---

площадь излучающей поверхности излучателя, мтС.34 OCT 92-9698-91

О¹

(У5

З,5,Математическая модель облученности поверхности всего изделия от имитатора инфракрасного излучения определяют по формуле

іїам. hue. і »івв. As ду&л.і Подп. и Дїтї

I = 1,2,... М

где Qkkv “ плотность падающего на 6-ю зону поверхности испытываемого блока теплового потока от имитатора инфракрасного излучения в целом, Вт/м²;

By - коэффициент;

By =1, если излучатель работоспособен,

By = 0, если - неработоспособен,

- ¹ Ї£ - площадь і -й зоны поверхности испытываемого блока,
Si к ~ площадь к-й элементарной площадки, на которые условно
разбивается поверхность L -й зоны, м²;

Q<X,K_tj - плотность падающего на К-ю элементарную площадку 6-й зоны с центром в точке "а” теплового потока от J -го излучателя Вт/м².Определяют по формулам (5)-(7);

JV - количество излучателей в имитаторе инфракрасного излучения;

/7 - количество зон, выделенных на поверхности испытываемого блока;

^sl~ ^{колич&ство} элементарных площадок, на которые условно разбивается L -я зона.

; _J 3.6.Математическая модель настройки имитатора инфракрасного излучения на объект сложной формы•определяют по формуле

27 - П70Г? Л? (Qmpefy L ~ QИ ХИ,

іOCT 92-9698-91 С.35

где

]) ~ целевая функция;

весовой коэффициент, учитывающий требования по точности настройки имитатора;

Р_т^_пР ^пР⁰Д^0льше значения подводимой к излучателям
^f " имитатора инфракрасного излучения
электрической мощности, Вт;

-

гпр.с

требуемое значение плотности теплового потока, которое необходимо подвести к < -й зоне в процессе испытаний, требования по точности имитации* Вычисляют по формуле (4).

- обеспечиваемая имитатором инфракрасного излучения .плотность теплового потока подводимого к 4-й зоне.

Вычисляют по формуле (8).

Насчитанные значения электрических мощностей заносятся в память управляющей ЭВМ и в соответствий с циклограммой испытаний воспроизводятся в автоматизированном режиме

.З.Ю.По завершении работ в соответствии с.разделами 2 и 3 настоящего приложения заканчивается этап подготовки к испытаниям. Испытываемый блок устанавливают в камеру, монтируют имитатор инфракрасного излучения, системы управления имитатором и измерения тепловых потоков^

4. МЕТОДИКА ИМИТАЦИИ СОЛНЕЧНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ

4*1.В процессе тепловакуумных испытаний в соответствии с разделами 2 и 3 настоящего приложения имитатор солнечного излучения должен обеспечить эксплуатационную величину поглощаемого каждым участком внешней поверхности изделия прямого солнечного излучения.

покрытий, нанесенных на поверхность испытываемого изделия.

ПО формуле

/7/и

Псдп. и дата I Зэам. ин в, -Nfe І Мяв* -Ns дубл.| Подл. н дгт*

£

(10)

IL)

MRL

^(i^Lj-FCLfi^^Kid)

1'1

где d^_L~ поглощательная способность 6-го терморегулирующего покрытия в условиях эксплуатации;

~ поглощательная способность 6-го терморегулирующего покрытия в условиях испытаний на. первом режиме коррекции;

в(Ш)- весовой коэффициент, учитывающий требования по точности имитации на R - м режиме испытаний в 1- й отрезок времени; ■

/7 R L - количество участков поверхности с различными терморегулирующими покрытиями, облучаемых, солнечным потоком на К - и режиме испытаний в I -й отрезок времени;

Р(і.К L) ~ площадь поверхности изделия с 6-м терморе гулирующйм ’ покрытием на В-м режиме испытаний в 6-й отрезок времени;

^КТ ^{плотность} теплового потока, подводимого к изделию от

имитатора солнечного излучения в соответствии с требованиями г ^:. испытаний на К - м

р

ф. 7Ю;

зви. 707.:

ежиме испытаний в L - й отрезок времени .

/Ж

<1G (“.'ЗО/ 'ялс fiiHZ 'Ф

С.38 OCT 92-9698-91

4,9..Подводят к изделию тепловой лоток, определенный в соответствии с п.4,8. 1 •

' ^: 4.10.Действующие значения поглощательной способности терморегулирующих покрытий определяют' по пп.4.6 и 4.7.

4.II.Окончательное значение теплового потока подводимого к изделию от имитатора солнечного излучения определяют по формуле

- действующая поглощательная способность

терморегулирующего покрытия на втором режиме

коррекции;

плотность теплового потока от имитатора солнечного излучения на втором, окончательном, режиме коррекции на R-м режиме испытаний в - й ’

отрезок времени.

