---

7 ОПРАЦЬОВУВАННЯ РЕЗУЛЬТАТІВ

Євід=^-100%, (4)

де t — нормований відхил;

К— коефіцієнт, що залежить від рівномірності розподілу точок перетинання ліній випробної сітки з елементами структури уздовж цих ліній і площі випробної поверхні.

У разі випробовування всієї площі шліфа коефіцієнт К дорівнює одиниці.

7.2 У таблиці 2 наведено значення нормованого відхилу t для відповідних значень довірчої імовірності Р.

Таблиця 2 — Нормований відхил t, що відповідає довірчій імовірності Р, що визначена

8 ПРОТОКОЛ ВИПРОБУВАННЯ

• — посилання на цей стандарт як методику виконання випробувань;вид продукції, від якої відібрані зразки;

• замовника випробування;

• кількість полів зору, що вимірювали;

• тип і ступінь смугастості або орієнтації структури;

• результати та похибки вимірювань;

• висновок;

• дату випробування;

• прізвище та підпис оператора.

8.2 У разі користування шкалами цього стандарту в протоколах за результатами випробувань необхідно зазначати номер бала і літерну познаку ряду, наприклад 1 А, ЗБ тощо.ШКАЛА СМУГАСТОСТІ ФЕРИТНО-БЕЙНІТНОЇ СТРУКТУРИ

Таблиця А.1

Продовження таблиці А.1

К

Бал З

інець таблиці А.1

ДОДАТОК Б
(обов'язковий)

СТАНДАРТНА МЕТОДИКА ОЦІНЮВАННЯ СТУПЕНЯ
СМУГАСТОСТІ АБО ОРІЄНТАЦІЇ МІКРОСТРУКТУР

Ця методика є тотожний переклад розділів ASTM Е1268-01, які безпосередньо стосуються методики вимірювання ступеня смугастості, оскільки цей стадарт поширюється на листовий прокат і встановлює методи оцінювання смугастості.

Б.1 Терміни та визначення понять, специфічні для цієї методики

Б.1.1 характерні перехоплення (feature interceptions)

Кількість часток досліджуваної фази, що утворює смуги, які перетинаються лініями випробної сітки (рисунок Б.1)

Б.1.2 характерні перетинання (feature intersections)

Кількість меж між матричною й досліджуваною фазами, що утворюють смуги, які перетинають­ся лініями випробної сітки (рисунок Б.1). Для ізольованих часток у матриці кількість характерних перетинань дорівнює подвоєній кількості характерних перехоплень

Б.1.3 стереологічні методи

Процедури, що використовують для визначання тривимірних мікроструктурних особливостей на основі вимірювань, проведених на двовимірних січних площинах.

Б.2 Символи

ЛЛ — кількість характерних перехоплень випробними лініями, перпендикулярними до на­прямку деформації;

Л/ц — кількість характерних перехоплень випробними лініями, паралельними напрямку де­формації;

P_L— кількість характерних перетинань меж із випробними лініями, перпендикулярними до напрямку деформації;

Рц — кількість характерних перетинань меж із випробними лініями, паралельними напрямку деформації;

М — збільшення мікроскопа;

L_t — істинна довжина випробної лінії, в міліметрах, тобто довжина випробної лінії, поділена на збільшення мікроскопа:

41=^. (Б.1)

/V_L1—кількість характерних перехоплень випробними лініями, перпендикулярними до на­прямку деформації, на одиницю довжини випробної лінії;

/V_L|i — кількість характерних перехоплень випробними лініями, паралельними напрямку де­формації, на одиницю довжини випробної лінії.

P_L1^ = 2N^, P_lii=5U2/V_lii, (Б.2)

P_L — кількість характерних перетинань меж із випробними лініями, перпендикулярними до напрямку деформації, на одиницю довжини випробної лінії;

Рі_п — кількість характерних перетинань меж із випробними лініями, паралельними напрямку деформації, на одиницю довжини випробної лінії;

.Л/_{І± =} EjV' дг ₌ , (Б. З)

п п

= = P_ui = 2X = ₂./V_ui, (Б.4)

X —середні значення (л/_ь±,Л/_и,,/_±,Р_Иі)і п — кількість полів вимірювання;

Ч 1»

Напрямок деформації

Примітка 1. Лінії випробної сітки показані орієнтованими перпендикулярно (А) до напрямку деформації і паралельно (Б) напрямку деформації. Рахування Л/₂. N_lhP_t і P_tl показане для напрямку рахування зверху вниз (А) і зліва направо (Б).

