Страница 5: ГОСТ 26949-86. Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров непрерывных стабилизаторов напряжения (76850)

а₂— коэффициенты влияния входного и выходного напряжения на Z_Bx устанавливаются в стандартах или ТУ на НСН кон-

кретных типов;

а

Яз,

на /_вых , устанавливаются в стандартах или ТУ на НСН кон кретных типов;

«5 — коэффициент влияния тока делителя Е1 на измеряемый па­

раметр, рассчитывают по формуле

1

⁰5~ >

1+ -г^1JEl

где 1 _кот— ток потребления микросхемы при —0, устанавливается

в стандартах или ТУ на НСН конкретных типов;

1. — ток делителя Е1.

2. Интервал, в котором с доверительной вероятностью находится погреш

где п₂, я₃ — коэффициенты влияния входного и выходного напряжения и выходного тока соответственно на ток потребления, уста­навливаются в стандартах или ТУ на НСН конкретных ти­пов;

б_Р4/ — погрешность измерения измерителя РА1, %;

— погрешность установления и поддержания тока делителя и тока нагрузки соответственно, %».

(ИУС № 1 1991 г.)