О

Ии в, Л2 подл. | Подл» а дата 1 Взам. BBS. J£| И яв. jft дувл,| Подо,

СТ 92-9698-91 0.39

ПРИЛОЖЕНИЕ 3 Обязательное

МЕТОДИКА ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОГЛОЩАТЕЛЬНОЙ И ИЗЛУЧАТЕЛЬНОЙ СПОСОЖОСТИ СЕЛЕКТИВНЫХ ТЕРМОРЕГУЛИРУКЩИХ ПОКРЫТИЙ НА КОНСТРУКЦИОННЫХ МАТЕРИАЛАХ ОРБИТАЛЬНЫХ СРЕДСТВ В ПРОЦЕССЕ ТЕПЛОВАКУУМНЫХ ИСПЫТАНИЙ • *. 1 _t

І.Для каждого типа терморегулирующих покрытий, в том числе и для теплоизоляционных материалов, с учетом материала подложки, по штатной технологии изготавливают образцы-свидетели. Образец представляет собой плоскую .пластину размерами 150x150x10 мм.

На расстоянии 2,5 - 10 мм от исследуемой поверхности устанавливают датчик температуры, в случае тонкого образца, датчик температуры устанавливают на тыльной стороне пластини и покрывают от 10 до 20 слоев ЭВТИ. Образец помещают в медную ячейку и закрепляют таким образом, чтобы обеспечить плотный контакт боковой поверхности образца и ячейки. Температура ячейки может изменяться с помощью электронагревателя, снабженного автоматическим терморегулятором.

В центре перед образцом на расстоянии 10 мм от поверхности образца устанавливают оснащенные датчиками температуры две металлические пластины диаметром от 5 до 6 мм. На эти пластины наносят терморегулирующие покрытия, различающиеся между собой отношением

П ример : На первую пластину наносят эмаль АК-5І2 черную, а на вторую эмаль АК-5І2 белую, для которой отношение составляет соответственно 1,0 и 0,35.

Рядом с образцом в плоскости исследуемой поверхности образца устанавливают две металлические пластины, на лицевые стороны которых наносят те же покрытия, что и на пластины, установленные перед образцом. Тыльные стороны этих пластин покрывают от ТО до 20 слоев ЭВТИ, а температуру измеряют с помощью датчиков,-

и г**^ЗНИ I ’^яни ixtif и *аіго£і л/ігіґсіі

СЛ0 OCT 92-9698-91

2.Исследуемые образцы размещают в рабочей зоне ТВК, затем камеру вакуумируют до давления І.З'ІСГ^ Ha ( Р юЫСГ⁴ мм рт.ст.), криогенные экраны захолаживают до T=I00jK- После выхода установки на. режим измеряют температуру дополнительных пластин. Среднюю радиационную температуру криогенных экранов, которая в данном случае будет равна температуре пластин, определяют из уравнений теплового баланса:

' &чер'доп^а (ЪгФ.дм. Ъкр)~О_}

где (5^7 “ постоянная Стефана,-Больцмана излучательная способность белого покрытия на дополнительной пластине;

^vqo.do/r- излучательная способность черного покрытия на дополнительной пластине;

Т&ел.двп,- температура дополнительной пластины с белым покрытием;

Тчер.Эол. - температура дополнительной пластины с черным покрытием;

Тэкр. - средняя радиационная температура криогенных экранов.

3.Включают имитатор солнечного излучения, в процессе нагрева, образцов измеряют их температуру и температуру металлической ячейки. Одновременно с помощью электронагревателя поддерживают температуру ячейки равную температуре образца. После выхода температуры образца на стационарный режим измеряют величину падающего на образец и дополнительные пластины лучистого потока от имитатора солнечного излучения

.

Ин в» № подл. Подп* Я дата j Вэам. нив. *&| Йяв. JA дуба>| Пцщ, а дан

С.42 OCT 92-9698-91

5.Поглощательную и излучательную способности образца определяют по формулам

Л . 2.(^1 “ Лд ГЛл) Г_зкр. (J7)

⁼ (К^Ъ) То⁴ '

, 8о&о (Т<3 - ^гэхр.) (18)

’ °SO ~

г де - излучательная способность поверхности образца;

<Xjj0 - поглощательная способность поверхности образца, относительно лучистого потока от имитатора солнечного излучения;

’ Т_о - температура образца;

Sq - плотность падающего лучистого потока, от имитатора солнечного излучения на. образец.

6

подл, Подп. и даті | Взам. ияв. М[ Икв. № дубя.} Пода, п диа

.Измерение действующих значений поглощательной

и излучательной способностей терморегулирующих покрытий необходимо проводить перед каждым режимом испытаний й после его окончания.?.ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ

I.УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ приказом ГТУ Министерства _ч Л? і;88 от 29.11.91. ■ < .. .

2

от 1991 г

.ЗАРЕГИСТРИРОВАН ЭНИИСОТ ЗА Ж

З.Срок первой проверки стандарта 1997 г.

Периодичность проверки стандарта - каждые 5 лет

4.ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ.

■ 5.ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕНТЫ

И н TL ЛЁ л о д л.'Поди, я дата ' Взам, ицв. ЛБ Инв> ЛЬ дуДд,і Псдп. л дата