Примітка 2. Точки Т на рисунку Б.1(A) та Є на рисунку Б.1 (Б) ілюструють випадок, коли випробна лінія закінчується усередині досліджуваної фази. Точка Е на рисунку Б. 1(A) показує дотик випробної лінії до досліджуваної фази.

Рисунок Б.1 — Ілюстрація підраховування захоплень часток (Л/) і перетинань меж (Р) для орієнтованих мікроструктур

S — стандартний відхил;

t — множник, пов’язаний із кількістю досліджуваних полів, який використовують у поєднанні зі стандартним відхилом вимірювання для визначання 95 % СІ (довірчого інтервалу);

95 % СІ — 95 % довірчий інтервал:

t s

95 % СІ = ± -т=, (Б.5)

Vn

RA — відносна похибка вимірювання, у відсотках:QS о/ pi

= 100%, (Б.5)

X

SBi — середня відстань між смугами (від центра до центра):

SB, = —(Б.7) ' Чі

V., — об’ємна частка смугастої фази;

Х| — середня відстань від краю до краю смуг, середній вільний шлях:

л 1-К

= —(Б.8) N

АІ — індекс анізотропії: '-¹

Q₁₂ — ступінь орієнтації частково орієнтованих лінійних структурних елементів на двовимірній площині шліфа:

(Б.10)

₽_ы + 0,571 P_U!’

41-Чи

Ч± + °'⁵⁷¹Чіі'

Ч₂

Б.З Апаратура

Б.3.1 Апаратура — відповідно до 5.5.

Б.4 Об’єкти випробування

Б.4.1 Об’єкти випробування — відповідно до розділу 5.

Б.5 Процедура

Б.5.1 Полірований і протравлений зразок поміщають на столик мікроскопа, вибирають від повідне низьке збільшення, наприклад в інтервалі від 50^х до 200^х, і досліджують мікроструктуру. Зразок розміщують так, щоб напрямок деформації був розташований горизонтально на проек­ційному екрані.

Досліджувану зону вибирають довільно способом відповідного переміщення столика так, щоб спостереження кожного нового поля зору здійснювати без додаткового налаштування столика.

Б.5.2 Світле поле використовують для більшості вимірювань. Однак залежно від сплаву або матеріалу, який випробовують, можна використовувати інші режими освітлювання, такі як поляри­зоване світло або освітлення з диференціальним інтерференційним контрастом.

Б,5.3 Вимірювання можна проводити розміщуванням випробної сітки на мікрофотознімках, знятих від довільно обраних ділянок, за відповідних збільшень.

Б.5.4 Якісно визначають природу й ступінь смугастості або орієнтації, наявних у зразку, від­повідно до схеми рисунка Б 2. Вибирають збільшення, необхідне для ідентифікації й класифікації наявних складників.

Б.5.5 Для оцінювання орієнтації або смугастості у двофазному або багатофазному зразку виз­начають, чи розташована друга фаза переважно в матричній фазі, або ж обидві фази розташовані однорідно і визначити матричну фазу неможливо (див. рисунок Б.2).

Б.5.6 Для двофазної або багатофазної мікроструктур визначають, чи є друга фаза смугастою або орієнтованою (див. рисунок Б.2).

Б.5.7 Лінії сітки поміщають на проекційне зображення або мікрознімок довільно обраного поля так, щоб лінії сітки були перпендикулярні до напрямку деформації. Не допускають зрушення сітки в процесі вимірювання. Визначають, яка з фаз є смугастою. Якщо обидві фази є смугастими і немає явно вираженої матричної фази, вибирають одну із цих фаз для підраховування. У загальному ви­падку краще обраховувати смугасту фазу, наявну в найменшій кількості. Кількість N_bP_L або обидва значення (див. визначення Б.2) можна виміряти за допомогою орієнтованої сітки перпендикулярно до (1) і паралельно (II) напрямку деформації, залежно від мети вимірювання.ДСП / 7214:201'1

Б.5.8 Вимірювання N_LS

Випробну сітку розташовують перпендикулярно до напрямку деформації і підраховують кіль­кість смуг досліджуваної фази, захоплених випробними лініями, Л/_±. Для двофазної структури підраховують всі захоплення досліджуваної фази, тобто ті, які дійсно є частиною смуг, і ті, які не є.

