минимально допустимая мощность;
максимально допустимое напряжение в рабочем диапазоне; максимально допустимая разность напряжений между двумя соседними дорожками металлизации на кристалле (например для цифровых схем два соседних входа одного вентиля должны иметь высокий и низкий уровни).
Примечание. Условиями максимальной нагрузки являются нулевое значение мощности, максимально допустимое напряжение между соседними дорожками металлизации на кристалле;
напряжение и (или) токи смещения подают на приборы в течение времени, равного заданной длительности испытания (в пределах принятых допусков);
напряжение (я) смещения продолжают подавать на приборы до тех пор, пока они не будут охлаждены до комнатной температуры по окончании периода выдержки, если для данных типов приборов и условий испытаний не установлено, что охлаждение приборов при снятии смещения не приводит к значительному изменению их характеристик.
5В—2.3.3. Восстановление.
По окончании периода выдержки до проведения заключительных измерений образцы подвергают восстановлению в течение не менее 2 ч и не более 24 ч при температуре (25±3)°С и нормальном атмосферном давлении.
5В—2.3.4. Заключительные измерения.
Измерения допускается проводить в любое время в течение периода восстановления, но все они должны быть завершены в течение 8 ч после периода восстановления.
5В—2.3.5. Условия испытания.
Условия испытания должны быть следующими:
степень жесткости 1 (предпочтительная):
температура (85+2) °С;
относительная влажность (85±5)%;
степень жесткости 2:
температура (55+2)°С;
относительная влажность 90—98%.
Если не оговорено иное, то продолжительность испытания должна быть (1000+96) ч.
5В—2.4. Сведения, которые должны указываться в соответствующей НТД:
подаваемое напряжение, при необходимости (см. п. 5В-—2.3.2);
первоначальные и заключительные измерения и условия окружающей среды, если они отличаются от нормальных атмосферных условий (см. пп. 5В—2.3.1 и 5В—2.3,4);
длительность испытания, если она не равна 1000 ч (см. и. 5В—2.3.5);
схема подачи смещения (см. п. 5В—2.3.2).
СОСТАВНОЕ ЦИКЛИЧЕСКОЕ ИСПЫТАНИЕ НА ВОЗДЕЙСТВИЕ
ТЕМПЕРАТУРЫ И ВЛАЖНОСТИ
Ссылка: СТ МЭК 68-2-38 (ГОСТ 28224).
Это испытание соответствует испытанию Z/AD с учетом следующих требований.
Общее описание испытания.
При необходимости следует обеспечить подачу напряжения смещения на изоляцию и (или) электрической нагрузки на приборы для определения возможности возникновения электрохими* ческой коррозии.
Описание испытательного оборудования.
Примечание. Для периода выдержки в условиях холода при температуре минус (10+2) °С относительную влажность в камере не нормируют. Если испытание проводят в отдельной камере, то перемешивание воздуха не требуется.
Методика испытания.
Предварительная сушка.
В целях гарантии того, что первоначальные измерения проводят на сухих образцах, может быть предусмотрена предварительная сушка при температуре 50°С в течение 24 ч.
Предварительные механические испытания.
Проведение предварительных механических испытаний необязательно.
Если предусмотрены механические испытания, то следует проводить испытание выводов на изгиб в соответствии с п. 1.2 главы II настоящего стандарта.
Описание 24-часового цикла.
Допуск на временной интервал должен составлять ±10 мин.
При проведении испытания в одной камере температура должна понижаться с плюс (25±2)°С до минус (10±2)°С в течение 1,5 ч и поддерживаться на этом низком уровне в течение не менее 3 ч.
Заключительные измерения.
Если предусмотрены измерения в условиях высокой влажности, то они могут проводиться при температуре (25±2)°С и относительной влажности (95±4) % с соблюдением специальных мер предосторожности. Измерения в течение 1—2 ч после извлечения образцов из камеры влажности также проводят только в том случае, если они предусмотрены.
Сведения, которые следует указывать в соответствующей НТД: дополнительные методики предварительной выдержки;
указание о необходимости соблюдения установленных выше требований к проведению измерений в условиях высокой влажности.ГЕРМЕТИЧНОСТЬ
Бомбовый метод
Ссылка: СТ МЭК 68-2-17 (ГОСТ 28210).
