Массовую долю каждой примеси (X) в процентах в анализи­руемом веществе вычисляют по формуле

у т(£кап Сккп)

где т — масса навески концентрата анализируемой пробы, г;

СКап — массовая доля примеси в концентрате анализируемой пробы, найденная по градуировочному графику, %;

Сккп — массовая доля примеси в концентрате контрольной пробы, найденная по градуировочному графику, %;

/Пі — масса навески анализируемого вещества, г.

Допускаемую суммарную погрешность определения и допу­скаемые расхождения между результатами параллельных опре­делений устанавливают в нормативно-технической документации на продукт.ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ

  1. РАЗРАБОТАН И ВНЕСЕН Министерством химической промы­шленности СССР

ИСПОЛНИТЕЛИ

Г. В. Грязнов (рукводитель темы), канд. хим наук; Т. Г. Мано­ва, канд. хим. наук; В. 3. Красильщик, канд. хим- наук; Н. П. Ни­конова; Н. И. Федосеева.

  1. УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Го­сударственного комитета СССР по стандартам от 24.12.87 № 5012

  2. ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

  3. Стандарт соответствует СТ СЭВ 5772—86.

  4. ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕН­ТЫ

Обозначение НТД, на который дана ссылка

Номер пункта, подпункта

ГОСТ 4201—76

2

ГОСТ 1Я77—75

2

ГОСТ 1770—74

2

ГОСТ 3773—72

2

ГОСТ 4160—74

2

ГОСТ 4212—76

3.1

ГОСТ 4221—76

2

ГОСТ 61709—72

2

ГОСТ'1'1125—84

2

ГОСТ 14261—77

2

ГОСТ 18300—72

2

ГОСТ 19627—74

2

ГОСТ 22516—77

2

ГОСТ 23463—79

2

ГОСТ 25664—83

2

ГОСТ 25991—83

1

ГОСТ 27025—86

1.1

ГОСТ 27068—86

2

ГОСТ 27565—87

Э.2

Редактор Н. П. Щукина
Технический редактор О. Н. Никитина
Корректор М. И. Гаврищук

Сдано в наб. 21.01.88 Подп. в печ. 17.02.88 й,75 усл. п. л. 0,75 усл. кр.-отт. 0,49 уч.-изд. л_
Тир. 5000 Цена 3 коп.

Ордена «Знак Почета» Издательство стандартов, 123840, Москва, ГСП,
Новопресненский пер., 3.

Калужская типография стандартов, ул. Московская, 256. Зак. 170

1 ПРОВЕДЕНИЕ АНАЛИЗА

В каналы электродов помещают концентраты анализируемой и контрольной проб и образцов сравнения и фотографируют спек­трограмму при силе тока 10—12 А и экспозиции 15—20 с.

Условия получения спектрограммы (тип освещения щели спектрографа, ширина щели спектрографа, размеры кратера, тип' фотопластинки, применение защитного инертного газа) должны