Рисунок Б.1 ілюструє процедуру підраховування, а у Б.5.12 наведено правила підраховування. Підраховують кількість захоплень на одиницю довжини випробної лінії, перпендикулярно до на­прямку деформації, A/_{l l} за формулою:

(БИ)

Символи A/_l±, Nj , і L_t визначені у Б.2. ^f

Б.5.9 Вимірювання A/_L)1

Випробну сітку повертають і уміщують у те саме поле і положення, що й для вимірювання N_± так, щоб випробні лінії були орієнтовані паралельно напрямку деформації. Лінії сітки не орієнтують за якоюсь особливою деталлю мікроструктури. Підраховують кількість смуг або часток досліджуваної фази, захоплених випробними лініями /V_N (аналогічно описаному в Б.5.8), незалежно від того, є вони явно частиною смугастої зони чи ні. Кількість захоплень на одиницю довжини випробної лінії паралельно напрямку деформації, /V_L1t, підраховують за формулою:

(Б. 12)

^Lt

Символи /V_Li|, Л/ц, і L_t визначені у Б.2.

Б.5.10 Вимірювання P_L±

Випробну сітку розташовують перпендикулярно до напрямку деформації і підраховують кіль­кість перетинів лініями сітки меж смуг або досліджуваних фаз, Р_±. Підраховують тільки точки пере­тину пініями випробної сітки меж, які відділяють смуги, або досліджувані фази одну від одної і не підраховують точки перетину меж усередині смуг або досліджуваної фази.

Дотичні покази приймають одним перетином. У Б.5.11 наведено правила підраховування, а рисунок Б.1 ілюструє процедуру підраховування. Кількість перетинів меж на одиницю довжини перпендикулярно до осі деформації, Р_и, підраховують за формулою:

р.

^.-Г- (Б.13)

ч

Символи P_LJ_, Р_± і L_t визначені у Б.2.

Б.5.11 Вимірювання P_ut

Випробну сітку повертають і уміщують у тому самому полі та положенні, у якому вимірюють Р_х, так, щоб лінії сітки орієнтувалися паралельно напрямку деформації, і підраховують кількість перетинів всіх меж смуги або досліджуваних фаз, Рц, лініями випробної сітки (аналогічно Б.5.10). Кількість перетинів із межами на одиницю довжини випробної лінії паралельно напрямку дефор­мації, P_Li|, розраховують за формулою:

(Б.14)

Символи P_LM, Рц і L_t визначені у Б.2.

Б.5.12 Правила підраховування N-захоплень і Р-перетинів

Б.5.12.1 N-захоплень

Підраховують кількість смуг або досліджуваних фаз, захоплених лініями випробної сітки.

Б.5.12.2 Р-перетинів

Підраховують кількість точок перетинання смуг або досліджуваних фаз лініями випробної сітки.

Б.5.12.3 Якщо дві або більше дотичні частини досліджуваної фази перетинаються лініями випробної сітки (при цьому ніякі інші фази між цими частками не перетинаються лініями сітки), їх підраховують як одну захоплену частину (Л/ = 1). Для вимірювання Р-перетинів не рахують точки перетинів меж лініями випробної сітки усередині смуг або досліджуваних фаз.+ — довжина/ширина

* — або складник

Рисунок Б.2 — Схема якісної класифікації для орієнтованих або смугастих мікроструктур

ДСТУ 7214:2011

Б.5.12.4 Якщо випробна лінія сітки дотична смуги або частини досліджуваної фази, Л/ рахують як І4, а Р — як 1.

Б.5.12.5 Якщо випробна лінія закінчується усередині фази або смуги, N рахують як 7, а Р — як 1.

Б.5.12.6 Якщо вся випробна лінія повністю розташована усередині смуги або досліджуваної фази, N рахують як 'Л, а Р— як 0.

Примітка. На рисунку Б.1 показано деякі з цих правил підраховування.

Б.5.13 Ці вимірювання повторюють принаймні на п’яти полях зору на зразок. Кожне поле вибирають випадковою вибіркою. Якщо виявляють, що стан смугастості суттєво змінюється по по­здовжньому перетину, вимірювання можна провести в конкретних місцях по перетину, наприклад у підповерхневій зоні, в вісній зоні або в інших характерних місцях за товщиною листа.

Б.6 Опрацьовування результатів

Б.6.1 Після того як бажану кількість полів зору п виміряно, розраховують середнє значен­ня кожного вимірювання діленням суми вимірювань на п, щоб визначити середнє значення N_u , /V_LII,P_L, P_Ui для кожного типу смуг. Для смугастої мікроструктури N_L±є мірою кількості смуг на міліметр (половина РГ_± приблизно дорівнює Л£_Л).