Данное испытание соответствует испытанию Q1 с учетом следующих специфических требований:
испытательная жидкость: смесь из 95% метилового спирта и 5% воды с добавлением смачивающего агента;
температура испытательной жидкости: (25±5)°С;
давление: 450 кПа (4,5 бар);
длительность выдержки: 16 ч;
очищающая жидкость: деионизированная вода;
восстановление: от 2 дней до 2 недель.
Примечание. Применять данный метод для полупроводниковых приборов не рекомендуется (см. приложение F СТ МЭК 68-2-17) (ГОСТ 28210, приложение F).
Метод с применением проникающего красителя
Ссылка: Исходных документов нет.
Цель
Обнаружение и определение больших течей в корпусах полупроводниковых приборов.
Это испытание неприменимо для приборов без внутренние полостей.
Общее описание испытания
Прибор опрессовывают раствором красителя, а затем проверяют на проникновение красителя в прибор или на его выделение из прибора.
Описание испытательного оборудования
Камера высокого давления должна обеспечивать поддержание
установленного давления в течение заданного времени и должна быть достаточно вместительной для того, чтобы все приборы бы
л
люоресцент-
и погружены в раствор нефлюоресцентного или ного красителя, к которому добавлен ионизированный смачивающий агент.Методика испытания
Прибор помещают в сосуд для опрессовки, в котором находится раствор красителя, и выдерживают под давлением не менее 500 кПа (5 бар) в течение не менее 1 ч.
В конце этого периода давление снимают, прибор промывают растворителем, подходящим для данного типа красителя, и высушивают в течение не менее 1 ч.
Проверка
Прозрачные приборы проверяют визуально на попадание красителя внутрь прибора, а непрозрачные проверяют на выделение красителя из прибора.
Приборы осматривают при 3—10-кратном увеличении с источником видимого или ультрафиолетового света в зависимости от типа раствора красителя.
* 7.2.6. Критерий отказа
Проникновение красителя (для прозрачных приборов) или выделение красителя (для непрозрачных приборов).
7.2.7. Сведения, которые следует указывать в
•соответствующей НТД:
раствор красителя;
тип источника света;
давление и время опрессовки, если они отличаются от 500 кПа (5 бар) и 1 ч минимум.
Обнаружение малых течей: метод с применением радиоактивного криптона
Ссылка: Исходных документов нет.
Цель
Определение скорости утечки в полупроводниковом приборе •измерением уровня радиации прибора после опрессовки в камере высокого давления с использованием соответствующего радиоактивного газа-индикатора.
Этот метод предназначен для приборов, которые заключены в герметичные стеклянные, металлические или керамические корпуса (или в корпуса, состоящие из комбинации этих материалов), и пригоден для определения скорости утечки менее 10"5 бар*см3/с.
Общее описание
Приведенные числовые значения применимы для криптона-85, используемого в качестве газа-индикатора, и для предельной скорости утечки примерно 5ХЮ"8 бар-см3/с. При использовании других газов требуются другие числовые значения.
Оборудование
Оборудование для этого испытания состоит из активационной камеры и счетного устройства с достаточной чувствительностью для определения уровня радиации газа-индикатора внутри прибора.
Оборудование работает на смеси газа-индикатора криптона-85 и сухого азота, имеющего заданную радиоактивность (минимум 100 мк1<и/см3) в нормальных атмосферных условиях.
При калибровке испытательного оборудования для обнаружения течи и работе с ним следует соблюдать выпускаемые изготовителем инструкции по использованию подобного оборудования. Результаты испытания в условиях, отличных от предпочтительных, можно сравнить с результатами, полученными в предпочтительных условиях, преобразованием их с помощью соответствующей формулы, приведенной в инструкции.
