.

4. Если указано в ТУ.

Таблица 3*

Программа испытаний с целью утверждения соответствия

Наименование
видов испытаний
и пункты методов
испытаний настоя-
щего стандарта
(см. примечание 1)

D
или
ND

Режим испытания
(ем. примечание 1)

Объем
выбор-
ки п и
допусти-
мое число
дефект-
ных кон-
денсато-
ров pd
(См.

табл. 2)

Требования к харак-
теристикам
(см. примечание 1)

Группа О N<D

4 .th Внешний і

осмотр ^!

Согласно п. 44

Четкая м арки ровк а и как установлено в Т

У

Наименование
видов испытаний
и пункты методов
испытаний настоя-
щего стандарта
(см. примечание 1)

D
или
ND

Режим испытания
(см. примечание 1)

Объем
выбор-
ки л и
допусти-
мое число
дефект
Hjbix кон-
денсато-
ров pd
(См.

табл. 2)

Требования к харак*
теристикам
(см. примечание 1)

4.2. Размеры (справочные)

4,2.1. Электри­ческая проч­ность

4.2,2. Емкость

4.2,3. Тангенс угла потерь (tgd)

4.2.4. Сопротив­ление изоляции

Группа 4 А

4.3.|Н Перво­начальные изме­рения

Согласно ТУ

Частота: /Т кГц

Метод согласно ТУ

Емкость

Тангенс угла пю-

терь:

ДЛЯ Сн о м
на f=l кГц;

ЗЕ

НОМ

10) мкФ на

Согласно ТУ

Отсутствие элект­рического пробоя или поверхностного раз­ряда

В пределах уста­новленного допускае­мого отклонения

Согласно п. 4.2.3.2

Согласно п. 4.24,12

4.3. Прочность

В Ы'В од ов

14.4. Теплостой­кость при пайке

4.4.2. Заключи­тельные измерения

f=510—4 20 Гц Внешний осмотр

Без предваритель­ной сушки

Метод 1А или (ГВ согласно ТУ

Внешний осмотр

Емкость

Отсутствие види­мых повреждений

Отсутствие види­мых повреждений.

Четкая маркировка

АС

— ^2% от значени

я

4.L3. Стойкость конденсаторов к воздействию раст­ворителей (если применимо)

Растворитель

Температура раст­ворителя . ..

Метод 2

Восстановление. ..

измеренного в соот­ветствии с п. 4.3¹.!

Согласно Т

У

Наименование
видов испытаний
■ пункты методов
испытаний настоя-
щего стандарта
(см. примечание 1)

или
ND

Режим испытания
(см. примечание I)

Объем
выбор-
ки л и
допусти-
мое число
дефект-
ных кон-
денсато-
ров pd
(См.

табл. 2)

Требования к харак-
теристикам
(см. примечание I)

Группа 1В 4и5. Паяемость

Без проведения

старения

Метод согласно ТУ

04. Стойкость маркировки к воздействию раст­ворителей (если применимо)

4.6,1. Первона­чальные иэм Єре­ван

4.6. Быстрая смена темпера­тур

4.7. Вибрация

Растворитель ...

Т е м пер ат ур а ра ст- ворителя ...

Метод Ь

Протирочный мате­риал: гигроскопичес­кая вата

Время восстанов­ления

Емкость

Тангенс угла по­терь :

для СномСГШ мкФ на f ~.1 кГц; для

П I J [VI f* »vzr 'ХТА * >. Ж ЛІ «

/==5Ю—Гц
— нижняя тем-

пература категории;

©в — верхняя тем­пература категории.

Пять циклов

Продолжительность

/[=^0 мин

Внешний осмотр

Способ крепления — согласно ТУ

Методика В4

Диапазон частот:

от ... Гц

до ... Гц

Хорошее обслужи­вание, определяемое или свободным рас­теканием припоя при смачивании вы­водов, или продолжи­тельностью обтека­ния припоем в те­чение ... с, в зависи­мости от того,, что применимо

Четкая маркировка

Отсутствие видимых повреждений

Наименование
видов испытаний
и пункты методов
испытаний настоя-
щего стандарта
(см. примечание 1)

D
или
ND

Режим испытания
(см. примечание 1)

Объем выбор­ки л и

допусти-
мое число

дефект

ных кон-
деи сато-
ров pd
(См.
табл. 2)

Требования к харак-
теристикам
(см. примечание 1)

4.7Заключи­тельный контроль

4.8. Ударная тряска (или удар—см. п. 4.9)

4.9. Удар (или ударная тряска — см. п. 4.(8)

4.8.3. или 4.9.3. Заключительные измерения