Параметры активации
Д
следующей формулы
(1>
авление при активации и время опрессовки определяют из* Л» 1 _ЗбОО^РГ ’
где Qs— максимально допустимая скорость утечки для испытуемого прибора, бар'См3/с;
J?=1200 единиц (импульсов) в минуту выше нормального фонового уровня после активации, если скорость утечки из прибора точно равна Q5. Это количество единиц является критерием отбраковки прибора, причем его отсчитывают от уровня наведенной радиоактивности счетчика плюс уровень наведенной радиоактивности измеряемого прибора, если он ранее подвергался испытаниям* на течь с применением радиоактивных методов;
$ — удельная радиоактивность криптона-85, мккюри/см3,, в системе активации;
k — общий КПД счета сцинтилляционного кристалла в единицах (импульсах) в минуту на один микрокюри крип- тона-85 во внутренней полости испытуемого прибора. Эта величина зависит от конфигурации испытуемого прибора и размеров сцинтилляционного кристалла. КПД счета определяют, как указано в п. 7.3.2.4;
Т — время опрессовки, в течение которого приборы должньг подвергаться активации, ч;
Р— давление при активации;
( 2)
где Ре— абсолютное давление при активации в барах;
Pi— исходное абсолютное давление во внутренней полости прибора в барах. Давление при активации Ре может быть установлено в соответствующей НТД или, если установлено приемлемое время опрессовки Т, то Ре может быть отрегулировано таким образом, чтобы удовлетворять условиям формулы (1).
Примечание. Формула (1) в своей полной форме содержит в числителе выражение P2q—(ДР)2, которое является поправочным коэффициентом на- высоту над уровнем моря, где Ро— абсолютное значение, давления на уровне моря в барах, а ДР — разность давлений в барах между действительным давлением на испытательной станции и давлением на уровне моря. При данном
испытании этот коэ
рициент не учитывают.
Определение КПД счета k
КПД счета k в формуле (1) определяют следующим образом: а) к образцу испытуемого типа прибора подсоединяют трубку, с помощью которой внутреннюю полость прибора заполняют газом-индикатором криптоном-85 с заданной радиоактивностью, затем трубку запаивают;
Ь) количество единиц (импульсов) в минуту непосредственно считывают с помощью сцинтилляционного кристалла счетчика, в котором испытывают приборы.
Определение поверхностной сорбции
Прежде чем устанавливать значения параметров герметично •сти приборов, испытываемых на обнаружение течи, для каждого типа испытываемых корпусов проводят испытания покрытий и внешних уплотнений на определение поверхностной сорбции криптона-85. Образцы приборов подвергают воздействию заданного давления в течение времени, установленного для приборов различной конструкции, как указано в пп. 7.3.2.2 и 7.3.2.3. Затем каждые 10 мин записывают значение скорости утечки до тех пор, пока она не станет постоянной. Регистрируют общее время вытекания, которое и является «временем ожидания», указанным в п. 7.3.4.
Меры предосторожности для обслуживающего персонала
Следует придерживаться действующих НТД по работе с радиоактивным газом.
Методика испытания
Приборы помещают в активационную камеру. Давление в камере понижают, по крайней мере, до 50 Па (0,5 мбар). Значения давления и времени опрессовки устанавливают в соответствии с п. 7.3.2.3.
Приборы подвергают воздействию смеси криптона-85 и сухого азота при абсолютном давлении не менее 2 бар в течение не менее 12 мин. Смесь криптона-85 и сухого азота удаляют до тех пор, пока в активационной камере не установится давление менее 0,5 мбар. Откачка должна быть выполнена в течение времени, не превышающего 5 мин.
Затем активационную камеру вновь наполняют воздухом (воздушное промывание); приборы извлекают из активационной камеры и испытывают на обнаружение течи в течение 2 ч после воздействия газа.
Время ожидания, указанное в п. 7.3.2.5, контролируют, при этом время с момента извлечения приборов из активационной камеры до начала испытания не должно ни в коем случае превышать 2 ч.
Если на тех же образцах проводят повторное испытание, то, прежде чем эти образцы вновь подвергают воздействию давления, их следует дезактивировать в вакууме в течение 8 ч.
Действительную скорость утечки (Q), бар • см3/с, рассчитывают по формуле
(
(3)
Действительное количество импульсов в минуту)XQгде Qs и J? — см. п. 7.3.2.3.
Заданные условия Предельные значения скорости утечки
Обнаружение малых течей: метод с применением газа-ин-
икатора и масс-спектрометра
Ссылка: СТ МЭК 68-2-17 (ГОСТ 28210).
Данное испытание соответствует испытанию Qk с учетом следующих специфических требований: